轮廓仪

供应商：优尼康科技有限公司

Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的超大视场范围，同时其最大4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。

供应商：北京东方德菲仪器有限公司

3D光学轮廓仪S neox 将共聚焦、干涉和多焦面叠加3种测量技术融合于一体，测量头内无运动部件。3D光学轮廓仪S neox 为客户展现全新的3D立体形貌。

供应商：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

ContourGT 系列产品结合先进的64位，多核心运作及分析软件，专利的白光干涉仪（WLI）硬件，以有前所未具简易操作度，为目前所开发量先进的3D光学表面轮廓仪。

供应商：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

德Bruker光学轮廓仪ContoruGT-表面量测系统-供生产QC/QA及研发研用的非接解触型光学轮廓仪,ContourGT 系列产品中包含有旗靓级ContourGT-X, 进阶级ContourGT-1及入门等级的桌上型K0,每款机型可提供多种加工与制造业市场上各种应用范围（包括高亮度LED，太阳能，眼科，半导体及医疗装置等）。NPRLEX 为大尺寸工件精密加工提供非接触准确测量。

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置，极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜，升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录，更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说，传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此，三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2. 金属表面二维、三维测量结果比较 其典型应用领域包括不同表面粗糙度试样的三维表面形貌观察（如晶片结构，镜面，玻璃，金属），台阶高度测定和曲面精确测量（如微型透镜）。当前，许多研究机构都有三维表面形貌测量设备的采购需求。但事实上，只要满足下列条件，世界上多数知名品牌的传统光学显微镜都可以升级为高精度三维表面形貌测量设备：* 无限远、中间像光学系统；* 反射明场照明系统；* CCD摄像头接口；* 可更换物镜的镜筒位于德国Ilmenau的GBS公司已经成功利用其SmartWLI显微镜升级技术为蔡司、尼康、莱卡、奥林巴斯等众多品牌的传统光学显微镜完成升级工作。其基本原理为白光干涉一种成熟的三维表面形貌测量方法，测量精度可以达到亚纳米量级。同传统的单色光干涉技术大为不同，SmartWLI白光干涉技术采用相干长度达到2um的宽频带光。实际测量必须深入相干区域扫描，每隔70-80nm取样。而单色光干涉技术多用激光，相干长度达到数千米，不能用来观察纳米级的区域。当光程差接近相干长度时，干涉差变得更小。通过参考面，以设定好的步频移动被测物体，每移动一个步频，记录一个干涉图样，这样大量干涉图样就以像素为单位记录下来。若数据的采集与处理同时进行即可在数秒之内得到测量表面区域的高度信息（形貌特征）。GBS公司研发的Smart WLI软件可以对测量数据进行高速运算。三维数据的计算任务转交图形处理器（GPU）完成，一百万测量点的数据处理时间可从30秒降到1秒以内。SmartWLI显微镜升级技术特征德国GBS公司的SmartWLI 显微镜升级技术可以将传统二维显微镜升级为先进的三维表面形貌测量设备。该技术涉及硬件组件包括：* 一套基于压电效应、由电脑控制的定位系统（定位精度在纳米量级）；* 一款高质量的干涉透镜；* 一款高灵敏度CCD摄像头,带有GigE接口；选件：电动XY轴平台、高性能电脑与拼接技术，可实现大表面三维形貌测量。PC配置要求：因特尔i5处理器，微软Windows操作系统，4G内存，具备高速计算能力 的英伟达图形处理器（NVIDA GPU）,TFT液晶显示屏，键盘与鼠标。GBS SmartWLI显微镜升级技术选用的压电调节器由德国Piezo System Jena公司开发研制。该款MIPOS透镜调节器纵向方向（Z轴方向）扫描范围可达500 um，可选择相干透镜（物镜）的放大倍数在2.5倍到100倍之间。GBS公司开发的SmartWLI软件具备操作直观、数据分析快速、纳米级精度显示等优点，可以对采集到的三维测量数据进行基础运算。经SmartWLI软件处理后的三维测量结果，可再交由图形分析软件MountainsMap做进一步处理，最终可得到二维、三维表面形貌图像、粗糙度、台阶高度、微粒分析与报告等。 基于图形处理器GPU的高速运算功能，三维测量数据运算可以与形貌扫描同步进行。在不过度占用电脑中央处理器（CPU）与内存空间的前提下，实现大范围的三维形貌测量。显微镜升级后的主要测量参数：纵向测量范围: 最大可达400 um横向测量范围： 649 um×483 um (10倍物镜)；324 um×241 um (20倍物镜) 129 um×96 um (50倍物镜) (注意：上述数据皆为估算值，实际横向测量范围需参考用户现有显微镜参数)纵向(Z轴)分辨率: ＜1 nm横向分辨率: 1.66 um(10倍物镜)；0.96 um(20倍物镜)；700 nm(50倍物镜) 扫描速度： 3.6 - 16 um/s 计算时间: 一百万测量点数据/一秒内SmartWLI显微镜升级技术的其它优势：* 无需新的设备技术，缩短培训周期；* 利用现有测量平台，节省实验室空间；* 保留原有二维测量功能，兼具三维测量能力；* 立足用户原有组件，大幅节省升级费用； （可利用组件包括：光源、镜筒、镜头旋转器、Z轴调节器、XY轴测量平台）。* 全面的三维表面形貌测量功能自动拼接技术与钻石磨削头的三维表面形貌测量升级后的显微镜可以对钻石磨削头进行纳米级分辨率的三维表面形貌测量，可得到表面钻石的形貌和体积。我们可借助本次测量实例，深入了解一种SmartWLI 显微镜升级技术独具的“自动拼接”功能 - 即将大量二维测量区域上的“干涉图样摞”再次叠加，生成更大检测区域的三维图像。软件上的“自动拼接”功能结合硬件上的电动XY轴平台，就可实现更大表面的三维形貌测量。 图3.钻石磨削头三维表面形貌测量结果 （10倍物镜，3×3阵列拼接） 图3所示为选用10倍物镜，以3×3阵列（9倍单位扫描区域），经“自动拼接”得到的三维表面形貌测量结果。借助“自动拼接”功能，可以在数分钟内实现大表面（百倍以上单位测量区域）的三维形貌测量。结语：德国GBS公司SmartWLI 显微镜升级技术为传统光学显微镜提供了一种全新的升级方式。经验丰富的GBS工程师可以为您升级现有的显微镜，培训操作人员。SmartWLI显微镜升级技术不但不会对用户现有显微镜的固有功能造成损害或限制，还可以兼容其原有软件。1) 德国GBS公司官网：www.gbs-ilmenau.de2) 德国WinWinTec公司（GBS中国市场渠道商）官网：www.winwintec.com

