供应商：香港电子器材有限公司

产品简介厚度测量产品    F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）可测模层 : 平整，半透明，吸光薄膜。如： SiO2， SiNX， DLC，光刻胶， 多晶硅，无定型硅，硅片。 基底层     : 平整，反射基底。如需测量光学系数，则需要平整镜面反射基底，如果基片是透光的，基片背面需要做反光处理。可用基底例如  :Si， Al， GaAs， 钢， 聚碳酸脂Polymer film，聚合物薄膜  Polycarbonate。　　 F30 系列: 光谱反射率系统F40 系列: 显微镜斑点测量系统监控薄膜沉积，有力的工具F30光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均匀性。　样品层分子束外延和金属有机化学气相沉积:可以测量平滑和半透明的，或轻度吸收的薄膜。这实际上包括从氮化镓铝到镓铟磷砷的任何半导体材料。　各项优点:极大地提高生产力低成本 —几个月就能收回成本A精确 — 测量精度高于 ±1%快速 — 几秒钟完成测量非侵入式 — 完全在沉积室以外进行测试易于使用 — 直观的 Windows™ 软件几分钟就能准备好的系统F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言，F40 能简单地固定在 c 型转接器上，这样的转接器是显微镜行业标准配件。 F40 配备的集成彩色摄像机，能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样，F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。   　F50 系列: 自动化薄膜测绘系统F60 系列: 生产环境的自动测绘系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta平台可接受标准和客制化夹盘，样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的，您也可以创造自己的测绘方法，并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。 不同的 F50 仪器是根据波长范围来加以区分的。 标准的 F50是的产品。 一般较短的波长 (例如， F50-UV) 可用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。 不同的 F60-t 仪器根据波长范围加以区分。 较短的波长 (例如， F60-t-UV) 一般用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。　  F3 – XXT  芯片厚度厚度测量仪 先进的测量系统使测量芯片厚度高达3mm，同时保持0.4%误差的准确度。配合系统小于25um的光斑下，可测量高度粗糙和不规则的材料。可容纳从1mm至300mm大小的样品。　

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摘要RX-400在线式红外线油膜测厚仪是一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。 产品级别 高端在线 适合行业 硅钢、耐指纹板、冷轧板、汽车涂油板等在线钢铁涂油量的检测 样品状态 硅板表面氧化膜 产品用途 （1） 钢板上氧化膜厚度检测 （2） 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测 （3） 高功能薄膜的涂层厚度检测 （4） 复合薄膜的各层厚度检测 主要特征 （1）与X射线比较设备价格低； （2）适于在线测量，可以距离钢板等40mm检测； （3）精度高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度。 技术参数 测量说明 测光方式 红外反射吸收方式 分光方式 旋转滤波方式(6个滤波片) 测量距离 40mm(从本体部下面) 测量面积 20*30mm（椭圆） 装置说明 检测器 尺寸：410（W）*207（D）*160（H) （不含突起部分） 重量：8.5Kg 中继连接器 尺寸：322（W）*113（D）*140（H) （不含突起部分） 重量：4Kg 电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA 数据处理部 尺寸：300（W）*275（D）*165（H） （不含突起部分） 重量：6Kg 电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA 外部输出 0-10V，4-20mA模拟输出（出厂时设定） 使用温度 5-40°C（无结露） 荣获殊荣 专利技术P偏光。

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情 英国SONATEST MicrogageIII系列精密测厚仪有单色和彩色显示屏，有或没有A-Scan功能。英国SONATEST MicrogageIII系列精密测厚仪产品简介：英国SONATEST 微型III系列便携式精密测厚仪有单色和彩色显示屏，有或没有A-Scan功能。该系列的所有仪器都是现场可升级的，允许操作员选择更进一步的额外功能，而无需将仪器返回工厂。英国SONATEST MicrogageIII系列精密测厚仪产品特征：微型III系列提供的各种功能允许用户选择一种能够超越其应用需求的高质量工具。 回波到回波能力允许测量材料的厚度，而不去除油漆或涂层。特征包括：·0.0001分辨率•30 MHz带宽•阳光可读•缩放自动跟踪•实时A扫描(可选颜色)•设置的存储和调用•数据记录仪100,000读数•振动和颜色随报警变化•适用于具有挑战性的应用的多种模式•实时调整初始增益，斜率，范围，整流，缩放和消隐。•语言包括：英语，德语，法语B扫描功能•包含在DL版本中•试件的横截面图•输入很大厚度•在DL中保存B-扫描•易于查看•在查看模式下显示所有读数•与Data XLS软件的接口 仪器配件 英国SONATEST MicrogageIII系列精密测厚仪产品配件：标准Microgage III系列套件包括：UT厚度计传感器(10 MHz带电缆)操作员手册电缆耦合剂携带箱Data XLS软件仅适用于DL版本

