-
-
双折射/残余应力测量仪WPA-NIR
- 品牌:日本Photonic Lattice
- 型号: WPA-NIR
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 北京欧屹科技有限公司 更新时间:2023-08-03 14:42:38
-
企业性质
入驻年限第10年
营业执照
- 同类产品测量仪(14件)
-
为您推荐
- 双折射/残余应力测量仪WPA-NIR 核心参数
- 详细介绍
WPA-NIR
主要特点:- 红外波长的双折射/相位差面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
主要功能:高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
测量数据的保存/读取简单快捷
全部的测量结果都可以做保存/读取,易于跟过去的测量结果做比较等
丰富的图形创建功能
可以自由制作线图形和直方图
测量结果可以在一个图形上做比较,也可以用CSV格式输出
主要参数:实际测量对比:
- 产品优势
- 硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布,安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View,可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
仪器种类: | 台式 |
- PL大相位双折射应力仪WPA-200系列
- PL显微大相位差双折射应力仪WPA-Micro
- 应力双折射仪PA-300-L
- Thorlabs双折射成像显微镜,手动物镜安装臂
- Thorlabs 双折射成像系统 型号LCC7201B Ø20mm视场
- 美国Hinds 双折射显微成像系统(abrio替代产品)
- 美国Hinds 非球面透镜应力双折射测量系统
- 美国Hinds 150AT应力双折射测量系统
- 应力双折射测量系统
- 美国 Hinds 双折射(应力)测量系统-EXICOR OIA
- 美国 Hinds 双折射(应力)测量系统EXICOR-150AT
- 美国Hinds 双折射(应力)测量系统 EXICOR-GEN