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小型二次离子质谱仪 品牌:英国Hiden Analytical
型号:
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飞行时间二次离子质谱 品牌:英国Kore
型号:TOF-SIMS
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 品牌:捷克泰思肯
型号:FIB-SEM-TOF-SIMS
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM 品牌:捷克泰思肯
型号:TESCAN SOLARIS
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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS 品牌:法国Cameca
型号:AKONIS
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二次离子质谱工作站
- 品牌:英国Hiden Analytical
- 型号: SIMS
- 产地:英国
整合的离子源,便于RGA和SNMS; 各类型样品的快速转向; 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪。
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二次离子质谱探针
- 品牌:英国Hiden Analytical
- 型号: EQS
- 产地:英国
仪器简介:EQS是差式泵式二次离子质谱(SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用zui*技术 的SIMS探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。技术参数:应用: 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源,便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测
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小型二次离子质谱仪
- 品牌:英国Hiden Analytical
- 型号:
- 产地:英国
仪器简介:1.适合做多层薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。 3.方便使用。 4.样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。 5.我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品。 6.我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。 7.我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析的使用。 结构紧凑,但不损失性能。真正的高性价比。技术参数:
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二次离子质谱工作站
- 品牌:英国Hiden Analytical
- 型号: SIMS
- 产地:英国
整合的离子源,便于RGA和SNMS; 各类型样品的快速转向; 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪。
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飞行时间二次离子质谱仪PHI nanoTOF3
- 品牌:日本Ulvac-Phi
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:日本
PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观,时尚设计,设备占地面积减少,更低功耗 ・全新设计的全自动样品台,可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪,具有更高的空间分辨率 获得专利的平行成像MS/MS质谱仪 ・无论样品表面平整还是粗糙,PHI的第7代三重聚焦质量分析器均能胜任 ・并行成像MS/MS将TOF-SIMS谱峰识别从“我认为”变为“我知道!” ・可对丰度低于20 ppm的质谱峰进行无损和高灵敏度串联质谱分析 获得专利的一键双束中和技术 ・全新的脉冲低能电子和低能Ar+离子双束中和技术,可在正、负离子模式下实现可靠且真正的一键中和 可靠的自动化和远程操作 ・高度可配置的序列分析系统,可用于自动无人值守分析,以获得最大的分析效率 ・可完全远程操作和高级远程诊断
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: FIB-SEM-TOF-SIMS
- 产地:其它
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zui重要的一环,而元素分析是其中zui重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用的需求。TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信
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Bruker SIMS Toxtyper® 质谱仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Toxtyper®
- 产地:德国
ESI-ITMSToxtyper®Toxtyper® 是一款功能强大的一键式解决方案,可快速进行毒理学筛查,用户界面简单直观。简化药物筛查强大的 UHPLC-MSn 分析毒理学筛查市面上速度最快的自动化药物筛查快速基于市场上最快速的 LC-MSn 技术提供自动化药物检测解决方案。简单专为非 MS 专家设计的用户界面, 一键式样品提交和分析,仅需简单的用户培训。高置信度化合物鉴定基于 MS、MS2 和 MS3 谱图,加上保留时间的信息,可提供高置信度的结果。高重现性数据依赖型的 MSn 数据采集方式保证了结
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飞行时间二次离子质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。
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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
- 品牌:法国Cameca
- 型号: AKONIS
- 产地:法国
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平,确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550(四极杆 SIMS)系列外,AKONIS作为其 补充,可实现仪器设置和采集例程的完全自动化,从而可在分析灵敏度不受影响
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率,特别是在低电压下;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒保证了出色的低电压离子束分辨率和微加工性能,可以满足制备小于 20 nm 的、最佳质量的半导体器件超薄 TEM 样品的需要。此外,高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行指定位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描,图像也具有出色的衬度。
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飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
※ 广泛应用于导体、半导体和绝缘体等领域。 ※ 用于纳米级表面成分定性或定量分析,实现二次离子图像 与二次电子图像分析。配置离子刻蚀枪,可进行材料深度 分布分析。 ※ 并行探测所有离子,包括有机和无机分析碎片。 ※ 宽范围的质量探测范围(实际测量中>1000m/z原子 量)。 ※ 极高的空间分辨率。 ※ 超高灵敏度1E+9 atoms/cm 。 ※ 导体、半导体和绝缘体表面均可测试。
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CAMECA 二次离子质谱仪
- 品牌:法国Cameca
- 型号: IMS 7f
- 产地:法国
