ESD/TLP

hanwa W5000M 晶圆级ESD测试仪，从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)

C5000R 全自动CDM测试仪是符合日本及国际标准的高可靠性设备(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)，可通过交换放电电路组件支持日本国内及国际的测试规格，可测量器件的各个端子的充放电能力,测试数据可保存为文本文件形式。

HANWA新一代G5000系列ESD静电破坏检测机隆重登场。 搭载多Pin脚无继电器的GNC模组（上限支持MAX2048pin），完全不受寄生电容的影响，实现高精度检测。

hanwa T5000 高性能TLP用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试，通过该测试可以清楚的了解到元器件的抗静电能力的特性参数，器件开发人员通过这些参数可以了解到元器件ESD设计窗口，从而对元器件保护电路作进一步改进；该设备也可通过给GATE端加DC电源，测试功率器件的SOA特性曲线。