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仪器网>产品中心> 北京博德恒悦科贸有限公司>>X射线荧光光谱分析专用标准物质

X射线荧光光谱分析专用标准物质

¥10000 (具体成交价以合同协议为准)
ARMI RoHS/RoHS 2026-04-23 16:53:52
售全国 入驻:11年 等级:认证 营业执照未审核
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产品详情:






X射线荧光光谱分析专用标准物质

制造商:美国ARMI公司
主要分析方法:X射线荧光法
用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。

美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.

PE Materials


Br

Hg

Cr

Pb

Cd

PE-H-04A-ppm

1100

1100

1001

1200

300

PE-L-04A- ppm

502

201

400

400

100

PE-02A- ppm

0

0

0

0

0

PACK-High - ppm

-100

-100

-100

-100

PACK-Low - ppm

-30

-30

-30

-60


SAC305 & SAC405 Check Set


Sn

Pb

Cu

Bi

Ag

Hg

P

SAC305- % wt

1100

1100

1001

1200

300

0.0016

0.004

SAC405- % wt

502

201

400

400

100

0.0002

0.006


PVC Materials


Br

Hg

Cr

Pb

Cd

PVC-H-03A- ppm

1101

1101

1001

1201

300

PVC-L-04A- ppm

500

200

400

400

100

PVC-01A- ppm

0

0

0

0

0


XRF Glasses*


Br

Hg

Cr

Pb

Cd

BR-ROHS 1/3- ppm

0

0

0

0

0

BR-ROHS 2/3- ppm

1000

0

1000

1000

100

BR ROHS 3/3- ppm

5000

0

5000

5000

1000


*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%

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