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度，外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面，轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序，应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点： 通用型 精度高 测速快 稳定可靠 自动拼接SmartWLI- 扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数：花岗岩基座、脚架电动X Y双轴样品台（尺寸：226 x 232 mm2；移动范围：76 x 52mm2） 测量端配物镜转换台、同时兼容4款物镜PC界面、Windows 7系统，NVIDIA 图形处理器具备超速运算功能SmartWLI形貌测量软件、“自动拼接”功能MountainsMap三维图像处理软件 MountainsMAP分析软件作为一款高品质的表面成像与分析软件，MountainsMAP 适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案，专用于表面外观及形貌的成像与分析，提供详尽的三维可视化测量报告。 SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm摄像头参数CCD摄像头；1624x 1234相素干涉物镜系统放大倍数MAG视场范围FOV (mm)横向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED测试时间通常＜20秒软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统，64位表面形貌测量软件；三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件，轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标（DIN）欧标（ EN） ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三维轮廓仪产品信息，请访问www.WinWinTec.com与 www.smartWLI.de（2012年1月技术数据）SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（一）-液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（二）-晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（四）-透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（五）-金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（六）-汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（七）-粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果（八） - 发动机汽缸

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点：5cm直径视场（光斑），800μm垂直测量高度，无需拼接即可在短时间内（通常1分钟）完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务！SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪，专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理，操作简单， 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构，便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统，便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成数据分析，测量结果立体直观呈现。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪方便携带、易于运输。现场安装与启动几分钟内即可完成。适用于工业产品表面快速、纳米级精度测量。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点：灵活便携操作简单厘米级视场纳米级精度典型应用领域包括：质量管理工艺控制产品研发 SmartVIS 3D测量软件 欧元硬币表面三维形貌测量图数据分析与结果输出：样品表面三维形貌图解表示几何分析（长度、角度、面积测量；不规则区域、坑洞体积；样品表面台阶高度与侧面轮廓剖面图）粗糙度分析（样品粗糙度与表面波度）材料属性分析（材料摩擦磨损实验测定）区域计算与轮廓参数（满足ISO 25178 : Sa, Sz… 与ISO 4287 : Ra, Rz…标准要求） SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达800 μm摄像头参数CCD摄像头；1624x 1234相素校平系统三束激光干涉物镜系统视场范围（mm2）35 x 35最小可分辨横向宽度（um）28工作距离（mm）10垂直分辨率小于10nm光源系统LED外观尺寸295 mm（高）× 180 mm (宽) × 245 mm（长）支架高度调节范围（三脚螺纹支架）大约5-30 mm毛重约3.5 Kg 操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统量测时间通常小于1分钟工作温度10-35℃推荐工作温度18-22℃软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统，64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件，轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标（DIN）欧标（ EN） ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 车身部件表面三维形貌测试结果 印刷行业：激光凹版容积 （油墨消耗）工艺控制产品研 注塑行业：注塑机的校准 硅晶片表面波纹度与粗糙度测试 其它测试结果欣赏 其它测量结果欣赏

供应商：上海巨纳科技有限公司

n产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术，结合CCD的影像摄取，以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞，再将物镜垂直移动，以类似断层摄影方式，可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式，不会破坏样品的表面，不需要在真空环境下测量，也可以用显微镜测量的功能来观测样本，其在严酷的工作环境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在测量渐变较大的高度时，跟其他方法相比，可以更精确量测物体高度，建立3D立体影像，优势相当明显。NanoFocus μsurf mobile移动式3D测量系统，适用于对大型样品的测量，所以可以在很多恶劣的环境下进行使用，并且不会影响到使用寿命。当人们还在为测量物体太过于庞大而一筹莫展时，μsurf mobile移动式3D测量系统的横空出世彻底解决了人们的这个困惑，该机台不需要移动庞大的被测物体，只需要带着便捷的μsurf mobile，放在被测物体上，就可以在短时间内得出精确的三维表面形貌。n应用μsurf系列用来测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。μsurf mobile主要对大型样品进行测试，在以下几个行业中被众多知名企业广泛使用：ü汽车行业ü印刷和造纸行业ü钢铁行业n技术参数LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h测量时间：5~10秒测量原理：非接触、共聚焦、可移动，可以检测大型的物体X/Y方向移动范围：50mmX50mm，马达驱动，X/Y方向分辨率：0.3μmZ方向移动范围：35mmZ方向测量范围：250μm，Z方向分辨率：< 10nm物镜：10X、20X、50X、100X(可选)计算机：高性能计算机控制系统，功能强大且全面的软件，有拼接功能工作电源：90-265 V, 50-60 Hz, input < 50 W（也可用电池做电源）材质：钢铁、橡胶、大理石外型尺寸：380*110*115mm重量：5.5KG（不含防震拉杆箱）洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)设备咨询联系人:Ronnie Chen电话：+86-13651969369 +86-21-61533166

