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北京天美 荧光分布成像系统

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详细介绍

       以360 nm~700 nm波长范围的光以及白色光作为照射样品的入射光,测试样品光学性能。结果得到在不同光照条件下,相机拍摄的样品图像和检测样品的三维荧光光谱、反射光谱和量子效率等数据。



  使用EEM View附件测试,结合软件分析,可以显示放大图像及每个区段的反射、荧光光谱。



  可以通过反射光成分图像和荧光成分图像的对比,确认检测面内光学特性(图像图案)的差异。


产品优势
以360 nm~700 nm波长范围的光以及白色光作为照射样品的入射光,测试样品光学性能。结果得到在不同光照条件下,相机拍摄的样品图像和检测样品的三维荧光光谱、反射光谱和量子效率等数据。
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