供应商：魔技纳米科技有限公司

适用多种材料的超快激光微纳加工中心 超快激光微纳加工中心，不仅拥有纳米级3D加工能力，还配备了双波长飞秒激光输出，可加工更广泛的材料。可对玻璃、光纤、晶体内部和表面进行改性或刻蚀，也可对金属、合金、陶瓷等硬质材料进行微米级精度的处理，包括打孔、表面结构处理、选择性激光消融、改性等多种功能。 MJ-Works-fs同样拥有高精度、超高速度的特点，并且可进行大幅面加工、全自动操控、长时稳定性、简单直观的软件操作以及适配多种材料的特点，适用于微纳光学、生物医学、半导体、光通信等行业的微纳加工领域。

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适用多种材料的超快激光微纳加工中心 超快激光微纳加工中心，不仅拥有纳米级3D加工能力，还配备了双波长飞秒激光输出，可加工更广泛的材料。可对玻璃、光纤、晶体内部和表面进行改性或刻蚀，也可对金属、合金、陶瓷等硬质材料进行微米级精度的处理，包括打孔、表面结构处理、选择性激光消融、改性等多种功能。 MJ-Works-fs同样拥有高精度、超高速度的特点，并且可进行大幅面加工、全自动操控、长时稳定性、简单直观的软件操作以及适配多种材料的特点，适用于微纳光学、生物医学、半导体、光通信等行业的微纳加工领域。

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全自动双面紫外皮秒激光晶圆划线机，是晶元制程中不可缺少的一道工序，取代原有的工序（匀胶、曝光、显影）

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绿光纳秒钻孔设备，用进口绿光激光器，光束质量好，加工速度快。

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全自动双X/Y平台玻璃切割机，用红外皮秒激光器，保证完 美光束质量，光斑细，切割精度高。

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蓝宝石精密切割裂片机，采用红外皮秒激光器，保证完 美光束质量，光斑细，切割精度高。

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玻璃切割倒角切割机Glass Chamfering Machine，可兼容振镜和聚焦头两种裂片方式，兼容多款国内外激光器型号，可添加CCD定位等功能模块，高速XY运动平台，大程度提升加工速度，可对玻璃侧边倒圆角和C角

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脆材标准切割裂片机，采用红外皮秒激光器，保证完 美光束质量，光斑细，切割精度高。

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来自瑞士的Menhir Photonics 创新推出一体式全固态飞秒激光器，基于孤子锁模技术，提供ZY的可靠性、超低位相与振幅噪声。强健、稳定、7×24 运行、用户友好操作、一键自启动，MENHIR-1550 为无人值守、可靠运行的科研和工业环境提供重频可高达2.5GHz、具备极低位相噪声、高度频率稳定性的飞秒光源。

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激光护目镜，防护窗，防护帘，防护墙；在任何激光器运行的场合，人身安全防护都拥有ZG优先级。 美国Laservision 公司成立于1995 年，是知名的激光防护产品制造商，产品经NIST 或CE 认证。 产品包含：激光防护眼镜、激光防护窗、激光防护帘、激光防护墙、激光防护面罩等系列产品，远销各地，广泛应用于医学，工业，科研和军事等领域，被客户所认可。

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PHASICS 公司提供SID4 系列波前传感器，覆盖紫外~ 中远红外波段，主要应用包括： * 激光：激光光束质量测量、自适应光学、激光系统准直、气体与等离子体密度测量； * 光学计量：镜头与镜头组检测、光学系统准直、表面面型分析、广角视场镜头检测、滤光片及偏振片表征、特种波长光学元件表征、超表面 及超透镜测量、外场/ 真空等环境波前计量； * 定量相位成像：细胞学、组织学； * 微纳材料检测：表面拓扑及断层扫描、光波导结构及折射率分析、激光损伤阈值测量、纳米结构与光热

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Kaleo MTF 工作站是专为成像镜头研发、生产而设计的全自动MTF 测试系统，可用于镜头设计、原型制作、生产质检等各个步骤。Kaleo MTF 综合了干涉仪和传函仪的功能，提供完整的镜头 特性评估：同轴/ 离轴MTF、相对照度、多种波长下的波差；即使在高主光线角（CRA）和大 视场角（FOA）的条件下，仍可保持高精度。 Kaleo MTF 配备全套自动机构，可自动实现进出料、多样品切换选择、离轴测试等

