供应商：优尼康科技有限公司

Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的超大视场范围，同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。

供应商：北京东方德菲仪器有限公司

3D光学轮廓仪S neox 将共聚焦、干涉和多焦面叠加3种测量技术融合于一体，测量头内无运动部件。3D光学轮廓仪S neox 为客户展现全新的3D立体形貌。

供应商：布鲁克纳米表面仪器部

产品介绍：ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界zui高垂直分辨率ji高的可靠性和zui好的测量重复性zui高的表面测量和分析速度zui强的使用性，操作简便，分析功能强大30年技术革新，实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，推出历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界z

供应商：香港电子器材有限公司

产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。　 Ultima活体多光子显微镜应用：• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像，提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质：• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激jing准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的

供应商：优尼康科技有限公司

MicroXAM-800是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪，采用相位扫描干涉技术（PSI）对纳米级特征进行测量，以及采用垂直扫描干涉技术（VSI）对亚微米至毫米级特征进行测量。 MicroXAM-800的程序设置简单灵活，可以进行单次扫描或多点自动测量，适用于研发和生产环境。

供应商：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

ContourX-200 三维光学轮廓仪，灵活的台式表面形貌测量设备

供应商：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要

供应商：上海昊量光电设备有限公司

IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征，在短短几秒钟内可捕获多达200万个数据点。选择正确的光学轮廓仪系统取决于您的应用程序的要求，包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情 TS-X 轮廓测试仪，X轴承载工件，Z轴进行轮廓扫描，数据采集和控制都基于先进的数字技术。机械基础是很高质量的花岗岩使用精确的基本元素不需要我们的系统的后续和复杂的错误补偿。稳定性好，使用寿命长。德国T&S TS-X 轮

供应商：合肥富煌君达高科信息技术有限公司

高速；可靠；高精；易用

供应商：合肥富煌君达高科信息技术有限公司

高速；可靠；高精；易用

供应商：合肥富煌君达高科信息技术有限公司

高速；可靠；高精；易用

供应商：合肥富煌君达高科信息技术有限公司

高效；适用；可靠；测量程序丰富

供应商：合肥富煌君达高科信息技术有限公司

高效；适用；可靠；测量程序丰富

供应商：北京东方德菲仪器有限公司

非接触式3D光学轮廓仪S lynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。S lynx能够测量不同的材质、结构、表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将共聚焦、干涉和多焦面叠加3种测量方式融于一体，确保了其wan美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。

供应商：东莞市广丰计量仪器有限公司

【产品名称】 日本三丰CV-1000/CV-2000轮廓仪 特点 大幅度提高了驱动速度 (X 轴：80mm/s, Z2 轴：20mm/s)，近一步降低了总测量时间。为了在一定时段内维持仪器的直线度规格，三丰公司采用了具有的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。大量的外周设备选件支持 CNC 模式，从 而可以很容易实现 CNC 测量。驱动装置 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器 (Z2 轴为 ABS 型)，从而提 高了在垂

供应商：上海巨纳科技有限公司

产品介绍 μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术，结合CCD的影像摄取，以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞，再将物镜垂直移动，以类似断层摄影方式，可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式，不会破坏样品的表面，不需要在真空环境下测量，也可以用显微镜测量的功能来观测样本，其在严酷的工作环境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在测量渐变较大的高度时，跟其他方法相比，可以更精确量测物体高度，建立3D立体影像，优势相当明显。 NanoFocus μsurf explorer机台功能齐

供应商：上海巨纳科技有限公司

n产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术，结合CCD的影像摄取，以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞，再将物镜垂直移动，以类似断层摄影方式，可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式，不会破坏样品的表面，不需要在真空环境下测量，也可以用显微镜测量的功能来观测样本，其在严酷的工作环境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在测量渐变较大的高度时，跟其他方法相比，可以更精确量测物体高度，建立3D立体影像，优势相当明显。NanoFocus μsurf mobile移动式3D测量系

供应商：上海巨纳科技有限公司

n产品介绍μscan系列机台采用模块化设计，特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化。主要应用于材料表面的三维轮廓测量，粗糙度测量，宽度，高度，角度，半径、粗糙度等二维、三维数据分析。能直接测量较大面积的样品，而不用通过拼接。μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器(Z方向测量)连用，如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic senso

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

产品描述Nano View-2000是经济型机型，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。产品规格干涉物镜：5个物镜可选扫描范围：0-180um（270um，5mm可选）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm倾斜台：±6°Z轴行程：100mm（手动）工作台面：100X100mm（程控)应用领域Nano View系列为LCD（液晶显示器）、IC Package（芯片封装）、Substra

