干涉仪

平面平晶光学平面等

有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉 仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针 对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；Kaleo-Multiwave 多 色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试 及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/ 球面波而无需中继镜， 无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。 Kaleo-Multiwave 集成了可切换波长的准直光源，可以对大口径镜片进行直接或对比测量

Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

NIR干涉仪INT 05，这个装置是非常坚固的，永不需调整。 在一个臂上增加一个移动反光镜以完成干涉仪，并允许光路差在零OPD附近变化。坚固的结构和对准的特点，意味着 INT 05 系列干涉仪很适合您更高精度的近红外分析仪的应用。

WMG-1迈克尔逊干涉仪是我公司自主研发的一套实验仪器，通过借鉴传统干涉仪的经典设计，并结合全新的平台式结构精心设计而成的。