供应商：香港电子器材有限公司

产品检测Condor 100 系列用于HVM at End-of-Line的晶圆表面检测　• 创新的图像采集技术，高探测灵敏度• 可控制独立暗域和明域的检测通道和精密的算法取得**TPT/Envelop灵敏度的结果• 工业标准的探针标记检验和CMOS图像传感器应用• 自动缺陷分类• TSV 深度和探针标记分析 (可选性的)• 符合工厂自动化标准，以满足高分辨率和生产率的要求，处理上百种产品的封装和测试• 不需TPT便可on-the-fly图像采集和智能彩色图像采集，包括过滤和排序的在线和离线审查 

供应商：宁波云太基智能科技有限公司

云太基掩膜测量仪是在智能测量仪版本上细分的针对掩膜、晶圆开发的标准机，可实现标准6寸、8寸盘背光、表面光的自动拼接及识别，并实现缺陷判断。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等；

供应商：宁波云太基智能科技有限公司

自动视觉检测仪 WiseOne A是一台能覆盖全外观缺陷检测标准化影像机器人WiseOne C的基础上升级的第二代产品，采用负载更大，行程更远的六轴串联机器人附带高速相机进行检测。

供应商：宁波云太基智能科技有限公司

一次检测可以完成全部外观或尺寸的检测的创新产品

供应商：宁波云太基智能科技有限公司

智能测量仪WiseOne AM是云太基科技历时三年研发，全力打造的自动视觉测量仪。相比市面产品在软硬件上实现了多点突破，如：任意摆放，自动变倍（ZD倍率可放大到300倍），智能光源（可拓展表面缺陷的判断）,表面测量（实现600张的无缝自动拼接）

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS Camtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。 我们独特的灵活平台支持MEMS产业广泛的应用程序。 各种处理配置和特殊的发展可以支持各种晶片大小和类型

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查 Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。 我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out Camtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out 的过程。 我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。 系统生成各种报告,增加产量和提高产量。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。 我们完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖zui先进的产业需求解决产业路线图。 该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查 Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场zui苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等；

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

EagleT-i是AOI市场上2D检测速度zui快的设备之一，其中囊括了CAMTEKzui先进的机构、zui新的镜头、zui高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似，都是通过工业相机进行图像采集，然后用影像处理软件对图像进行分析，对于不同的检测应用，他们的软件中有专门的算法来做判断。所以他们的产品优势在于影像处理的硬件和软件方面。 主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等；

供应商：动力博石（广东）智能装备有限公司

一、产品简介        适用于对质量要求高的陶瓷基板、IC载板、电路板的缺陷检测，包括：划伤、异物、粗糙、短路、开路、凹坑、露铜、脱落、氧化、线路不良、裂纹、残留、发黑、变色、气泡、渗镀、图形不良、孔损坏、针眼、残铜、缺铜、缺角、脏污等缺陷。二、应用场景        包括线路板生产厂家、电子制造企业、半导体制造企业在生产、质量控制等环节需要进行外观检测的场景。三、产品亮点1、高分辨率彩色线阵相机，搭配高亮多角度多波长

供应商：倬昊纳米科技（上海）中心

提高您的生产效率对切割的晶圆进行可靠检测是进一步芯片加工的基本前提。因此，德国Intego公司开发了特殊的方法来可靠地检测和检查切割道的微裂纹。例如，FFC 上芯片的箔波纹度和高度差异对检测过程没有明显影响。借助这项开创性技术，可以显着提高检测性能并缩短检测时间。Intego 基于干涉原理的创新型切割晶片裂纹检测已被证明是特别强大和可靠的。模具中最小的微裂纹，否则将保持隐藏，现在可以以前所未有的灵敏度进行光学检测。另一个特殊功能是定制的卡盘设计和 FFC处理概念。根据要求，该系统可以配备一个自动末端执行器

供应商：倬昊纳米科技（上海）中心

提高您的生产效率在外延层的生产中，由于衬底质量不完善、与工艺相关的污染和涂层工艺，可能会出现各种不同的缺陷。为了安全可靠的检测，有各种复杂的检测方法可供选择。特别是，光致发光和 DIC 显微镜能够可靠地检测关键晶体缺陷，在某些情况下，如果不及时检测，可能会导致组件故障。曝光和注入错误的检测以及重叠偏移和 CD 值的控制对于微电子产品的复杂制造至关重要。Intego 的检测和测量系统还得到其专有的基于 CAD 的缺陷检测和晶圆良率预测软件的支持。除了经典的评估算法外，还提供用于缺陷检测和分类的高级神经网络。

供应商：倬昊纳米科技（上海）中心

提高您的生产效率二十多年来，德国Intego公司一直为晶圆生产提供标准和定制的光学检测系统。生产无瑕疵晶圆并持续提高良率是半导体行业的重中之重。早期检测损坏的晶圆不仅可以节省不必要的工艺时间，而且还可以避免因晶圆破损而导致的长时间停机。根据生产步骤的不同，可以使用不同的检测系统。除了用于晶圆正面和背面的经典表面检测系统外，Intego 还提供用于检测微裂纹的特殊解决方案以及对晶圆边缘和缺口区域进行 100% 检测的新颖解决方案。这些系统的特点不仅在于其创新的检测解决方案，还在于其定制的处理理念和全面的缺陷

供应商：倬昊纳米科技（上海）中心

一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡

供应商：深圳市联欧贸易发展有限公司

激光自动对焦和跟踪系统，用于自动光学检测系统和工业显微镜 可选步进/伺服电机控制接口 适用于显微镜镜片从低到高放大倍数，VIS，NIR，NUV，DUV UI界面与软件库

供应商：靖江市森博机电科技有限公司

J1 Optimes提供快速准确的解决方案，可自动测量旋转部件的所有外部尺寸。只需将工件放在2个支架上，它立刻开始测量。几秒钟后，软件将光学测量轴下的零件移动并读取所有预定义尺寸 该设备旨在确保对外部干扰（振动，温度，光线等）具有非常高的不敏感性。该优点使得可以在生产机器附近和控制实验室中使用测量仪器。 根据微机械的要求，测量的精确性和可重复性使Optimes J1wan美地集成到您的质量控制过程中。测量的速度和简单性可确保大量节省时间。