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美国赛默飞FEI Axia ChemiSEM 智能型钨灯丝扫描电镜
品牌:赛默飞世尔
型号:Axia ChemiSEM
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赛默飞 Quattro-环境扫描场发射电镜
品牌:赛默飞世尔
型号:Quattro
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赛默飞 Apreo 2 超高分辨场发射扫描电镜
品牌:赛默飞世尔
型号:Apero 2
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赛默飞世尔 Thermo Scientific™ Nexsa G2 表面分析系统
品牌:赛默飞世尔
型号:Thermo Scientific™ Nexsa G2
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AXIS NOVA X射线光电子能谱仪
品牌:日本岛津
型号:
- 产品品牌
- 不限
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岛津X射线光电子能谱仪 AXIS Supra
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: AXIS Supra
- 产地:英国
2014年5月,Kratos公司隆重推出zuixin型的高度智能化的超高性能XPS谱仪——Axis Supra,并在短短的两个月的时间内,成功地在全球范围内销售了10台Axis Supra型XPS谱仪。技术特点: Axis Supra继续采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度,同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器,可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端,Axis Supra采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代Z
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苏州华萃经济型X射线光电子能谱仪
- 品牌:苏州华萃仪器
- 型号: RB-XPS150
- 产地:苏州
分析腔室能够维持真空环境; 分析腔室中配备单色Al Ka阳极X射线源、电子束中和系统、全自动五轴样品台、氩离子溅射枪、仪器操控需要计算机及软件系统。
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美国赛默飞 X射线光电子能谱仪 Nexsa
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Nexsa
- 产地:美国
Thermo Scientific Nexsa X射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身,用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析,从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
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JED-2300T 能谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JED-2300T
- 产地:日本
JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。
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美国赛默飞 Thermo Scientific QuasOr电子背散射衍射
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Thermo Scientific QuasOr
- 产地:美国
电子背散射衍射 EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析,特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时,其渐已成为电子显微实验室中常规的分析手段之一。
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美国赛默飞 X射线光电子能谱仪 EscaLab Xi+
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: EscaLab Xi+
- 产地:美国
X射线光电子能谱仪ESCALAB Xi+是研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后,具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置,带给用户的是的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。
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美国赛默飞 X射线光电子能谱仪 K-Alpha
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: K-Alpha
- 产地:美国
备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪(XPS)集合了的性能、快速分析及杰出的灵敏度、分辨率等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化*结合,尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性,可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱
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布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Quantax XFlash系列
- 产地:德国
核心参数产地类别:进口能量分辨率:<129 eV峰背比:20000:1最 大计数率:1500 kcps元素检测范围:Be-Cf探测器面积:10-300 mm²窗口类型:超薄聚合物窗/无窗可选适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了最 优的信号采集角和检出角全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,完 美匹配低电压分析可定制无窗探测器进一步提高低能端的检测性能强大的混合脉冲处理器,可输出计数率为600kcps易用而强大的ESPRIT软件,支持在线和离线数据分析
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布鲁克 QUANTAX EDS 能谱仪(TEM)
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Quantax透射能谱系列
- 产地:德国
核心参数产地类别:进口能量分辨率:<129 eV峰背比:20000:1最 大计数率:1500 kcps元素检测范围:Be-Cf探测器面积:10-300 mm²窗口类型:聚合物超薄窗/无窗可选清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像,我们的软件保存每个像素的谱图和定量分析所需的所有元数据,用于之后的检测和处理。适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS 几何构型确保了MAX信号采集
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布鲁克 平插式能谱仪FlatQUAD
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: QUANTAX FlatQUAD
- 产地:德国
核心参数产地类别:进口能量分辨率:<129 eV峰背比:20000:1最 大计数率:4000 kcps元素检测范围:B-Cf探测器面积:10-300 mm²窗口类型:无窗QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM极靴和样品之间,在EDS测试中实现Max固体角。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 分析软件套件相结合,即使是对于最困难的EDS样品,
- X射线光电子能谱仪
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