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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
- 品牌：广州标旗
- 型号： Planum-3000
- 产地：广州
- 供应商报价： 面议
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广州标旗光电科技发展股份有限公司
更新时间：2022-01-07 14:45:43 -
企业性质生产商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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- 详细介绍
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
仪器用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度反射率、相对反射率、透射率测量、偏振光测量、膜性测量、颜色测量等。
仪器特点 自定义多角度透反射测量
测量对象：
技术参数
型号 Planum-3000 探测器 Hamamatsu背照式CD阵列 检测范围 380-1100nm 波长分辨率 1nm 信噪比(全信号) 1000: 1 相对检测误差 <0.2%(410-900nm ) 操作方式 自动 角度分辨率 <0.0002° 重复定位精度 <0.005° 旋转速度上限 25%/s 透射测量角度 0-80°(小样品0-50°) 反射测量角度 5-80° 单次测量时间量 <1s S/P光测量 支持 样品尺寸 >φ3mm 操作系统/接口 Windows7~Windows10/USB2.0 电源/功率 220V-5OHZ/100w 其它 可自定义打印报表格式，开放式光学材料数据库 - 产品优势
- Planum-3000平面光学元件光谱分析仪可针对平面光学元件反射率、透射率、偏振光、膜性、颜色等进行多角度快速测量。适用于棱镜、平行平板、平晶、滤光片、红外截止片等众多类型光学元件参数测量。
- 技术资料
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