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正面探针型冷热台

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正面探针型冷热台 核心参数
制冷方式 半导体或液氮制冷 温度范围 -190℃~600℃,-50℃~120℃
控温精度 ±0.1℃ 温度分辨率 0.1℃

产品特点

1.适合测试探针需要接触到样品正面的情况,测试探针可前后伸缩和自由转动,因此使用起来灵活方便。
2.根据探针和样品的接触状况,可选择不同材质和触点形状的探针。

详细介绍

一、产品简介

适合测试探针需要接触到样品正面的情况,测试探针可前后伸缩和自由转动,因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况,可选择不同材质和触点形状的探针。


二、产品参数

正面探针.png

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