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大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!!在线等!!!

22335来    2013-01-13    薄膜    浏览 458 次

在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5) ... 在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5)

精彩问答
氵显了找老哥 发布日期:2013-01-14
等厚干涉重要的一个结论是相邻条纹间隔永远是半波长

那么此题6个条纹于是7个间隔,6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter]。

这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔,也就是说在那个暗纹是否算在那六个之内,取6个或者7个都是可以。
全部评论
hetaohrtao0000 发布日期:2013-01-14
两条暗纹之间高度差满足2nΔh=λ,有6条暗纹,高度为h=6Δh=2λ=1100nm
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