PL大相位双折射应力仪WPA-200系列

应力双折射测试仪器

大相位应力双折射测试仪器

应力双折射仪简介：

PHL应力双折射仪，能够快速、jing准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

联系电话：01051528178.

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术**世界，并由此开发出的测量仪器。

Photonic-lattice应力双折射仪主要产品分四部分：

光子晶体光学元件；

双折射和相位差评价系统；

膜厚测试仪；

偏振成像相机。

应力双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-L，

WPA系列的应力双折射测试仪能够快速、jing准测量双折射相位差及其空间分布和方向。WPA系列的应力双折射测试仪是专门用于大相位差几千纳米范围内的样品的测试，它能够测量出样品的相位差分布。

主要参数表

应力双折射仪应用领域：

玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等。