供应商：德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

仪器简介： NT9100光学轮廓仪是一款使用便利、性能卓越，性价比高的非接触无损伤三形貌维测量仪器。Wyko最新的第九代系统采用独有的双LED照明光源专利技术，能够更好的检测超光滑表面及非常粗糙的表面；它的测量范围可达亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。作为第九代白光干涉仪的桌面机台，NT 9100同样具有大机台才有的优点：简单易用的操作方式、快速数据获取能力、强大的软件功能及埃级的重现性等。同时，可选配的X-Y自动平台，使NT9100具有程序化处理样品的功能。 技术参数： 1、纵向扫描范围：0.1nm~1mm (标配） 2、最大扫描速度：24um/s 3、样品台尺寸：100mm 主要特点： 1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

供应商：德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

仪器简介：Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能，纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了Veeco专利的内部实时激光参考信号进行持续的自校准，减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要，并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领先的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品，NT9800 具有最高的自动化水平，友好的用户界面，以及业内最好的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验证的测量技术核心以及适合于各种专业应用需要的软件功能，使 NT9800 成为世界上最先进的光学干涉测量设备，可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。技术参数：1、纵向扫描范围：0.1nm~1mm (标配） 2、垂直扫描速度：25um/s 3、样品台尺寸：200mm主要特点：1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

供应商：北京亿诚恒达科技有限公司

多功能摩擦磨损测试

供应商：北京亿诚恒达科技有限公司

ContourGT 非接触3D光学轮廓仪 ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界最高垂直分辨率极高的可靠性和最好的测量重复性最高的表面测量和分析速度最强的使用性，操作简便，分析功能强大30年技术革新，实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。业界最高的垂直分辨率，最强大的测量性能0.5倍至200倍的放大倍率，在极宽的测量范围内，对样品表面形状和纹理进行表征。任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。高分辨率摄像头可选配件，提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。多核处理器下运行的Vision64? 软件，大大提高三维表面测量和分析速度新的软件设计使数据处理速度提高几十倍。多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。无以伦比的无缝拼接能力，可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图像  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性，测量准确度和重复性。高度直观的用户界面，拥有业界最强的操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程，从而提高仪器和操作者效率独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项用户可自行设置数据输出的界面 三十年技术创新，迎来第十代全新产品我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术（VSI模式），扫描头倾斜调整，专利的自动校准和双LED照明等革新技术。ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能，又在硬件上进行了大量的改进，从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的，将近三十年的优越性能运行跟踪记录，从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。 ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件，此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果，从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术，在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜，以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。ContourGT系列可选择型号中，具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力，使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号，在仪器启动时对系统进行自校准，然后连续监控并校正每次测量，以保证绝对的精确度和卓越的重复性。Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜，而不是样品倾斜。这样，被测量的样品将总处于聚焦位置，并且在测量的视野中，确保了操作的一致性和简易性。*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜，从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时，您的测试点始终处于聚焦和中心位置。在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。辅助操作灯泡*塔台自动样品台倾斜调整支架*自校准功能*光学计量模块(OMM)卓越的震动隔离性能*

供应商：北京亿诚恒达科技有限公司

DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。DektakXT 完美设计探针系统的评价体系受三个因素影响：能否重复测量，数据采集和分析速度快慢，操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和最佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素，达到最佳的仪器使用效果。强化操作的可重复性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在设计上的几个提高，使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现，台阶高度重复性可以到达5?.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时，Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善，提高其稳定性，降低温度变化对它的影响，并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到最低，DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用，大大降低了扫描台的噪音，增强了稳定性，使其成为一个极具竞争力的台阶仪（表面轮廓仪）。提高数据采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用独特的直接扫描平台，DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间，来提高扫描效率。这一改进，大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下，可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面，简化了实验操作设置，可以自动完成多扫描模式，使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。完善的操作和分析系统 PerfectingOperationand Analysis与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能结构，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。DektakXT 技术参数—台阶高度重复性5?—Single-arch设计大大提高了扫描稳定性—前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰—新的硬件配置使数据采集能力提高了40%—64-bit，这一Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。功能卓越，操作简易—直观的Vision64用户界面操作流程简便易行—针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的世界领先地位—布鲁克的台阶仪，体积轻巧，功能强大。—单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围

