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平面显示器(FPD)大尺寸样品专用测试仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 货号:
- 产地:
- 供应商报价: 面议
- 上海瞬渺光电技术有限公司 更新时间:2022-01-12 15:50:35
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企业性质
入驻年限第10年
营业执照
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- 详细介绍
产品特点:
从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等,皆秉持一贯的品质自行完成。
面对市场多元化的需求,以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后服务,提供最完善的膜厚解析方案。
显示器面板膜厚分析设备FEseries:
解析面板显示器制程中持续进化的各种薄膜:
高精度测量各种玻璃基板上的多层膜及光学常数。zuixin的10代基板尺寸,LCD、TFT、PDP、OLED(有机EL)等制程所需的膜层解析皆有完整的解决方案。
用途:
LCD ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass TFT SiN/a-SI/Glass OLED OLED/ITO/Glass PDP 诱电体层/Glass 半导体膜厚分析设备FEseries:
对应φ300mm晶圆的全自动搬送系统:
可搭配各种Load/Unload搬送规格,从R&D到生产线皆可灵活运用的膜厚解析系统。1件样品中,测量5个点位仅需30秒以下的高速膜厚评价。
应用:
Si半导体晶圆膜 SiO2/Si、Resist/Si、SiO2/a-Si、SiO2/SiN/SiO2 半导体膜 TEOS、SiNX、SiOx等 化合物半导体 GaAs、GaN、InGaAs等 其它 光学材料、诱导体材料、金属膜等