扫描电子显微镜-量子超高分辨场发射扫描电子显微镜 SEM5000X
扫描电子显微镜-量子场发射扫描电子显微镜 SEM4000Pro
扫描电子显微镜-量子高速扫描电子显微镜 HEM6000
扫描电子显微镜 SU3500
扫描电子显微镜 S-3700N
主要特点
1. 浸没式schott-plus场发射电子枪
电子枪与低像差聚光透镜结合实现了高亮度。即使低加速电压下也能获得充足的入射电流(100nA@5kv), 不需要切换物镜就能进行高分辨观察、高速元素面分析、EBSD分析、软X射线分析。

2. Neo Engine(New Electron Optical Engine)
配备本公司电子光学技术精华的新一代电子光学控制系统。即使条件变更时也可以进行稳定的观察。另外,自动功能等的易用性也大幅度提高了。
AFS ACB

样品:碳上的锡纳米颗粒
加速电压:15kV,WD:2mm,观察模式:BD,检测器:UED, 倍率:x200,000
3. SEM Center / EDS一体化
操作导航“SEM Center”与本公司生产的EDS进行了全面集成,更易于操作。此外,还配备了帮助初学者进行电镜操作的小型导航系统(可选),以及便于实时图像观察的Live - AI (Live Image Visual Enhancer-AI)过滤器(可选)。

4. HL(Hybrid Lens)和 SHL(Super Hybrid Lens)
以电磁场重叠型物镜为基础设定了2种物镜,可以按客户的需求选择。这样磁性材料、绝缘材料等各种样品都能观察和分析。

5. 高位检测器UHD (Upper Hybrid Detector)
SHL物镜里标配高位检测器,大大地提高了样品产生的电子检测率,能够采集到高S/N的图像。

6. 新型背散射电子检测器
闪烁体背散射电子检测器(SBED、选配件)响应性能优越,适用于低加速电压下材料衬度像的采集。多用途背散射电子检测器(VBED、选配件)适用于3D、凹凸等特色图像的采集。

报价:¥3800000
已咨询802次SEM 扫描电子显微镜
报价:面议
已咨询4727次扫描电子显微镜
报价:面议
已咨询2883次场发射
报价:面议
已咨询1332次场发射扫描电镜SEM4000
日常使用的SEM,好用! 该设备ZG分辨率1nm、ZD探针电流300nA(之前的15倍),可提供丰富的观测和分析信息,用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强,可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域,可GX观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流,EDS和EBSD分析速度极快。 另外JSM-IT800系列还搭载了众多全新研发的电子光学技术,自动化程度极高。
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术,具有高灵敏度和高分辨率,设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全独立的,杜绝了污染,更好的保护超真空系统。
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率:zui小束斑直径3nm(二次电子图像)和8nm(俄歇电子图像)。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器(HAS)优化了俄歇分析,适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品,该设备在性能上有了进一步的提高,无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。
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