供应商：深圳市中图仪器股份有限公司

SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪性能特点：1、 高精度、高稳定性、高重复性：完全满足被测件测量精度要求：1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统，测量精度高；2) 自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作；3) 高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好；2、 智能化管理与检测软件系统：仪器操作界面友好，操作者很容易即可基本掌握仪器操作，使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验，向客户提供简洁、实用、快速的操作体验；2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告，自动显示、打印、保存、查询测量记录；3) 测量范围广，可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量；4) 可自动和手动选取被测段进行评定，可依据客户要求进行软件功能的定制；5) 纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检定操作时间；7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检定结果。3、 可进行多参数测量：粗糙度自动评价，包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 测量力系统： 采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN连续可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。5、 智能保护系统：一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大，仪器会停止扫描保护测量系统和测针。6、 灵活手动控制：仪器配置了操作杆，可在测量工件前对测针进行粗定位；在脱离电脑的情况下，让测针左右、上下快速移动。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪用途：SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、轴承、机床、摸具、精密五金、光学加工等行业。该仪器可测量各种精密机械零件的粗糙度和轮廓形状参数。用拟合法来评定圆弧和直线等。从而可测量圆弧半径、直线度、凸度、沟心距、倾斜度、垂直距离、水平距离、台阶等形状参数。该仪器还可对各种零件表面的粗糙度进行测试；可对平面、斜面、外圆柱面、内孔表面、深槽表面、圆弧面和球面的粗糙度进行测试,并实现多种参数测量。本仪器依据GB/T3505-2009、GB/T6062-2009、GB/T10610-2009国家标准及ISO5436、ISO11562国际标准制造。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪技术参数：1. 粗糙度测量:●基本参数：测量范围：X轴200mm，Z1轴±80μm / ±40μm / ±20μm直线度误差: ≤0.15μm/20mm，≤0.5μm/200mm示值误差：±5%分辨率：Z1轴0.04μm(±80μm), 0.02μm(±40μm), 0.01μm(±20μm)测量速度：0.5 mm/s 和0.1 mm/s可调●硬件结构：测针：标准型(高度小于8mm) 1支，触针半径2μm，静态测力0.75mN；大理石平台：尺寸≥800×450mm；电动立柱：高度≥450mm；●测量软件依照ISO3274等国际标准, 能自动选取截止波长；●测量参数R粗糙度：Ra,Rq, Rz,Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,R3z,RSm,Rs，Rsk,Rku, Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr,Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,VoP轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr,W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMrMotif参数：R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CLISO5436参数：Pt,D轮廓类型: 支持D,P,W,R●滤波器：高斯滤波器、RC滤波器，相位修正滤波器滤波波段可选择，也可任意设定；支持自动选择符合标准的过滤方式和取样长度；2. 轮廓测量：（1）X轴测量范围：0～200mm；示值误差：±(0.8+2L/100)um，其中L为水平测量长度，单位：mm；分辨率：0.01um；直线度：2um/200mm测量速度：0.1～5mm/s；移动速度：0～30mm/s（2）传感器Z1轴：测量范围：±25mm；示值误差：±(1.6+|2H|/100)um，其中H为垂直测量高度，单位：mm；分辨率：0.01um；（3）Z轴：测量范围：0～450mm；移动速度：0～30mm/s；(5) 测量力：10～150mN；(6) 爬坡能力：上坡77 o，下坡83o；(7) 工作台：旋转角度：360度，X、Y移动 ：15mm。3. 仪器尺寸：花岗岩平板800×450×100mm 整机：850×500×1100mm；仪器重量：150Kg4. 使用环境：无强磁场，无振动，无腐蚀气体工作温度：20℃ ±2℃相对湿度：40-60%SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪标准配置：1) SJ5701-200粗糙度轮廓一体式测量仪主机 1台；(1)轮廓模块(2)粗糙度模块(含粗糙度测针)2) 组合校准规 1套；3) 圆锥硬质合金测针1支；4) 单切面硬质合金测针1支；5) 平口虎钳 1套；6) 万向工作台 1套；7) 测量软件1套； 8) 品牌计算机1套1）主机配置：双核以上CPU，500GB硬盘，2G内存，Win7系统；2）显 示 器：24寸液晶显示器。9) HP激光打印机1台（型号随HP厂家变更而变更）10) 铝合金仪器配件箱1个；11) 产品使用说明书1套；12) 产品合格证、保修卡1套；13) 免费保修1年。

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QM60 快速测量仪系列更“迅速”且“准确”，放置后仅按一键即可测量，是一种全新的尺寸测量形式。一次性测量长度、宽度、弧度、直径、角度、孔距等，大幅度提高了测量的精度和速度，有效地消除人为误差，是取代卡尺、投影仪、影像仪、工具显微镜等传统精密测量仪器的最佳选择。快速 fast一键式测量一个工件仅需几秒，可一次性测量多个产品工件，更高的效率让您专注于制造高品质的产品。简单 quick区别于传统的影像仪、工具显微镜等测量仪器。测量前需校正，测量时需要移动XY 坐标台, 操作复杂繁琐，QM60-V一键式测量仪无需繁琐步骤，半小时即可上手。准确 accurac任何人操作均可得到相同的测量结果。低成本 inexpensive无需担心技术的变革给您带来任何压力。QM60-H快速测量仪的技术参数：型号QM60-H测量范围（mm）35*30mm60*50mm90*75mm测量精度（μm）±2μm±3μm±5μm景深（mm）14mm40mm90mm图像传感器500万像素工业相机光源远心平行光源（绿色LED）软件维埃迪QM60快速测量软件工作环境温度20±5℃ 湿度30-80%QM60-H快速测量仪的应用领域：主要应用于消费电子，汽车零部件，医疗器械等行业的轴类及回旋体部件测量。

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非接触式3D光学轮廓仪S lynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。S lynx能够测量不同的材质、结构、表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将共聚焦、干涉和多焦面叠加3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。

供应商：北京东方德菲仪器有限公司

光学三维在线测量仪S onix的设计理念简洁、稳健并易于组装。S onix有着全面且灵活的测量能力，定位于多用途的工业在线测量系统。轻便、小尺寸的设计让装配变得更加简单，可以任意方向进行组装来满足不同方向上的测量应用需求。

供应商：北京东方德菲仪器有限公司

光学3D在线测量仪S mart是世界上首款将Focus varition（多焦面叠加）、Confocal（共聚焦）、VSI（白光干涉）三种成像技术融为一体 高性能在线光学三维形貌测量仪。

