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紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 C12132-36
- 品牌：日本滨松
- 型号： C12132-36
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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滨松光子学商贸（中国）有限公司
更新时间：2024-02-04 13:42:48 -
企业性质生产商
入驻年限第9年
营业执照已审核
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联系方式：滨松客服400-074-6866
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- 详细介绍
- 详细参数
型号 C12132-36 激发波长 532 nm 输出功率 30 mW 脉冲宽度 <1.0 ns 重复率 15 kHz 激发光强调整功能 Automatic control by software 灵敏波长范围 380 nm to 1650 nm (as detector alone) 测量波长范围 580 nm to 1650 nm (with YAG laser 532 nm) 时间分辨率 < 1.0 ns FWHM 测量时间范围 4 ns to 10 s （with YAG LASER 532 nm 4 ns to 50 μs） 时间轴通道数 1024 ch 总时间分辨率 < 1.0 ns FWHM (as FWHM of IRF with YAG LASER 532 nm) 激光等级 Class 1 操作系统 Windows 7 (32 bit)，(64 bit) Windows 10 (64 bit) 环境工作温度 +10 °C to +30 °C 环境工作湿度 30 % to 80 % (with no condensation) 环境存储温度 -10 °C to +50 °C
外形尺寸（单位：mm）
- 产品优势
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用于测量光伏材料的光致发光（PL）寿命
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Lifetime）而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。
C12132-36符合激光类1，可以在激光控制区外使用。
- 技术资料
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