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残余应力双折射仪WPA-200-L

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残余应力双折射仪WPA-200-L 核心参数
仪器种类: 台式 测量范围: 0-3500nm
准确度: <1nm(西格玛)
详细介绍



WPA-200-L

主要
特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 可测样品尺寸更大。


主要应用:
 

· 光学零件(镜片、薄膜、导光板)

· 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)

· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

· 有机材料(球晶、FishEve)

 技术参数

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】


2

测量波长

520nm、543nm、575nm


3

双折射测量范围

0-3500nm


4

测量最小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

<1nm(西格玛)


6

视野尺寸

33x40mm-240×320mm(标准)


7

选配镜头视野

3×4-12.9×17.2mm


8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


测量案例:


产品优势
WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其领xian世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的wan能机器,zui适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
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