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产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。　 Ultima活体多光子显微镜应用：• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像，提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质：• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激精准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的无障碍空间• 样品保持静止，显微镜和扫描单元可XY方向精确平移• 可无缝整合第三方行为控制和电生理记录设备• 可灵活升级透射光路和桥式载物台Ultima InVitro采用经典的正置或倒置显微镜设计，主要用于脑片等组织切片、培养细胞的观察，或小鼠的在体观察。典型的Ultima InVitro应用包括神经信号传导、组织结构性质变化、蛋白运输和细胞内离子动态观察。Ultima Investigator采用正置显微镜设计，是最具性价比的Ultima多光子显微镜系统。功能强大的基础配置：Investigator配备了科学家进行大多数研分所需要的一切配置，包括扫描振镜、正置显微镜平台、电动Z调焦装置、激光导入和整形光路、两个荧光通道光路/PMT、模拟输入和输出电路、高性能工作站，以及全功能的Prairie View软件。灵活的升级配置：Ultima Investigator提供了大量 升级选项，用来满足最具挑战性的实验需求。Prairie View软件 (一键设定的成像模式)• 线扫成像• ROI成像• 全视野光激光• 点状或者螺旋状光刺激• 延时体成像• Z轴层切• 多维成像• 大视野拼图成像　Vutara 350 超高分辨率显微镜世界上最快的超高分辨率显微镜活细胞、高速、超高分辨率、3D成像分辨率20nm@XY, 50nm@Z，采用单分子定位技术，单层扫描时间10秒钟。　升级选项包括:• 激光器• 多色成像模块• 活细胞培养装置• 物镜• 全内反射成像模块(TIRF)Vutara SRX软件功能:实时渲染微管结构的超高分辨率图像结果。不同颜色表示不同的Z轴位置信息。Z轴定位信息 (共测量28个TetraSpeck荧光微珠，12nm的定位精度)。不同通道的共定位精度为：X=6nm，Y=4nm，Z=5nm。高速灵敏 并行处理超高速三维空间颗粒追踪单分子定位Opterra II 多点扫描激光共聚焦显微镜灵活高速定量的细胞成像系统应用：• 提供了扫描速度、分辨率和检测灵敏度的最灵活选择• 最佳的视场均一性，更适合定量分析• 最低的光漂白/光毒性，无论再敏感的样品均可进行三维的动态成像　海绵胚胎，40倍物镜，561nm激光激发，采集56个Z轴切片，切片间隔2微米，完成整个Z轴序列耗时一分钟。胰腺瘤切片，3D大视野拼图，六十倍物镜成像视野。2mmx1.5mm小鼠输卵管切片。Dimension FASTSCAN 原子力显微镜 (新一代高成像速度AFM)Dimension FastScan™ 原子力显微镜(AFM)将AFM的性能应用在高分子、半导体、能源、数据存储及材料领域等奈米级研究。在不损失超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。Dimension FastScan™ 原子力显微镜(AFM)是Dimension家族产品中的最新成员，以世界上最广泛使用的AFM平台为基础，Dimension FastScan™ 的温度补偿定位传感器使Z 轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y 方向达埃米级，在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。在大样品台、90 微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM 系统的噪音水平。Dimension FastScan™ AFM具有对大样品的自动成像能力，使之在半导体和数据存储设备的制造过程中广泛使用，它能够测量直径达200 mm的样品上测量100多个区域。它具有原子力显微镜和扫描穿隧式显微镜的全部配置，可以在三维尺寸上探测缺陷、测量表面粗糙度和其他特征，测量过程对样品无损伤并且无需对样品进行预处理和修饰。(1)Scanning Capacitance Microscopy (SCM)扫瞄电容式显微镜主要利用样品(一般为半导体)表面多数载子(电子或电洞)的变化来成像，于针尖和样品之间施加一交流偏压，针尖在样品表面进行扫瞄，藉由一超高灵敏度、高频震荡电路来监测针尖和样品之间的电容改变。SCM普遍运用于半导体制程中分析二维掺杂量分布和缺陷。   　(2)Conductive AFM (C-AFM) 导电式原子力显微镜之电流主要分析中、低导电度半导体的导电度变化。 CAFM 作为一般用途的量测时，使其电流范围可从fA到mA，并使用导电探针，在一般操作下会施加直流偏压于针尖上而让样品接地。当运用z回授讯号来产生接触式AFM影像时，电流会流通针尖和样品，藉以产生导电性的AFM影像。    (3)Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)扫描扩展电阻式显微镜专利之扫描扩展电阻式显微镜Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)是从Contact mode AFM衍生出的第二成像机种，主要作为半导体材料中二维载子浓度分布(电阻)成像之用。当施加直流偏压于针尖和样品之间，同时间一导电探针以接触方式扫描样品，并以10pA到0.1mA的对数电流放大器来量测针尖和样品之间所产生的电流。  右图为InP异质结构的SSRM影像，右图为Contact mode AFM影像(扫描范围为7mm) 由Lucent Technologies提供。在SSRM影像中的对比清楚地呈现异质结构的不同区域：锌掺杂p-型层和S掺杂的n-型层。(4)Surface Potential表面电位 Surface Potential (SP)表面电位成像，是从Tapping Mode衍生出的第二成像模式，利用样品表面的静电位来成像。当针尖于Lift Mode 下行经样品表面上方，由于针尖和样品表面各个位置的电位是不同的，所以悬臂和针尖会有一作用力，藉由变换针尖上的电压使得针尖上的电位和样品的表面电位维持一致来抵销作用力， SP影像用来侦测和定出接触电位的差异(CPD)。 右图为CD-RW Tapping mode量测图而左图为Surface Potential影像，只有在Surface Potential的影像中可呈现出bit(5µm扫瞄范围) 。。ContourGT 产品系列 - 表面量测系统- 供生产QC/QA及研发使用的非接触型光学轮廓仪ContourGT™ 系列产品结合先进的64位、多核心运作及分析软件、专利的白光干涉仪（WLI）硬件，以及前所未具简易操作度、为目前所开发最先进的3D光学表面轮廓仪。ContourGT 系列产品中包含有旗舰级ContourGT-X、进阶级ContourGT-I及入门等级的桌上型K0。每款机型可提供多种加工与制造业市场上各种应用范围 （包括高亮度LED、 太阳能、眼科、 半导体及医疗装置等）。 NPFLEX为大尺寸工件精密加工提供非接触准确测量。ContourGT-K0ContourGT-IContourGT-XNPFLEXBump球高度、圆度测量打线后的芯片铜线封装–打线最深测量及铝溅高测量Laser Marking 最深测量Contour GT-I配备倾斜调整支架、自动样品台和多物镜自动塔台，实现全面、精准的表面测量任务，满足科研和生产各领域检测需求。Contour GT-I采用Bruker专利的抗震测量技术，及节省空间高稳定性的基座设计，保证在生产车间测试环境条件非常苛刻的情况下，也能完成准确高效的产品测量。配AFM功能以实现1万倍放大倍数UMT机械性能测试仪CETR-UMT是唯一一个能够在单一平台实现所有三种检测类型的仪器，主要包括球-盘，针-盘，盘-盘，环-盘和四球的旋转运动；线性运动的球-盘，针-盘，盘-盘，环-盘及交叉柱；和密封轴承的快-环。盘 / 盘模块配备1000˚C高温腔的盘/盘模块配备300˚C高温腔的往复式模块纳米压痕模块* UMT-1 纳米材料和薄膜的纳米级，微米级力学综合性能测试，载荷范围：1微牛顿 - 10牛顿* UMT-2 显微材料和涂层的微米级力学综合性能测试，载荷范围：1毫牛顿 - 200牛顿* UMT-3 金属，陶瓷材料和润滑油宏观尺度力学性能测试，载荷范围：0.1牛顿 - 1000牛顿傅氏转换红外线光谱分析仪系统 (FTIR)- 利用红外线光谱经傅利叶转换进而分析杂质浓度的光谱分析仪器技术参数：1. 分辨率: 0.5cm -1，可升级至0.25cm -12. 信噪比优于40,000:1 (一分钟测试)3. 专利ROCKSOLID干涉仪，抗震性能优，免维护4. 可以连接红外显微镜、热失重，气相色谱、振动园二色5. 远红外、中红外、近红外多波段测量​

