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美国Hinds 高精度偏振态(斯托克斯量)测量系统
品牌:美国Hinds
型号:Stokes_Polarimeter
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日本日立 色谱数据系统 ChromAssist Data Station
品牌:日立
型号:ChromAssist Data Stat
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英国Vision CMM三坐标测量系统 DELTRON
品牌:英国VISION
型号:DELTRON
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新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM
品牌:美国Lake Shore
型号:M81-SSM
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美国Lake Shore 无液氦超导磁体系统-DryMag
品牌:美国Lake Shore
型号:DryMag
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卓立汉光 透射、反射/吸收光谱测量系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: ZLHG-01
- 产地:通州区
透射、反射/ 吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS 系列 透射、反射/ 吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的实现透射率/ 反射率的光谱测试。
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卓立汉光 发射光谱测量系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: ZLHG-03
- 产地:通州区
针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED 通常分辨率要求不高,建议使用SGM100 或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等分辨率要求高,建议使用长焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪;宽波长范围(UV ~ IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,需要采用SD 滤光片轮消多级光谱。
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日本日立 色谱数据系统 ChromAssist Data Station
- 品牌:日立
- 型号: ChromAssist Data Stat
- 产地:日本
日立高效液相色谱仪(以下简称HPLC)性能优异,数据可靠性高,结实耐用,得到了用户的广泛认可。日立色谱数据系统ChromAssist可实现从HPLC模块控制、分析到报告等全系列操作。ChromAssist的各项功能均以客户需求为导向,能轻松完成HPLC的分析操作。
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卓立汉光 相机特性参数测试系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: ZLHG-04
- 产地:通州区
卓立汉光提供了自动化软件控制,一键完成各种测试并快速获得结果,将评估时间从数小时或数天缩短至数分钟。
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卓立汉光 漫反射率测量系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: ZLHG-02
- 产地:通州区
系统搭配光源与探测器可覆盖紫外到近红外波段,系统采用单色光扫描测量漫反射率,各波长输出具有单色性高与杂散光低的特点,相较于复色光以光纤光谱仪的漫反射测量有更高的可靠性。
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美国Lake Shore Microscopy显微光学超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: Microscopy
- 产地:美国
Janis Microscopy显微光学超导磁体系统被设计用于与ST-500型高稳定性显微光学低温恒温器一起使用,实现在7 T磁场及3.5 K~420 K变温环境中的显微光学测量。该系统配备用于样品扫描和聚焦的X-Y-Z平移台,可在低温强磁场下的进行显微拉曼、荧光、磁光克尔等多种光谱测试。
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美国Lake Shore OptiMag湿式超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: OptiMag
- 产地:美国
标准OptiMag系统(OM系列)配有6-9T磁场、直径为1.25~1.75英寸的样品腔、有效容积为12升的液氦杜瓦以及沿着磁场轴向的底部光学通道。该系统静态低温保持时间约60小时,1 cm直径球形范围内的磁场均匀度为±0.5%或±0.1%。更大的OM系列型号可提供更强的磁场(10T-12T)、更大的样品腔内径、更长的运行时间和更好的均匀度(1cm直径球形范围内的磁场均匀度可达±0.01%-±0.001%)。
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美国Lake Shore 无液氦超导磁体系统-DryMag
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: DryMag
- 产地:美国
Janis DryMag超导磁体在不使用液氦的情况下提供强磁场和低温环境。样品在整个温度范围内由静态氦气热交换气体冷却,可将固体、粉末、液体和形状不规则的样品均匀冷却至1.5 K。铜样品腔和样品座上的加热器和温度计与双通道控温仪一起使用,用于快速和精确的样品温度控制。
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美国Lake Shore SuperVariMag湿式超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: SuperVariMag
- 产地:美国
Janis的标准SuperVariMag 超导磁体系统可提供6 T-9 T(NbTi超导线圈)和10 T-14 T(Nb3Sn超导线圈)磁场,1-1.5英寸的样品腔,并配有有效容量为20 L的敞口液氦存储罐(位于带蒸汽屏蔽层的绝热杜瓦中)。标准系统除提供垂直磁场外,也提供双线圈或三线圈的分立线圈超导磁体,产生各种强度的横向或旋转矢量磁场。
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新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: M81-SSM
- 产地:美国
