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光学NanoGauge C10323-02
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10323-02
- 产地:日本
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。 C10323-02的电源电压为AC100 V至AC120 V。
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光学NanoGauge C10323-02E
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10323-02E
- 产地:日本
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。 C10323-02E的电源电压为AC100 V至AC120 V。
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薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline
- 品牌:德国Sentech
- 型号: RT Inline
- 产地:德国
薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。
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自动扫描薄膜测量仪器SenSol
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SenSol
- 产地:德国
自动扫描薄膜测量仪器SenSol,是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenSol,可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性,从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。
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SENperc PV光伏测量仪
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENperc PV
- 产地:德国
SENperc PV光伏测量仪 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此,可以优化维护时间间隔。
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台式薄膜探针反射仪 FTPadv
- 品牌:德国Sentech
- 型号: FTPadv
- 产地:德国
台式薄膜探针反射仪 FTPadv FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 µm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围广泛的预定配方。
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反射膜厚仪RM 1000/2000
- 品牌:德国Sentech
- 型号: RM 1000/2000
- 产地:德国
反射膜厚仪RM 1000/2000,具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化,以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量,且测量非常稳定。
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膜厚测量仪FE-3
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-3
- 产地:日本
对于具有波长依赖性的多层膜,可以实现高精度测量!
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反射式膜厚测量仪FE-3000
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-3000
- 产地:日本
可WM对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析
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膜厚测量仪FE-300
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-300
- 产地:日本
小型・低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!
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椭圆偏振光测量仪FE5000
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE5000
- 产地:日本
通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
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TQC SP1100 破坏性干膜测厚仪
- 品牌:荷兰TQC仪器
- 型号: TQC SP1100
- 产地:荷兰
TQC SP1100 破坏性干膜测厚仪 SP1100破坏性测厚仪是用铝钛合金制成的精密的破坏性涂层厚度测量仪器,主要用于检查和测量单/多涂层的底材(事实上全部)的涂层厚度,包括:木材,塑料,金属等的涂层厚度测量。也可以用于评估和测量基材和涂层的缺陷。Super-PIG在涂层上切个小切口,借助LED照明显微镜测量网格测量切口,减少计算。独特的旋转系统包含三个不锈钢切刀和一个横切刀。 SP1100破坏性干膜测厚仪产品简介 SP1100破坏性测厚仪是用铝钛合金制成的精密的破坏性涂层厚度测量仪器,主要用于检查和测量单/多涂层的底材(事实上全部)的涂层厚度,包括:木材,塑料,金属等的涂层厚度测量。也可以用于评估和测量基材和涂层的缺陷。Super-PIG在涂层上切个小切口,借助LED照明显微镜测量网格测量切口,减少计算。独特的旋转系统包含三个不锈钢切刀和一个横切刀。 破坏性涂层测厚仪照相机适配器 设备简单而GX,可以通过SP1000 Super-PIG的显微镜制作数码照片。适配器装在显微镜头上,圆锥形的特别设计适合内部的防眩塑料,它适合于各种镜头直径小于42mm的数码相机。 重量: 60g 直径: 48mm 高度: 14mm 破坏性测厚仪供货范围 适配器以及皮套,腰带夹。
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TQC VF2255 / 2256 / 2257 湿膜厚度测量轮
- 品牌:荷兰TQC仪器
- 型号: TQC VF2255 / 2256 / 2257
- 产地:荷兰