供应商：aep Technology中国办事处

仪器简介： 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描完美结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到超大样品整体三维轮廓图，又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台，有效解决了以往样品台扫面，由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。主要特点： 1、常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合 2、双模式操作（针尖扫描和样品台扫描），即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图 3、针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 4、在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 5、针尖扫描采用双光学传感器，同时拥有宽阔测量动态范围（最大至500μm）及亚纳米级垂直分辨率　（最小０.１nm ） 6、软件设置恒定微力接触 7、简单的2步关键操作，友好的软件操作界面

供应商：aep Technology中国办事处

仪器简介： 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。 主要特点： ◆微观二维（2D）和三维(3D)形貌轮廓获取 ◆多种测量功能 将采样数据运算后,可获得精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。 NanoMap 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能，纵向分辨率可达0.01nm。具有最高的自动化水平，友好的用户界面，以及业内最好的SPIP分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验证的测量技术核心以及适合于各种专业应用需要的软件功能，使 NanoMap 成为世界上最先进的光学干涉测量设备，可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。 特点： 能够同时测量形貌和粗糙度 能够测量小半径和小角度 标准真实的颜色信息 提供360°的形状和粗糙度测量 检测具有不同表面表征的表面 测量性能： 表面形貌测量 粗糙度测量 表面波纹度、轮廓度测量 体积测量与分析 二维图像-截面曲线测量 部分技术参数： 垂直分辨率：0.1nm 水平光学分辨率：3300nm 最大扫描高度：mm 最大扫描面积：mm2 应用 汽车工业 工具和刀具 造纸与印刷 刑事侦察 摩擦与腐蚀 医疗器械 微电子工业

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

德国BMT 波纹度Wsa 测试仪德国BMT（Breitmeier Messtechnik GmbH）作为德国的表面测量技术的领航者，在表面测量技术领域具有丰富的经验，能够对客户的需求做出快速灵活的判断，并为客户提供更加精准的、高性价比的、创新型的表面测量解决方案。其优势在于对非接触式（光学）、接触式表面轮廓仪和粗糙度测量仪器的研发。手动波纹度Wsa 测试仪 自动波纹度Wsa 测试仪数据分析

供应商：东莞市广丰计量仪器有限公司

【产品名称】 日本三丰CV-3000CNC/CV-4000CNC超级轮廓测量仪 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 货号*(100V-120V) 218-541-1 218-542-1 218-543-1 218-544-1 货号*(200V-240V) 218-541-2 218-542-2 218-543-2 218-544-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主机) 250kg 250kg 250kg 250kg *根据不同的交流电源电压及测量装置，可选不同的选件套装：12AAH790(公制型、UL/CSA),12AAH791(公制型、欧盟),12AAH792(公制型、BS),12AAH796(公制型、中国),12AAH797(公制型、EK),12AAH793(英制型、UL/CSA),12AAH794(英制型、欧盟),12AAH795(英制型、BS),12AAH798(英制型、中国) 型号 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 货号*(100V-120V) 218-561-1 218-562-1 218-563-1 218-564-1 货号*(200V-240V) 218-561-2 218-562-2 218-563-2 218-564-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 型号 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 货号*(100V-120V) 218-581-1 218-582-1 218-583-1 218-584-1 货号*(200V-240V) 218-581-2 218-582-2 218-583-2 218-584-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主机) 250kg 250kg 250kg 250kg *根据不同的交流电源电压及测量装置，可选不同的选件套装：12AAH800(公制型、UL/CSA),12AAH801(公制型、欧盟),12AAH802(公制型、BS),12AAH806(公制型、中国),12AAH807(公制型、EK),12AAH803(英制型、UL/CSA),12AAH804(英制型、欧盟),12AAH805(英制型、BS),12AAH808(英制型、中国) Contracer Extreme (超级轮廓测量仪) CV-3000CNC / CV-4000CNC 218 系列 CNC 轮廓测量仪 特点 高精度CNC 轮廓／形状测量装置。 X1, (Y) 和Z2 的驱动速度都高达200mm/s，确保实现高速定位，从而大大提高了多轮廓测量和多工件测量任务的速度。 带有轴的型号，可以通过电动旋转X1 轴连续测量水平面和倾斜面。CV- 4000CNC 系列的驱动装置集成了Laser Hologage 检测器，可以在Z 轴(垂直方向)的窄／宽范围内实现高精度和高分辨率测量。 带有Y 轴的工作台的型号可以沿着Y 轴进行多种工件定位，从而扩大了多工件测量范围。 可以通过同时控制X, Y 两轴，对斜面进行测量。 Z1 轴检测器集成了防碰撞安全装置，当主机和工件或夹具碰撞时，检测器将自动停止。 提供易于操作的遥控箱，用户可以通过这两个操纵杆选择合适的轴进行移动。在按键上标有易于理解的图形显示轴的选择状态。 通过USB 与数据处理／分析装置(选件) 进行信息交换 技术参数 X1 轴 测量范围: 200mm 分辨率: 0.05μm 检测方法: 反射型线性编码器 驱动速度: 最大 200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操纵杆) 测量速度: 0.02 - 2mm/s 移动方向: 向前／向后 直线度: 2μm/200mm * 当X 轴在水平方向上 指示精度: ±(1+4L/200)μm,(20° C 时) * L 为驱动长度(mm) ??轴 倾斜角度: -45° 至 +10° 分辨率: 0.000225° 旋转速度: 1rpm Z2 轴(立柱) 垂直行程: 300mm 或 500mm 分辨率: 0.05μm 检测方法: 反射型线性编码器 驱动速度: 最大200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操纵杆) Z1 轴 (检测器) 测量范围: ±25mm 分辨率: 0.2μm (CV-3000CNC), 0.05μm (CV-4000CNC) 检测方法: 线性编码器(CV-3000CNC), 激光全息测微计 (CV-40100CNC) 指示精度: ± (2+I4HI/100)μm (CV-3000CNC) (20° C 时) ± (0.8+I0.5HI/25)μm (CV-4000CNC) *H 为水平位置上的测量高度 (mm) 测针上／下运作: 弧形运动 测针方向: 向上／向下 测力: 30mN 跟踪角度: 向上： 70°、向下：70° (根据表面粗糙度，使用标准单切面测针) 测针针尖 半径：25μm、硬质合金针尖 基座尺寸(W x H): 750 x 600mm 基座材料: 花岗岩 重量: 240kg, 250kg (高立柱类型) 电源: 100 240VAC ±10%, 50/60Hz 能耗: 400W (仅限主机) 订货信息 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 货号*(100V-120V) 218-521-1 218-522-1 218-523-1 218-524-1 货号*(200V-240V) 218-521-2 218-522-2 218-523-2 218-524-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 重量(主机) 240kg 241kg 242kg 243kg

