薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn

仪器简介：

1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。

技术参数：

活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200~ 35(根据膜的类型)
光斑尺寸 20 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

主要特点：

尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量迅速，操作简单

非接触式，非破坏方式

的重复性和再现性

用户易操作界面

每个影像打印和数据保存功能

可测量多达3层

可背面反射