TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
飞行时间二次离子质谱
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。
CAMECA 二次离子质谱仪
CAMECA 大型二次离子质谱仪
MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
SAI MiniSIMS alpha二次离子质谱仪
飞行时间二次离子质谱仪
该设备是动态飞行时间二次离子质谱系统,为质谱成像技术的新范式。它通过采用直流主离子束与创新性的飞行时间分析仪设计,成功解决了传统SIMS在成像速度、质量分辨率与高分子分析能力之间的固有矛盾,能够实现快速、连续、高分辨的二维成像与三维深度剖面分析,尤其擅长于高分子材料、生物组织和有机电子器件等复杂样品的表面与界面分子信息解析。
CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
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