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【产品名称】 日本三丰CV-3100/4100轮廓仪 轮廓测量仪CV-3100/4100系列 ContracerCV-3100/4100为高精度轮廓测量仪，通用行业领域中，它率先在Z轴上安装了数显标 技术参数： （CV4100系列特别安装了高精度激光全息摄影光栅尺）。有效保证了全部测量范围内的高分辨率和高精度 产品特点 CV-3100ContracerZ轴检测装置中的数显标尺确保了总行程为+25mm时分辨率可高达0.0002mm。 CV-4100系列ContracerZ轴检测装置中的激光全息光栅尺是一种新型的高精度标尺。它基于衍射 光干涉现象设计，有效保证了全部测量范围内高达0.0005mm的分辨率。 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围，有效提高可操作性。 用于FORMPAKR-1000轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统，便于测量。 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。 垂直测壁为标准配置，可用于20mm测量探针（996506）和单边切割测量探针（354884）。 主机型号 CV-3100S4 CV-3100H4 CV-3100W4 CV-3100S8 CV-3100H8 CV-3100W8 主机型号 CV-4100S4 CV-4100H4 CV-4100W4 CV-4100S8 CV-4100H8 CV-4100W8 测量范围 X轴 100mm 200mm Z轴（检测器） ±25mm Z2轴（立柱）移动量 300mm 500mm 500mm 300mm 500mm 500mm X轴倾斜范围 ±45° 标尺 X轴 光栅尺 Z1轴（检测器） 光栅尺（CV-3100系列），激光全息光栅尺（CV-4100系列） Z2轴（立柱） ABS光栅尺 分辨率 X轴 0.05цm Z1轴（检测器） 0.2цm（CV-3100系列），0.05цm（CV-4100系列） Z2轴（立柱） 1цm 驱动速度 X轴 0-80mm/s和手动 Z2轴（立柱） 0-20mm/s和手动 测量速度 0.02-5mm/s 直线度（X轴在水平方向上） 0.8цm/100mm 2цm/200mm 指示精度（20℃时）CV-3100系列 X轴 ±（1+0.01L） цm L=驱动长度（mm） 宽范围：2цm/100mm 窄范围：1.25цm/25mm ±（1+0.02L） цm L=驱动长度（mm） 宽范围：5цm/200mm 窄范围：1.5цm/25mm Z1轴（检测器） ±（2+14H/100） цm H:水平位置上的测量高度（mm） 指示精度（20℃时）CV-4100系列 X轴 ±（0.8+0.01L） цm L=驱动长度（mm） 宽范围：1.8цm/100mm 窄范围：1.05цm/25mm ±（0.8+0.02L） цm L=驱动长度（mm） 宽范围：4.8цm/200mm 窄范围：1.3цm/25mm Z1轴（检测器） ±（0.8+10.5Hl/25） цm H:水平位置上的测量高度（mm） 探针上/下动作 弧形运动 测量方向 向前/向后 探针方向 向上/向下 测力 30mN 跟踪角度 上升：77°，下降：87°（根据表面粗糙度使用标准单切面探针） 探针针尖（标准附件） 针尖半径：25цm，硬质合金头 基座尺寸（宽×深） 600×450mm 1000×450mm 600×450mm 1000×450mm 基座材料 花岗岩 外部尺寸（宽×深×高） 主机 756×482× 966mm 756×482× 1166mm 1156×482× 1176mm 766×482× 966mm 766×482× 1166mm 1166×482× 1176mm 控制箱 221×344×490mm 遥控箱 248×102×62.2mm 重量 主机 140kg 150kg 220kg 140kg 150kg 220kg 控制箱 14kg 遥控箱 0.9kg 工作温度范围 15℃至25℃（校正和测量时段内，温差不超过±1℃） 工作湿度范围 20-80%RH（无凝结状态） 保存温度范围 -10℃至50℃ 保存湿度范围 5-90%RH（无凝结状态） 电源规格 100-120V，200-240V±10%，AC50/60HZ 电源消耗（仅主机）