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有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉 仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针 对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；Kaleo-Multiwave 多 色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试 及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/ 球面波而无需中继镜， 无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。 Kaleo-Multiwave 集成了可切换波长的准直光源，可以对大口径镜片进行直接或对比测量

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PHASICS SID4 Element 是1:1 高分辨率的位相成像组件，可直接插入 用户的成像系统与已有相机中间，将传统成像系统改造为定量位相成 像系统；SID4-sC8 则是一体式位相传感器，为适合生物用户需求，采 用了大面阵、高分辨率、高动态范围、高灵敏度的sCMOS 相机

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LBS-100LBS-100 采用楔形分光镜和多片可选的中型密度滤光片搭配，实现大范围可切换的衰减倍率。

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可对激光光斑大小进行放大或缩小，以适应光束分析仪尺寸需要

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针对深紫外激光器，例如266nm、213nm、193nm等激光器，建议使用紫外转换器，将紫外光转换成可见光探测。

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激光聚焦的焦点通常具备很高的强度，需要很大的衰减幅度才能直接测量；而工作距离（最长不能超过焦距）的限制又使得无法引入大量的衰减片。OPHIR FSA 焦点测量附件用于直接测量高功率聚焦激光的焦斑，在紧凑的距离内提供10-10 的衰减率。

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分光器将激光分成反射光和折射光两部分，适用于高功率激光的初次衰减。

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根据不同的应用场景，焦斑分析仪分为常规FSA 系列、组合式FSA-M 系列、折叠光路FSA-F 系列三个系列，10x、20x 两种放大倍率和UV、VIS、NIR 三种波段范围产品。

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BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基础上，在特定位置集成了功率探头，可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated 分为150/ 500连个型号，功率探头距离焦点的距离分别为150mm和175mm。

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BeamWatch AM 是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰( 焦点) 宽度和位置、焦点变化、ZX、M2、瑞利长度、倾角等。BeamWatch AM 测量技术是基于激光在传播时，空气中氧和氮分子对激光产生瑞利散射。对这种散射光的测量提供了对激光束在观察视图方向上的分析。同时BeamWatch AM 内部集成了一个功率计，可测量激光功率。

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BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。

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OPHIR*的BeamWatch 非接触式轮廓分析仪通过测量瑞利散射，精确捕获和分析波长范围为980nm - 1080nm 的高功率工业激光。

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NanoModeScan 是一套基于NanoScan 狭缝扫描式光斑分析仪的全自动光斑分析仪

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BeamSquared 包含自动衰减器、束腰生成镜、反射镜和相机四大部分。精密准直的双程直线扫描光路提供在较短空间内的长行程快速扫描，配合不同的透镜、探测器覆盖宽范围的波段。

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NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪， 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。

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超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测，而大口径的缩束系统（望远镜）成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上，再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上，是一种便利的方法。

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可变衰减片采用两片渐变式中性密度滤光片，在衰减率可连续调节的同时，确保通光孔径内衰减率均匀分布。

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组合式衰减器集成了分光器和可变中型密度滤光片，可直接旋接在相机上使用。

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超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测，而大口径的缩束系统（望远镜）成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上，再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上，是一种便利的方法。

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BeamMic 为需要对激光器光斑有基础直观了解而无需复杂分析的用户而设计。

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Spiricon 专业光斑分析软件历经了LBA、Beamstar、BeamGage 三个阶段。每一个版本均继承了上一代JZ的测试分析能力以及友好的用户截面，同时又随相机硬件技术、电脑硬件技术以及激光器的发展，不断提供更高的性能和更丰富的功能。

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Pyrocam 系列热释电阵列相机是Spiricon 研发的独特产品，13-355nm+ 1.06-3000μm 超宽波长覆盖使其可以适用于深紫外激光、红外~ THz光束分析。配合M2 软件及自动导轨，可实现这些波段的M2 测试。

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近红外InGaAs 相机主要特点：量子效率高，暗电流小，灵敏度高，曝光时间范围宽。

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相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器，直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像，传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析仪是目前使用最多的光斑分析仪，可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光，可实时监控激光光斑的变化。