“基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量。”去网上查，大家都是这个答案粘来粘去。这个说法前后都不通！！！有没有人能给出一个清晰的解释。谢... “基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量。”去网上查，大家都是这个答案粘来粘去。这个说法前后都不通！！！有没有人能给出一个清晰的解释。谢谢。
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