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【产品名称】 日本三丰CV-1000/CV-2000轮廓仪 特点 大幅度提高了驱动速度 (X 轴：80mm/s, Z2 轴：20mm/s)，近一步降低了总测量时间。为了在一定时段内维持仪器的直线度规格，三丰公司采用了具有极佳的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。大量的外周设备选件支持 CNC 模式，从 而可以很容易实现 CNC 测量。驱动装置 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器 (Z2 轴为 ABS 型)，从而提 高了在垂直方向持续自动测量小孔和不易定位工件的重复精度。 技术参数： X1轴 测量范围： 50mm(CV-1000)或100mm(CV-2000) 分辨率： 0.2μm 检测方法： 反射型线性编码器 驱动速度： 0.2，0.5mm/s 测量方向： 向后 直线度： 3.5μm/50mm(CV-1000), 3.5μm/100mm(CV-2000), 以X轴为不平方向向上 指示精度：±（3.5+2L/100）μm L=驱动长度（mm） 倾斜角度： ±45度（CV-2000） Z2轴（立柱，仅用于CV-2000） 立柱类型： 电动（S4型）和手动（M4型） 垂直移动： 250mm（S4型）,320mm（M4型） 驱动速度 1-5mm/s外加手动 Z1轴（检测器） 测量范围： 25mm（CV-1000）或40mm(CV-2000) 分辨率： 0.4μm（CV-1000）或0.5μm（CV-2000） 检测方法：弧形编码器 指示精度： ±（3.5+14HI/25）μm 20度时： H为水平位置上的测量高度（mm） 测针上/下运作： 弧形运动 测针方向： 向下 测力： 10-30mN 测针针尖： 半径：25μm，硬质合金针尖 基座尺寸（Wx H）: 650x450mm(CV-2000) 基座材料： 花岗岩（CV-2000） 重量： 5Kg（CV-1000N2），115.8Kg(CV-2000M4),124Kg(CV-2000S4) 电源： 100-240VAC±10%，50/60HZ

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可对固体反応過程进行方便分析。包括，各種有機、無機化合物的相变化；融解、結晶化、脱水及其它化学反応的变化。 2. 可对熱分析中测试困难的，如物相转换及化学变化过程中，生成物的有無、最終生成物結晶性的確認，进行测量。 3. 可在X線衍射测量的同时，测量化学変化的温度、吸熱/放热的区別及热量。 4. 选件包括，低温、水蒸汽气氛装置。

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1. Thermo Plus EVO是理学集团公司新生产的热分析仪。 2. 差动TG-DTA，采用水平差动三重线圈天枰，将漂移导致的各种变动，在瞬间沿同一方向校正、消除。进一步提高热重变化的测量精度(理学专利技术)。 3. 样品架更换采用插拔方式，更换方便，用户自己可以换(其他厂家需要电焊方式，需要厂家工程师服务)。 4. 放样品时，仅打开样品支架的样品放置部分，操作方便、安心；由于是水平差动型，即使样品从样品架中脱落，也不会引起仪器故障。 5. 因采用小型电炉,可以100℃/min的高速升温；有强制高速冷却功能，可在20分内1500℃→50℃。效率高。 6. 理学独特的动态TG(样品控制热重分析)测量方法：阶梯状等温控制(SIA)法、动态温度控制(DRC)法、等反应速度控制(CRC)法

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使用ECO环保省电模式，待机时，关闭不必要的设备，省电30%。 可以通过软件选择ECO模式，也可以直接在面板上选择。 仪器面板上同时显示观察仪器状态的信息。 软件功能强大。可以设置选择：测量条件；各种保护条件；测量结束条件(电源OFF/E 强制冷却等)；自动校正；自动故障诊断；网络上自动升级；完善的数据双备份功能。 操作面板可以转动，Thermo Plus EVO工作站可以放置在狭小的空间。 自动样品交换器ASC可以自由组装，用户可以先不购买，等样品多时再购买；安装简单， 用户可以进行。 高扩展性，可以进行XRD-DSC同时分析。

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P-17是第八代台式探针轮廓仪，是40多年的表面量测经验的结晶。该系统领先业界，支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能，程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法，可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。主要功能·        台阶高度：几纳米至1000μm·        微力恒力控制：0.03至50mg·        样品全直径扫描，无需图像拼接·        视频：500万像素高分辨率彩色摄像机·        圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差·        软件：简单易用的软件界面·        生产能力：通过测序，模式识别和SECS / GEM实现全自动化主要应用·        台阶高度：2D和3D台阶高度·        纹理：2D和3D粗糙度和波纹度·        形状：2D和3D翘曲和形状·        应力：2D和3D薄膜应力·        缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌工业应用·        大学、研究实验室和研究所·        半导体和化合物半导体·        LED：发光二极管·        太阳能·        MEMS：微机电系统·        数据存储·        汽车·        医疗设备·        还有更多：请与我们联系以满足您的要求

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HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪

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Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。

供应商：广东精谱实业有限公司

日本三丰Mitutoyo公司自一九三四年创业以来，以“质量第一”为宗旨，向全球范围的广大市场提供千分尺、卡尺等量具以及三坐标测量机、形状测量系统、视像测量系统及光学仪器等系统精密测量仪，长期以来深受广大用户的喜爱和支持。现今，更有幸作为精密测量仪的综合制造商和世界知名品牌的拥有者向社会作出贡献。

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瑞士Alemnis公司的原位纳米压痕仪适用于扫描电子显微镜（SEM）的原位测量，也可用于同步辐射装置和光学显微镜的常规环境中使用。

供应商：杭州雷迈科技有限公司

通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。

供应商：铂悦仪器（上海）有限公司

探针式轮廓仪新标杆-升级到最you性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领xian地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

供应商：科睿技术发展有限公司

通过无支架导轨模块来完成测量涂层或基底材料的磨耗速率