CAMECA 二次离子质谱仪(IMS 7f)的主要优势在于其极高的灵敏度、高空间分辨率(亚微米级横向分辨率,纳米级深度分辨率)以及同位素分辨本领。因其 ppb 水平检测极限以及高分析速度和可靠性,IMS 7F 成为遍布全球的众多独立分析实验室的主力军。 CAMECA的SIMS技术**世界。无与伦比的性能得益于其独有的基于磁扇区原理的仪器设计。 灵敏度:CAMECA IMS 7f 工作是的有效离子产率(useful yields- second
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CAMECA 大型二次离子质谱仪
- 品牌:法国Cameca
- 型号: IMS 1280-HR
- 产地:法国
IMS 1280-HR是大型磁质谱二次离子质谱仪,具有超高灵敏度,针对地质科学与环境领域广泛的分析需求而专门设计的。在地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展现了无与伦比的性能。 K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection) Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (m
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MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国SAI
- 型号: MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
- 产地:英国
MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪在探测未知样品、研究较小区域的表面特征、从有机样品中获取更多信息方面。性能卓越探测未知样品飞行时间质谱(ToF)的引入使得MiniSIMS的性能跃升到一个新的水平。MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪对未知样品的测定与测量已知组分一样容易,这使得该仪器非常适合研究性应用。在失效分析中,比如污染鉴定,发现的额外细节有助于准确的查明问题的确切原因。创新的设计使得该仪器使用简便、结构紧凑。不仅处理功能强大,仪器操作也进一步简化,在实际分析中,基本不需要操作
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SAI MiniSIMS alpha二次离子质谱仪
- 品牌:英国SAI
- 型号: MiniSIMS alpha
- 产地:英国
MiniSIMS alpha二次离子质谱仪是MiniSIMS系列的入门级仪器。这种高样品量的仪器是开发样品特定性质的理想选择。不论是按照已知标准进行质量控制,还是研究/工艺优化中多种样品的比较分析,该仪器都非常高效。这种情况下,预设分析条件意味着不同的操作者可以获得相同数据。通常情况下,每个样品的分析时间最短5分钟。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪可以配置辅助电子探针来分析绝缘性样品。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪与MiniSIMS所有性能一样,辅助电子探针可以自动操作,使用方便。宽
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二次离子飞行时间质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: SurfaceSeer
- 产地:英国
SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在最短的分析时间内生成化学图像,突破常规实验室仪器的极限!SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱SIMS技术,结构紧凑,仅需一个标准电源,可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛,是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对
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AB Sciex API 4000+ ™ LC/MS/MS 系统
- 品牌:美国SCIEX
- 型号: API 4000+
- 产地:美国
创建质谱定量的黄金标准API 4000+™ 三重四级杆串联质谱系统 行业黄金标准的API 4000+™ LC/MS/MS系统能为药物开发科学家提供全面支持,包括药物研发到临床试验提供高质量的定量分析和定性分析数据。此系统从业界广为认可和考验的API 4000™发展而来,提供更加优异的灵敏度和重现性,并提高整体性能的耐用性,可确保在食品、环境样品中的药物残留痕量分析、刑侦毒物样品分析以及临床研究分析中数据的可靠性。结合功能强大的Analyst®软件,此系统可提供药物开发中对DM
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Waters Xevo TQD 三重四极杆质谱
- 品牌:美国沃特世
- 型号: Xevo TQD
- 产地:美国
耐用、稳定而可靠的Xevo TQD沃特世整套UPLC/MS/MS常规定量应用解决方案可确保系统达到最高的灵敏度、选择性和稳定性而且操作简便。借助无与伦比的稳定性使仪器系统的正常运行时间达到最大化加快灵敏稳定的方法的开发速率降低复杂度,提高易用性并确保分析结果始终正确最大限度增加处理量,同时又不会降低数据质量既拥有当今最宽泛的电离能力,又着眼于未来的创新检验借助无与伦比的稳定性使仪器系统的正常运行时间达到最大化快速不间断的分析需要一台能始终给出准确结果的既可靠又稳定的仪器系统。加快灵敏稳定的方法的开发速
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德国IONTOF TOF-SIMS系统
- 品牌:德国IONTOF
- 型号: M6
- 产地:德国
1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm) 2 质量分辨率 > 30,000 3 独特的延迟提取模式可同时实现高传输,高横向质量 4 广域的动态范围和检测限 5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS 6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件,包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包 7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统,可长期无人值守运行
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TRIPLE QUAD™ 3500质谱系统
- 品牌:美国SCIEX
- 型号: TRIPLE QUAD™ 3500
- 产地:美国
经典传承的AB SCIEX Triple Quad™ 3500质谱系统 从今天起…助力您实验室的成功您所需要的卓越性能先进设计—GX性能、GX率 每针进样采集更多的化合物—可靠的定量从不丢失色谱峰– 高灵敏度和高质量数据采集方法出色的运行时间–检测更多的样品,提高实验室生产效率,并且维护次数更少快速获得结果- 快速,高通量,简化的数据处理工具服务与支持资源助力您的成功 Triple Quad™ 3500质谱系统具有zuiyou化的性能,并采用先进的设计和电子器件,增强
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[公开招标]预算820万元 中国科学技术大学采购化学成像系统-飞行时间二次离子质谱仪
中国科学技术大学公开招标化学成像系统-飞行时间二次离子质谱仪,项目编号:OITC-G230320050
- 分析尿液样品中的疼痛ZL药物
- 羊免疫球蛋白M(IgM)说明书
- 利用XPS和二次离子质谱仪(SIMS)进行材料表面表征
- Insulator analysis using combined FIB-SEM instrument with TOF-SIMS
- Elemental Analysis of Diatom Cell walls using a FIB-SEM-TOF-SIMS
- 二次离子质谱仪IMS 7f的介绍
- TESCAN LYRA3 FIB-SEM with integrated TOF-SIMS analyser
- 大型二次离子质谱仪 IMS1280 资料
- High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses
- PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪产品样册
- 二次离子质谱仪
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