TQC VF2255 / 2256 / 2257 湿膜厚度测量轮 TQC湿膜厚度测量轮是一款由不锈钢和铝制成的涂层厚度测量仪器,可用于测量湿膜,涂层,油涂表面的厚度。湿膜厚度测量轮装备了一个滚珠轴承用来降低滚动阻力,可用卷材涂料测量。 产品简介 TQC湿膜厚度测量轮是一款由不锈钢和铝制成的涂层厚度测量仪器,可用于测量湿膜,涂层,油涂表面的厚度。湿膜厚度测量轮装备了一个滚珠轴承用来降低滚动阻力,可用卷材涂料测量。 测量时,具有偏心轮缘的测量轮在涂膜的表面滚动。
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CHY-C2A薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪
- 品牌:济南兰光
- 型号: CHY-C2A
- 产地:济南
CHY-C2A薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪
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工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列
- 品牌:上海晶诺微
- 型号: QUASAR-S
- 产地:闵行区
应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备,适用于6、8、12吋生产线,产品技术成熟,测量精度高,测量速度快,技术上已达到国际同类竞争产品水品,可实现纳米级厚度测量。 产品特点 适用于150mm、200mm、300mm晶圆、碳化硅及MicroLED等领域适用于Open cassette、SMIF、FOUP样品装载接口可见、紫外及红外SE测量系统及SR测量系统单层膜厚、折射率及吸收系数测量以及多层膜测量 超高产能,可达每小时120片超高精度,可达
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反射式膜厚仪 QUASAR-R100系列
- 品牌:上海晶诺微
- 型号: QUASAR-R100
- 产地:闵行区
QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器,操作简单,极易上手,应用广泛,快速准确的提供各种薄膜厚度的测量,如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率(Refractive Index)、 消光系数(Extinction Coefficient)和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-300
- 产地:美国
借助F54-XYT-300的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-200
- 产地:美国
借助F54-XY-200光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪
- 品牌:济南赛成
- 型号: 1CHY-CA
- 产地:济南
◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。 ◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。 ◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。 ◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。 ◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
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FSM - 应力及厚度在线量测系统
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 900 系列/FSM 128 系列
- 产地:美国
产品简介FSM 900 系列新型材料在高温下很容易氧化。他们还容易产生氣體及发生物质变化,FSM 900TC-Vac 型号给工艺提供了一个封闭的加热腔。它可以应用於完全的充氣环境或高真空的模式。集成化的 FSM 900TC-Vac 系统可以快速协助新材料处理热稳定和热负载。• 温度範围: 可达9000C (200mm 及 300mm晶圆)• Thermal Desorption Spectroscopy (TDS -系统可以起独立的TDS作用- 分析整个或破损的晶圆,监测在温度循壞内的各種各样的氣體排放。
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美国布鲁克台阶仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、YL、科学研究和材料科学领域
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薄膜测厚仪自动进样
- 品牌:山东普创
- 型号: PTT-03A
- 产地:济南
PTT-03A薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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测厚仪膜厚仪 台式测厚仪
- 品牌:济南赛成
- 型号: CHY-CA
- 产地:济南
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
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接触式薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 型号CHY-C2A
- 品牌:济南兰光
- 型号: CHY-C2A
- 产地:济南
接触式薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 型号CHY-C2A
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德准薄膜测厚仪工作台A3-AT
- 品牌:广州德准
- 型号: A3-AT
- 产地:广州
德准薄膜测厚仪全自动工作台自动进膜记录数据,节省人工,提高效率。
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德准C1202全自动薄膜测量仪马尔测厚仪
- 品牌:广州德准
- 型号: C1202
- 产地:广州
产品参数: 显示屏:指针/数字 操作温度:10°C to 40°C 测量范围:0~200μm 0~2mm 可设置 供电电源:115V 至 230V, 50–60Hz 分辨率:0.01μm 气源压力:0.2-1.0MP之间 极限误差:0.3% 防护等级:IP54 测量速度:全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸:显示器 170 × 130×150 mm 手动模式无限制 工作台 :250 × 300 × 250 mm 提升方式:气动真空提升 净重:显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型:平面测帽,大圆弧测帽 可更换
