"GRAND ARM™2更新了。实现在宽范围加速电压内，超高空间分辨率下高灵敏度分析。
主要特点
1. FHP2 新型物镜极靴
保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。
2. 新型屏蔽体
TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。
3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™
快速准确的像差校正
4. 稳定性提高
CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM 的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
主要特点
1. 超高空间分辨率下高灵敏度EDS分析
标配新型物镜极靴FHP2
* 与之前的FHP相比，FHP2 x射线检测率提高2倍以上
* 利用低色差和低球差系数的光学常数，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率和高灵敏度的x射线分析（STEM分辨率：53pm@300kV、96pm@80kV）
2. 可配备高灵敏度x射线分析的物镜极靴WGP
采用大间隙WGP：
上限面积的SDD更接近样品，可以进行超高灵敏度的x射线分析（立体角2.2sr）
* 可以使用厚的样品杆，进行各种各样的观察实验
3. 设备主体与球差校正器一体化
* 采用FHP2，300kV下，STEM空间分辨率53pm；
* 采用WGP，300kV下，STEM空间分辨率59pm
4. 标配冷场发射电子枪 (Cold-FEG)
5. 配备减轻外部环境干扰（气流、室温、噪音）的外壳
报价：面议
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日常使用的SEM，好用！ 该设备ZG分辨率1nm、ZD探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强，可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域，可GX观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流，EDS和EBSD分析速度极快。 另外JSM-IT800系列还搭载了众多全新研发的电子光学技术，自动化程度极高。
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术，具有高灵敏度和高分辨率，设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全单独的，杜绝了污染，更好的保护超真空系统。
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率：下限束斑直径3nm（二次电子图像）和8nm（俄歇电子图像）。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器（HAS）优化了俄歇分析，适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
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