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背照式CCD面阵传感器 S11851-1106

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产品特点


降低标准具效应、象元温度恒温控制
S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。两种类型可选,一种是低噪声类型(S11850-1106),一种是高速型 (S11851-1106),它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段,它们具有几乎平滑的光谱响应特性,还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器,可以保持象元温度在工作时恒定(约5摄氏度)。


详细介绍

详细参数
图像尺寸 28.672 x 0.896 mm
有效像素个数 2048 x 64 pixels
像素尺寸 14 x 14 μm
光谱响应范围 200 to 1100 nm
帧速率(典型值) 651 frames/s
线速率(典型值) 651 lines/s
线速率(最大值) 2875 line/s
暗电流(典型值) 50 e-/pixel/s
读出噪声(典型值) 23 e- rms
制冷 One-stage TE-cooled
窗材料 Quartz glass
封装 Metal
测试条件 Typ. Ta=25 ℃, unless otherwise noted, frame rate: full line binning, Dark current: MPP mode
制冷 14 μm
类型 低标准具效应型
感光面积 28.672 x 0.896 mm
封装 金属
饱和电荷量(典型值) 60 ke-

产品特性

 降低标准具效应


 平滑的响应曲线


 一级温度控制


 CCD结灵敏度高: 8 μV/e-


 高满井容量,宽动态范围(带抗溢流功能)

光谱响应



外形尺寸(单位:mm)

相关下载

Image sensors / Precautions [621 KB/PDF]

Image sensors / Selection guide [15.34 MB/PDF]

FFT-CCD area image sensor / Technical information [447 KB/PDF]

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