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

产品描述Nano View-3000是高端机型，包括：非接触3D形貌测量，更广的测量范围（5mm可选），自动聚焦功能（可选），拼接和线路纵断面等功能。产品规格干涉物镜：5物镜可选(程控）扫描范围：0-180um（270um，5mm可选）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm横向分辨率：0.2-4um（取决于物镜和FOV）倾斜度：±6°工作平台：NV-P2020 200X200mm（程控）NV-P4050400X500mm（程控）应用领域Nano View系列为LCD（液晶显示器）、IC Pa

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

产品描述NVM-6000P是专用型设备，用于基板表面形貌的测量。基板上的Via Hole，Pad形状，pattem形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。在高速测量下仍具有的重复性和准确性，支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。产品规格扫描范围：0-180um（270um可选）垂直分辨率：WSI：0.5nm台阶高度重复性:0.5%(1σ)横向分辨率：0.2-4um（取决于物镜和FOV）工作台面：510X405mm（程控）尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)应用领域Nano

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点：5cm直径视场（光斑），800μm垂直测量高度，无需拼接即可在短时间内（通常1分钟）完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务！SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪，专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理，操作简单， 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构，便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统，便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑，精度高，测速快，满足不同领域用户的测量需求，广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点： 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度，外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面，轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序，应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点： 通用型 精度

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪，专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单，测量时放置于样品表面；独有的三脚支架结构，方便曲面部件测量；外接笔记本电脑完成数据分析，测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固，轻松应对多种测量环境；测速快，精度高，为工业用户提供zuiyou化的产品表面形

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置，极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜，升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录，更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说，传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此，三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2.

供应商：WinWinTec UG

SmartWLI-Prime双轴三维形貌轮廓仪配备0.1nm高分辨率的小量程Z轴和小于100nm分辨率的大量程Z轴 2015年11月,德国WinWinTec公司再次向市场推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三维相貌轮廓仪，该产品将两种Z轴方向的移动控制模式整合在一起，是两种模式一体化，可以实现两种Z轴移动模式的自由切换，测量范围从nm水平到mm水平，实现纳米分辨率到亚微米分辨率，可测量不同类型的产品，适用于大轮廓形貌到微小形貌的多种应用需求。v产品特点 1．两种Z轴移动控制模式，压电陶瓷马达

供应商：WinWinTec UG

供应商：布鲁克纳米表面仪器部

产品介绍：NPFLEX 三维表面测量系统针对大样品设计的非接触测试分析系统灵活测量大尺寸、特殊角度的样品gao效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据，测试过程迅速gao效NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓

供应商：布鲁克纳米表面仪器部

产品介绍：布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度

供应商：优尼康科技有限公司

Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪

供应商：上海科学仪器有限公司

仪器简介：Dektak8台阶式探针轮廓仪，结构紧凑，可提供很高的重复性和精度。独特的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理，还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak8系统对于MEMS，纳米技术和半导体应用都非常方便。技术参数：台阶高度重复性: 7.5,1σ在1um标准台阶上 最大晶圆尺寸：200mm 最大样品厚度：25.4mm （1 in.) 每次扫描数据点：最多可达60，0

供应商：上海科学仪器有限公司

仪器简介：Wyko NT9300采用了Veeco第九代光学轮廓探测技术，在0.1nm到10mm的垂直扫描范围内提供了快速、高精度的三维表面形貌测量功能，是大范围表面测量、数据缝合以及不规则样品测量的理想设备。专利的双路LED照明源显著提高了光强并延长了光源器件的使用寿命，使操作者的各种测量应用都能获得**效果。无论操作者经验水平如何，XYZ三向可编程控制马达驱动的工作台系统以及Veeco独有的Tip/Tilt倾斜测量装置都使得测量工作变得异常轻松。业内领xian的Wyko Vision软件系统为用户提供了

供应商：上海科学仪器有限公司

仪器简介：Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能，纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了Veeco专利的内部实时激光参考信号进行持续的自校准，减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要，并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领xian的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品，NT9800 具有最高的自动化水平，友好的用户界面，以及业内**的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验

供应商：上海科学仪器有限公司

仪器简介： NT9100光学轮廓仪是一款使用便利、性能卓越，性价比高的非接触无损伤三形貌维测量仪器。Wykozuixin的第九代系统采用独有的双LED照明光源专利技术，能够更好的检测超光滑表面及非常粗糙的表面；它的测量范围可达亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。作为第九代白光干涉仪的桌面机台，NT 9100同样具有大机台才有的优点：简单易用的操作方式、快速数据获取能力、强大的软件功能及埃级的重现性等。同时，可选配的X-Y自动平台，使NT9100具有程序化处理样品的功能。 &