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仪器详情 英国SONATEST Microgage II精密测厚仪是一种简单易用的手持式精密测厚仪，用户可以根据用户需求设计，产生快速准确的读数。英国SONATEST Microgage II精密测厚仪产品简介：英国SONATEST Microgage II精密测厚仪是一种简单易用的手持式精密测厚仪，用户可以根据用户需求设计，产生快速准确的读数。Microgage II提供的各种功能允许用户选择一个超出其应用需求的优质工具。回波到回波允许测量材料的厚度，而不会去除油漆或涂层。具有石墨前端的塑料版本使Microgage II / P成为塑料制造的理想工具。Microgage II和II / P包装在所有金属外壳中，用垫圈密封，使这些仪表成为在很恶劣环境中使用的美选择。 仪器配件 英国SONATEST Microgage II精密测厚仪产品配件：标准Microgage II套件包括：小额贷款15 MHz延时线传感器(T-402-5507)，侧面微型连接器，配有直接3/8“丙烯酸延迟线，用于金属。更换延迟线Lemo 00到MicroDot电缆操作手册并联剂2 x AA电池符合性证书校准证书塑胶手提箱

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情 英国SONATEST Microgage VX精密测厚仪配有可调方波脉冲发生器，可提供高分辨率和穿透要求所需的灵活性。英国SONATEST Microgage VX精密测厚仪产品简介：英国SONATEST Microgage VX精密测厚仪配有可调方波脉冲发生器，可提供高分辨率和穿透要求所需的灵活性。相控阵 - 曲面校正是一个完整的解决方案，这是英国声纳veo +独特的。英国SONATEST Microgage VX精密测厚仪产品特征：可选择的观看选项为用户在操作期间提供了额外的灵活性：(RF波形，+/-整流波形，带扫描条的大数字)。该模式的A扫描校正模式通常用于检测脉冲回波模式中的瑕疵/凹坑，以回波回波模式测量透光涂层和涂层。而基于时间的B-Scan功能显示测试材料的横截面。这主要用于显示测试材料的相对表面的轮廓。可调节分辨率设置增强了Microgage VX的灵活性，AGC增益控制允许进行多次回声和透光测量。该单元的其他通用功能包括多个校准选项;一个点，两点或从材料列表中选择，还有16个工厂设置和48个用户定义的设置，可以为自定义应用程序进行编辑。配备了一个字母数字数据记录器，为这些自定义报告需求提供更多的灵活性。高速扫描功能通过每秒32次测量来加快检测过程。从测试材料中取出传感器会显示扫描的很小测量值。 仪器配件 英国SONATEST Microgage VX精密测厚仪产品配件：微型VXSonapen传感器和软件操作手册并联剂2 x AA电池携带行李符合性证书校准证书

供应商：上海韵鼎国际贸易有限公司

Kurabo RX250在线红外测厚仪安装在生产线中，按样品的横向或流动方向，连续测量钢板和铝板上的有机涂层、防锈油的膜厚分布。

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Kurabo RX-4000不仅可以在近红外波长范围测量有机基团，同时能够实现利用独特的中红外分析检测技术测量无机涂层，近红外加中红外的分析检测技术提升了仪器的适用性。

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Kurabo RX4100是针对锂电池隔膜行业定制的仪器，彻底解决了电池隔膜中无机陶瓷涂层、PVDF涂层厚度以及有机粘合剂层厚度无法直接测量得到的困惑。