新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM 系统为先进测量应用提供了一种简单而直接的方法。M81-SSM消除了多种特定功能仪器安装的复杂性,将直流和交流源的便利性与测量相结合,包括了锁相的灵敏度和测量性能。这种噪声极低的同步信号源和测量系统可确保很小的仪表空间内(每台半机架)具有 1~3 个信号源通道和 1~3 个测量通道的固有同步测量功能,因此可高度适应各种材料和器件研究应用。
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英国Vision CMM三坐标测量系统 DELTRON
- 品牌:英国VISION
- 型号: DELTRON
- 产地:英国
专为空间宝贵占地面积有限的车间/生产场所而设计。Deltron是一款强大的CMM三 坐标测量系统,占地面积小,可以单独使用,也可以集成在一个制造单元中。具有最 先进的Delta机构,高水平的测量精度和重复性,还有强大而易用的软件。
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电子轴偏差测试仪 玻璃瓶垂直轴偏差测量仪
- 品牌:济南赛成
- 型号: 1ZPY-G
- 产地:济南
◎ 360°全角度补偿测量偏差,确保测量数值更JZ。 ◎ 系统自带微型打印机,上位机数据无限储存。 ◎ 专业电脑测控软件,曲线图显示,数据保存,EXCEL统计,打印A4试验报告。 ◎ 软件用户分级权限管理,数据统计及审计功能满足行业要求。
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SFA在线矿石品位智能分析系统
- 品牌:美国SFA
- 型号: SFA
- 产地:美国
SpectraFlow在线矿石品位智能测量系统由卤素光源、分光镜、探测器三部分构成,利用近红外光照射样品,通过测量样品对近红外光的吸收,得到近红外光谱,反应样品的基本组分。
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物联网自动风沙监测系统
- 品牌:北京曙光新航
- 型号: 42
- 产地:通州区
风沙自动监测系统,核心为自研发自动集沙仪,利用高精度称重传感器,采集的风沙量;沙通量传感器通过砂流冲击和风层流摩擦引起的内部声压变化来确定飞沙流的强度和速度。
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走航式涡动相关系统
- 品牌:北京曙光新航
- 型号: 37
- 产地:通州区
海气界面通量的研究对海洋生态环境、刻画大气波导特征和提高海洋大气耦合数据模式预报能力等方面具有重要应用价值和科学意义。
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船载气象测量系统
- 品牌:北京曙光新航
- 型号: 36
- 产地:通州区
船载气象站可以从只显示数据的简单的气象站到自动的船载气象观测系统都可以测量左右弦风性,计算逆风设置,校正由轮船行驶方向或速度所引起的误差。
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土壤剖面CO2廓线测量系统
- 品牌:北京曙光新航
- 型号: CO2
- 产地:通州区
土壤空气中CO2主要来源于土壤呼吸,其浓度主要决定于生物因素(植物根系、土壤微生物活性等)和环境因素(土壤温度、含水量等)。研究了解土壤空气CO2浓度剖面分布、季节动态及其影响因素,有助于人们认识土壤中CO2产生、累积、输运以及向大气排放的生物和物理过程。
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美国Hinds 双折射显微成像系统(abrio替代产品)
- 品牌:美国Hinds
- 型号: MicroImager
- 产地:美国
Hinds Instruments 公司的MicroImager偏振显微/双折射显微成像系统是一款基于穆勒矩阵的偏振显微镜,可以测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合ccd多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性,可以用来分析检测生物样品/材料特定。在市场上,CRI公司曾经推出过一款叫Abrio成像系统的基于穆勒矩阵的偏振显微镜,但很可惜的是由于业务调整的原因,Abrio成像系统已经停产。Hinds Instruments 公司的MicroImager偏振显微(
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近场光束分析仪 - NFBP系列
- 品牌:德国Cinogy
- 型号: NFBP系列
- 产地:德国
CINOGY推出的近场光束分析仪NFBP系列适用于测量聚焦的激光光束和近场成像的光纤终端或激光二极管输出表面的激光光束。该装置基于紧凑的CinCam CMOS相机,可以用不同的显微镜物镜组装。这些校准的显微镜物镜保证了准确性,并能在衍射极限下成像小光束结构。
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Gatan SmartEMIC 电子束感应电流测量系统
- 品牌:美国Gatan
- 型号: Gatan SmartEMIC
- 产地:美国
BIC分析系统,可以实时软件控制全自动采集电子束感生电流(EBIC)信号,获得EBIC图像信息,还可以获得IV曲线信息,ZZ可以测试PN结位置,宽度,少子扩散长度,材料或器件的失效点定位,广泛应用于电子半导体领域。
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聚焦光束分析仪 - CinSpot AUT-1204系列
- 品牌:德国Cinogy
- 型号: CinSpot AUT-1204
- 产地:德国
聚焦光束分析仪 CinSpot 系列产品来自德国激光光束分析仪生产厂家 Cinogy 公司,主要是针对聚焦后的激光光束的测量和分析的测量设备,覆盖 UV~NIR 波段,可测量的焦点光斑尺寸为Min. 3um。主要用于测量焦点光斑尺寸、焦点位置、M^2、瑞利长度、激光功率等等。
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德国Cinogy Vcsel光束在线测量系统
- 品牌:德国Cinogy
- 型号: Vcsel
- 产地:德国
专用于3D人脸识别中Vcsel激光器的发散角、光斑尺寸等参数的在线测量系统
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德国Cinogy 工业专用M^2测量仪
- 品牌:德国Cinogy
- 型号: Industrial_M2_measurement_syst
- 产地:德国
产品介绍:Closed CinSquare system是CINOGY公司专门为工业客户设计的,用于测量激光器的M^2以及发散角等。为了能够满足不同工业客户的要求,CINOGY公司还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务,这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器,包过半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统,并且整个测量过程不超过2分钟,可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机,以及高
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美国Hinds 150AT应力双折射测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: 150AT
- 产地:美国
