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Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。
Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统
Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统在高度不超过9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸,以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在0.25英寸到3.5英寸的焦距范围内进行测量。伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、准确的可编程样品定位。悬臂门设计方便操作人员进行样品放置
X射线测厚仪 HS01-DY20型
可用于钢板、橡胶板、止水带等的在线精密测量和控制
Sciteq多层管材X射线测厚仪
韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000
全自动样品台; 多种尺寸的准直器可选,适合各种大小产品的镀层测试; 镭射对焦系统,避免人为肉眼对焦产生测量误差。
浪声 X射线荧光测厚仪 镀层分析仪 INSIGHT PCB、晶圆版
晓INSIGHT旨在为镀层分析应用提供精准高效的分析方法。晓INSIGHT易于操作,配置灵活,可轻松超薄镀层的挑战。
日立 FT230型X射线荧光测厚仪(正比例计数器)
日立 FT230型X射线荧光测厚仪(正比例计数器)包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。
天瑞仪器X荧光测厚仪Thick800A
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移动端:X射线测厚仪/荧光测厚仪
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