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Kurabo RX350 在线红外测厚仪是一款高端、环保的扩散反射型在线测厚仪，用简单且非接触方式快速连续测量纸、钢板、铝板等粗糙面上的有机涂层的红外线方式膜厚仪，在静电涂布油膜厚度的测量上具有绝佳性能。

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采用KURABO独自的P偏光方式,可对超薄油膜厚度精确测量； 采用安全的红外光，比射线安全和方便； 独特的三波长检测技术，消除不稳定因素的影响； Kurabo NR-2100IB 手提红外测厚仪拥有快速的测量反应和长期稳定性。

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锂电池隔膜及耐热层厚度在线检测方案一套RX410系统同时测量“基材厚度”和“涂层厚度”来自日本锂电池隔膜业界高度认可的红外测厚技术锂电池隔膜厂商的需求在全球重点发展电动车等新能源产业的今天，锂电池作为公认的理想储能元件，得到了非常高的关注。技术门槛更高的锂电池隔膜领域正面临着极大的机遇和挑战。正极材料、负极材料、电池隔膜、电解液是锂电池非常重要的四项原材料，而其中隔膜的基材厚度、涂布均匀性、涂布量优化更是锂电池隔膜中的难题，Kurabo RX410锂电池隔膜解决方案将帮助客户彻底解决隔膜及涂层厚度检测问题，提高产品的涂层均匀性和降低生产成本。隔膜是保证锂电池安全稳定工作的核心材料，它可防止电池短路引起的爆炸。而动力电池、储能电池用隔膜对隔膜的耐热性、安全性等性能的要求更加高。为了保证锂电池的安全性，必须精确控制隔膜厚度和耐热涂层的均匀性。Kurabo承诺解决隔膜基材和隔热涂层的厚度控制问题，只需一套，便可测量膜层及涂层的双重厚度，效率高，成本低，性价比高！是国际主流隔膜生产商的标准配置。产品介绍锂电池隔膜基材及耐热涂层测厚仪（膜重仪）RX-410RX410特点针对多孔基材具有优越的透过性能可同时测定隔膜基材和耐热涂层的厚度（或克重）锂电池行业内众多的销售业绩和成功应用经验RX410应用范围锂电池隔膜的耐热层厚度（或涂布量）测定锂电池隔膜基材厚度（或克重）测定其他薄膜涂层厚度（或涂布量）测定多层复合膜每种成分的厚度。RX410技术优势可测量半透明品，即使是透明性低的多孔性材质也可得到很高的测定精度。可以只测定抗热层的厚度：配合测定对象层和成分选定使用波长。可以只测得多层复合膜每种成分的厚度。采用安全的光：红外线方式，比起其它方式，更加安全，更加方便。实现非接触方式的生产线上测定，安全距离最远。响应速度快速以及长期的安全性：最小的响应速度约50毫秒，不会放过丝毫的厚度变化。采用3波长的测光方式，对于周围怀境和装置的变动，可长期地确保精度。P偏光技术：大幅度减少了杂散光的影响，信噪比高，保证了测量结果的准确性！广泛的适应性：根据最多6波长的过滤组合，可以测定多种物质的厚度（或涂布量）。RX410技术参数测量规格测光方式红外线吸收方式分光方式回转过滤方式（实际可装6张）测定距离20mm（两感应器间：40mm）测定面积20×30mm（椭圆）　1处光斑硬件规格感应器头部投光感应器　410(W)×164(D)×190(H)（不含突起部）受光感应器　410(W)×164(D)×160(H)（不含突起部）投光感应器10.4kg，受光感应器8.6kg中继装置部外观尺寸：322(W)×140(D)×113(H) （不含突起部）重量：4kg电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA资料处理部外观尺寸：275(W)×300(D)×165(H) （不含突起部）重量：6kg电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA外部输出可从类比0～10V或4～20mA中选泽（出货时设定）使用温度5～40℃（不结露,周围环境35℃以上必须进行空气净化）Kurabo给客户带来的益处：为高性能薄膜的品质管理提供支持降低不良品与竞争对手的差别化获得更大商机提高生产性开发新产品提高企业形象