产品介绍:150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置,使得测量更有针对性(高精度/大范围相位延迟量),系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力(<1 mm grid spa
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美国Hinds 大型液晶面板高精度应力分布测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: birefringence_measurement_syst
- 产地:美国
产品简介Hinds大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统大尺寸,高精度液晶基板应力分布测量!Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统专用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度极高(0.005 nm),且特制平台扫描,专用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm )液晶基板应力分布测量,大型
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美国Hinds 非球面透镜应力双折射测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Exicor-OIA
- 产地:美国
产品简介:利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作(氟化钙)和特定形状(非球面透镜)有着du家的技术解决方案。应力双折射测量系统,非球面透镜应力双折射测量,应力椭偏仪,应力椭偏测量Hinds 公司的不规则非球面光学元件应力分布测量系统(应力双折射测量系统)通过对光的调制解调可以测出待测光学元件中的双折射大小和方向,这些数据同时也表示了应力的大小和方向。Hinds 公司这套不规则非球面光学元件应力
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美国Hinds 高精度偏振态(斯托克斯量)测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Stokes_Polarimeter
- 产地:美国
利用光弹调制器技术,Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度(Stokes parameter sensitivity: 0.0001)。速度上,也可以从一秒钟10组(40个)斯托克斯量提升到100组(400个斯托克斯量)。波段上,除了可见光波段,该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用斯托克斯测量系统,偏振测量系统,偏振测量仪,椭偏仪,偏振态测量仪利用光弹调制器技术,Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏
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美国Hinds 成像型穆勒矩阵测量系统 Mueller_Polarimeter_150XT
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Mueller_Polarimeter_150XT
- 产地:美国
穆勒矩阵测量系统高速高精度穆勒矩阵测量系统150XT 型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统,在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究,工业测量,光学组件偏振特性测量,制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持,可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟,圆偏相位延迟(或旋光),线性二向色性偏振衰减,圆二向色性偏振衰减图样。Hinds. Hinds
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德国PIVView 滤波瑞利散射 FRS
- 品牌:德国PIV View
- 型号: FRS
- 产地:德国
FRS可以同时测量速度场,温度场和压力场,无需添加任何粒子且为无接触测量。
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电光Q开关/普克尔盒
- 品牌:英国Gooch&Housego
- 型号: TX
- 产地:英国
G&H是一家晶体生产商,拥有数十年的光电设备设计经验。生产一系列的普克尔盒,适用于从紫外线到红外线的各种波长。平均功率、重复频率和设计配置等因素决定了不同的设备组合。 利用专有的晶体生长、制造和抛光技术,G&H在偏硼酸钡(BBO)、碲化镉(CdTe)、磷酸二氢钾(KDP)和磷酸二氘钾(KD*P)中制造纵向和横向电极结构的普克尔盒。
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北廷测量 PIV系统 PivView
- 品牌:北京北廷
- 型号: PivView
- 产地:海淀区
同步器、Schemuflug底座、远程控制调焦调光圈系统、各种片光源系统、导光臂等等。
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北廷测量 示踪粒子
- 品牌:北京北廷
- 型号: BT-01
- 产地:海淀区
PIV, LDV系统在测量中需要在流场中加入示踪粒子,示踪粒子的选择、注入方式等直接影响试验的结果信噪比、测量准确度。
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德国PIVView 自动坐标架1D/2D/3D Traverse
- 品牌:德国PIV View
- 型号: 1D/2D/3D Traverse
- 产地:德国
图像测速系统(PIV,MTV),LDV系统,PLIF系统,都需要自动坐标架布置相机、探头,以方便试验。
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德国PIVView 远程调焦、调光圈系统 Remote Control
- 品牌:德国PIV View
- 型号: Remote Control
- 产地:德国
图像测速系统(PIV,MTV)测量过程中,需要随时调节焦距和光圈,观察试验效果
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北廷测量 线性激光多普勒测速仪 PS LDV
- 品牌:德国PIV View
- 型号: PS LDV
- 产地:德国
LDV的测量体是一个椭球体,椭球体的长轴从1mm到几mm,短轴从100多微米到几百微米不等。示踪粒子从测量椭球体的任意一个位置穿过,都会得到多普勒速度信号。
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开路涡动协方差监测系统(EC150)
- 品牌:美国Campbell Scientific
- 型号: EC150
- 产地:美国
独立的红外CO2/H2O气体分析仪,专为涡动相关通量测量而设计。
- 精密测量系统
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