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德准薄膜测量仪全自动马尔测厚仪C1202
- 品牌:广州德准
- 型号: C1202
- 产地:广州
产品参数: 显示屏:指针/数字 操作温度:10°C to 40°C 测量范围:0~200μm 0~2mm 可设置 供电电源:115V 至 230V, 50–60Hz 分辨率:0.01μm 气源压力:0.2-1.0MP之间 极限误差:0.3% 防护等级:IP54 测量速度:全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸:显示器 170 × 130×150 mm 手动模式无限制 工作台 :250 × 300 × 250 mm 提升方式:气动真空提升 净重:显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型:平面测帽,大圆弧测帽 可更换
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广州德准薄膜测厚仪全自动C1202
- 品牌:广州德准
- 型号: C1202
- 产地:广州
产品特性: •薄膜行业厚度测量标准配置,适用于高精度测量,内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量,避免人为因素干扰,提高精度,数值自动上传电脑保存,可实现测量过程无人值守,减负增效 • 测量精度高,分辨率可达0.1μm • 测量速度快,结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级,精度高,质地硬,永不生锈 • 德国Mahr的品质保证,可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0,具有数据管理,用户管理等强大功能 软件特性:Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录测量值,并计算最大值,最小值,平均值,偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能,可设置不同的人员权限,有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能,测量数据及相关产品、人员信息永久保存,便于测量数据的追踪和溯源
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广州德准薄膜测厚仪全自动精密测厚仪
- 品牌:广州德准
- 型号: C1202
- 产地:广州
全自动薄膜测厚仪,天然大理石工作台,另有除尘除静电机构。自动进膜,配套测量仪软件,自动记录数据,节省人工和时间。薄膜测厚精准,达到0.01微米
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德准全自动薄膜测量仪
- 品牌:广州德准
- 型号: C1200
- 产地:广州
广州德准机电设备有限公司成立于2011年5月,位于广州市南沙区,主要产品包括有薄膜测厚设备、物料输送设备、螺栓拧紧设备、压装类设备以及机器人集成应用等,是集研发、制造、销售和售后服务于一体的高新技术企业、ISO9001质量认证企业。 公司坚持以“打造出真正让客户觉得好用的产品”的为最高质量方针,以改善永无止境的理念,坚持不懈的努力,求实严谨的态度,持续为客户提供高品质的产品和服务,在与客户的共同成长中逐步发展壮大,赢得了社会各界的广泛认可和充分肯定。
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上海析谱 薄膜固体测试仪UV-2202PCST
- 品牌:上海析谱
- 型号: UV-2202PCST
- 产地:松江区
基于各种物质的分子及其结构,对不同波长的单色光呈现选择性吸收的特性。本仪器在紫外可见光光谱范围内,可对物质成分及含量进行定性和定量分析,它在化工、医学、生物、农业、食品、环境保护、珠宝、玻璃、古董等方面应用广泛。
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塑料薄膜测厚仪 薄膜测厚仪 CHY-CA测厚仪
- 品牌:济南赛成
- 型号: CHY-CA
- 产地:济南
◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。 ◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。 ◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。 ◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。 ◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
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薄膜数显测厚仪
- 品牌:济南三泉中石
- 型号: CHY-U
- 产地:济南
薄膜数显测厚仪 薄膜、包装铝箔、乳胶手套、片材、铝膜、耳挂式面罩和药用PVC硬片都是常见的包装和材料,它们都有各自的厚度,因此需要进行测量以确保其符合要求。机械接触式厚度测量仪器是一种可靠的测量工具,可以用于测量这些材料的厚度。
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三泉中石 金属镀层测厚仪DMT-E
- 品牌:济南三泉中石
- 型号: DMT-E
- 产地:济南
三泉中石 金属镀层测厚仪DMT-E 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。
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塑料复合膜厚度测量仪
- 品牌:济南三泉中石
- 型号: CHY-U
- 产地:济南
塑料复合膜厚度测量仪 在塑料工业中,厚度是影响材料性能的关键参数之一。薄膜、塑料复合膜、塑料薄片、塑料包装、保鲜膜、降解薄膜等材料都需要精确的厚度控制。为了满足这一需求,本文将介绍一种常用的厚度测量工具——膜厚仪,并阐述其在不同塑料材料检测中的应用。
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台式薄膜测厚仪
- 品牌:济南三泉中石
- 型号: CHY-U
- 产地:济南
台式薄膜测厚仪 在塑料工业中,厚度是影响材料性能的关键参数之一。薄膜、塑料复合膜、塑料薄片、塑料包装、保鲜膜、降解薄膜等材料都需要精确的厚度控制。为了满足这一需求,本文将介绍一种常用的厚度测量工具——膜厚仪,并阐述其在不同塑料材料检测中的应用。
- 薄膜测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供薄膜测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选薄膜测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。