供应商：上海昔今实验仪器有限公司

主要参数：测量范围：0-10mm 测量分度值：0.01mm 上海黄海药检多功能测厚仪HC-10： 商品详细介绍： HC-10型多能测厚仪是专门用于测量刚性和非刚性软类物体的多用途量具；它既不损伤被测物体的表面，又能得到精确的测量数据，可广泛用于测量片剂、糖衣片、薄膜衣片、浸膏片、丸粒等药物的直径和厚度，还可测量胶囊的壁厚和药物包装薄膜的厚度。随机的百分表附有CMC计量合格证，本量仪适用于生产线，质量管理和科研实验室等部门。 \u3000\u3000\u3000 主要技术参数： 测量范围：0-10mm 测量分度值：0.01mm 可测胶囊壁厚范围：0、1、2、3号胶囊

供应商：优尼康科技有限公司

Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较自动评估反射率，最小/最大位置，并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用视觉方法显示出来，也可以用常见的颜色空间系统， CIELAB 和 CIEXYZ。用升级的硬涂层软件测量厚度可升级的 Filmetrics FFT 演算法已经在全世界几百个硬涂层应用中使用。单击鼠标可同时测量硬涂层和底漆层厚度。操作简单Filmetrics 专利的先进技术，几乎排除常用的调整光谱仪，项目如积分时间调整与基准校正等，这代表着您只需要专注在光学镜片上的工艺程序，而不是在量测设备的调整。Filmetrics 优势? 嵌入式在线诊断? 免费离线分析软件? 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易！

供应商：赛默飞世尔科技过程仪表

挤出应用 单向和双向拉伸薄膜、共挤薄膜、流延薄膜、挤出片材、挤出复合和层压 我们拥有所有挤出类应用的丰富经验。我们全面的测量技术，包括空气厚度、红外线、核技术、光学和x射线传感器，以及先进的控制，可为有独特需求的这些应用提供精心设计的专业解决方案。 例如，双向拉伸薄膜生产线可通过卓越的生产过程可见性、控制响应能力、快速开车和快速更改产品，实现其Web测控最大的经济利益。在铸片和薄膜两端的高分辨率测量和精确映像，将有助于用户获得这样的效益。 完整的物料平衡算法可动态补偿纵向(MD)和横向(CD)拉伸，以实现串级的自动横向厚度控制(APC)。 此策略可大大改善MD和CD控制性能、减少薄膜产品质量变化，产生卓越的整卷质量，以实现最大的投资回报。 同样地，共挤和流延薄膜应用也可从完整的传感器和控制产品组合中获益。其中，SpectraBeam传感器可测量共挤薄膜和其它分层产品的各层厚度。 利用非线性不对称缩颈的自动片材边缘检测，可动态补偿各种聚合材料多样的收缩因子而引起的收缩。 zui后，先进的平均厚度控制和自动横向厚度控制程序可帮助用户获得一致的、杰出的结果。 信息是重要的。报表功能的完整数据库，包括整卷报表、历史数据查看、文件存档和分页数据，将可帮助用户消除任何猜测和臆断。

供应商：深圳市凤鸣亮科技有限公司

激光测量系统，具有：在线，动态，非接触，无损伤，高精度的测量功能 测量范围广泛，可用于各种金属制品生产线、塑料膜挤出、嵌镶板、压模木板、地毯、PVC、橡胶压制等生产线。透明塑料薄膜,测量不受灰尘、振动等外界环境的影响。对于被测材料的内部结构和表面是否平整没有要求。

