在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5) ... 在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5)
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