供应商：上海韵鼎国际贸易有限公司

产品介绍：Kurabo在线红外涂层测厚仪/膜重仪/膜厚仪RX-250-台式及在线测量被检测物在红外线照射下，相应的涂膜厚度、涂布量产生了特定波长的红外线被吸收的现象。这种吸收的强度由检测器捕捉，通过预先确定的检量式可以实现对膜厚、涂布量的测定。 另外，采用了本公司独特的P偏光入射方式，可减轻表面反射和界面多重反射所产生的误差，作为红外线膜厚计，是理想的测量硬件。使用场所：技术zhong心、研究院、质检zhong心、生产线机旁实验室、生产线上在线监控应用范围：防锈油、耐指纹、清洗油、钝化膜、冲压油等测量范围：10μm以下 Kurabo在线红外涂层测厚仪/膜重仪/膜厚仪的主要优点采用世界D创的P偏光方式，可测出几微米以下的薄膜厚度（Z利）采用三波长测量方式，测量精度高（Z利技术）样品不需做任何前处理，可进行连续的非破坏、非接触式测量比放射线测量方法更安全、成本更低和容易操作，Z适合在线测量改善工艺在线式红外测厚仪与X荧光射线比，可在距离钢板面40mm在线使用，操作方便，不需要氮气，造价低测定规格测光方式红外吸收方式分光方式回转过滤方式（实际可装6张）测定距离50 ㎜（从主体部向下）测定面积10×15 ㎜（椭圆）本体规格传感器头部外形尺寸：315(W)×145(D)×90(H)  （不含突起部）重量    ：4.5 kg中继装置部外形尺寸：250(W)×140(D)×113(H)  （不含突起部）重量    ：3 kg电源    ：AC100V±10%  50/60Hz  200VA数据处理部外形尺寸：300(W)×275(D)×165(H)  （不含突起部）重量    ：6 kg电源    ：AC100V±10％  50/60Hz  200VA外部输入可以模拟 0～10V或4～20mA中选择（出厂设定）使用温度5～40℃（不结露时）

供应商：优尼康科技有限公司

Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说，当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度， 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题， F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪， 材料达到 3 毫米厚度，它可以很好测量。引用特殊的光学配件，使光斑尺寸不到 25 微米，使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材料都可以很好非常迅速的测试，并且在不到一秒钟的时间就可以将数据输出Filmetrics 优势桌面型薄膜厚度测量的全球24 小时电脑、 Email、在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测试结果相关应用硅片厚度光刻胶厚度（如 SU-8 胶）集成电路故障分析玻璃和塑料板材

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Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置， F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外， Filmetrics 专利的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内，得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与 FWHM 分析，以及能针线于常见的空间色彩系统的色彩分析（例如： CIELAB 与 CIEXYZ）。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以 JPEG 图片形式来传送。同时，选配膜厚和参数解算模块使 F10-RT 具有与 Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。健全、可靠的集成F10-RT 运送抵达时具有完整的标准配置，小巧的机身与 USB接口保证使您容易安装。整机无任何运动件，初钨卤素灯外无需其他维护，确保设备高度可靠Filmetrics 优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪

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Filmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易！附带的软件和 USB 连接界面使 F37 易于安装到任何 Windows 平台的 PC，功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数，这有助于多种不同膜层结构的测量，不论是单层、多层堆叠，甚至是单一纯物质，用户能轻易地从资料库中找到适用的模型以进行测量分析。 如果是没有预配的材料，用户只要将所知的材料光学参数直接导入资料库，或者经由测量，把所得的光学数据储存，即可使用多点测量系统，单一机台最多可搭配七组光谱仪高性价比的 F37 机型因配置了先进的光谱测量系统，能够迅速快捷的应用于工业生产中在线测量膜层的厚度，及光学常数（n、 k 值），通过对待测膜层上下表面的反射光谱的分析就能够在数秒内获得厚度、折射率及消光系数。F37 先进的光谱测量系统，采用标准 19 英寸的机架式工业机箱，最多能配置 7 个独立的光谱仪。 F37 测量软件也可被主机通过数字化 I/O 软件控制来进行测量。测量数据能够自动输出到主机供 SPC 控制。此外，为了满足不同测量环境需求，Filmetrics 也可以提供多样化的透镜配件及光学探头夹具供用户选择使用Filmetrics 膜厚测量仪 F37Filmetrics 膜厚测量仪 F37Filmetrics 膜厚测量仪 F37

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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

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Filmetrics F50 光学膜厚测量仪膜厚测量仪 膜厚测试仪选择 Filmetrics 的优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为你演示薄膜测量是多么容易！自动化薄膜厚度绘图系统依靠 F50 先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。 F50 系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪

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Filmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。 系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：相关应用半导体制造光刻胶 氧化物/氮化物/SOI 晶圆研磨减薄/封装液晶显示器盒厚 聚酰亚胺ITO 光学镀膜 硬涂层 抗反射涂层滤光片微电子光刻胶 硅膜 氧化铝/氧化锌薄膜滤镜Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪

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Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪

供应商：广州标际包装设备有限公司

电子测厚仪用来对各种薄膜、薄片、纸张等材料进行厚度测量或比较测量封仪用来检测塑料包装袋、包装容器的密封状况，应用于包装、食品、药品、日化等行业。

供应商：优尼康科技有限公司

F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本zui多两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件，以便于集成到现有的生产装置上。

供应商：NDC Technologies Inc.

红外透射式测厚仪NDC Technologies的智能红外测量仪用于塑料、薄膜和片材的厚度测量，有测量精度高、重复性好、高分辨率等特点，广泛用于这类产品的在线检测和控制。这些智能测量数据随时提供给控制系统并由操作员工作站（OWS）显示出来，为操作员和优化工艺提供可靠的流程信息。FG710S和TFG710ER薄膜测量仪通过其专利的红外设计和光学元件达到**的测量性能。这两种传感器工作稳定可靠，测量不受下列一些过程或环境条件变化的影响： 照明波动 温度 相对湿度 空气质量（灰尘，蒸汽成分等） 气压 探头位移（X，Y，Z） 批次变化不同于贝它或X射线测量仪，这些传感器易于维护，不需要特殊的辐射许可证，保护装置或安全锁。容易安装、简单的标定技术，其测量精度是有保证的。该设备可以用在挤出、片材生产线、双拉、吹膜和多层薄膜。NDC Technologies的先进红外测量技术设备的准确可靠性能使得我们在世界各地的客户都能从中受益。FG710S新型的塑料薄膜测厚仪， 用于清晰着色或多空薄膜的单层或多层的组合物的测量，聚合物薄膜厚度从10微米至5毫米。

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。

供应商：江苏一六仪器有限公司

zui小光斑扩散度＜10%，zui小测量面积可达0.002mm² 可检测复杂异形件，凹槽件，凹槽深度可达0-30mm 多镀层，重复镀层的快速检测（Ni/Cu/Ni） RoHS检测，地矿全元素分析 一款成分和厚度都可测的分析仪

供应商：江苏一六仪器有限公司

zui小光斑扩散度＜10%，zui小测量面积可达0.002mm² 可检测复杂异形件，凹槽件，凹槽深度可达0-30mm 多镀层，重复镀层的快速检测（Ni/Cu/Ni）

供应商：东西仪（北京）科技有限公司

仪器简介： 产品资料： 多能测厚仪是专门用于测量刚性和非刚性软类物体的多用途量具；它既不损伤被测物体的表面，又能得到精确的测量数据，可广泛用于测量片剂、糖衣片、薄膜衣片、浸膏片、丸粒等药物的直径和厚度，还可测量胶囊的壁厚和药物包装薄膜的厚度。 随机的百分表附有CMC计量合格证，本量仪适用于生产第一线，质量管理和科研实验室等部门。 　　　 技术参数： 主要技术参数： 　　　测量范围：0-10mm 　　　测量分度值：0.01mm 　　　可测胶囊壁厚范围：0、1、2、3号胶囊 测量范围：0-10mm 　　　测量分度值：0.01mm 　　　可测胶囊壁厚范围：0、1、2、3号胶囊 主要特点： 多能测厚仪是专门用于测量刚性和非刚性软类物体的多用途量具；它既不损伤被测物体的表面，又能得到精确的测量数据，可广泛用于测量片剂、糖衣片、薄膜衣片、浸膏片、丸粒等药物的直径和厚度，还可测量胶囊的壁厚和药物包装薄膜的厚度。随机的百分表附有CMC计量合格证，本量仪适用于生产第一线，质量管理和科研实验室等部门。 　　　

供应商：赛默飞世尔科技过程仪表

Thermo Scientific 瑞美 RM 210 CM非接触式X射线测厚仪能以最快的速度为各类金属板带生产线提供准确度最高的测量数据，可用于人工控制、AGC控制或轧机的自适应控制。 瑞美RM 210 CM型测厚仪能针对您的应用场合来定制最合适的传感器配置。C形架的设计旨在适应多种型号的X射线源和探头。该系统在高速冷轧上的采样时间为1 ms，因此分析轧机事件的频率更高。系统的架构灵活，可根据您的特殊需求进行调整。