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X荧光光谱仪如何设置测试镀层厚度

等待不是放弃你    2012-08-12    射线检测仪    浏览 595 次

精彩问答
加视达伞篷 发布日期:2012-08-13
XRF是用来测成分含量的,并不能用来测厚度。而且XRF也不能用来测镀层的,基体影响很大。你说的应该是X光测厚仪,是根据反射回电子通过惰性气体流动产生电流的大小来确定厚度的。
X光测厚是无损检测,多用来在线测量。用的比较普遍的还是金相显微镜
全部评论
j澈浑刊o2 发布日期:2012-08-13
理论上讲X荧光光谱仪是具备测试镀层厚度功能的。因为测镀层首先要有制造商开发的软件支持才可以完成,这种技术也是一项比较复杂的技术,所以并不是每家生产的X荧光光谱仪都可以测的,即便有些厂家可以测,但也不一定能测好。如果你已经购买了仪器,没有厂家的支持,自己是无法设置的。
我司从事此行业20多年,是国内技术比较成熟的生产厂家。
shixiaoqi2017 发布日期:2012-08-13
楼上的是正解,你要表达的应该是X荧光测厚仪,你想测的厚度看要求是什么精度,是不是要用到这么高的精度,只有到纳米级别的才用的到,要是测量到微米的话,只要用普通的涂层测厚仪就可以了,希望能帮到你。
九间楼小麦 发布日期:2012-12-05
涂镀层检测

目的:
检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性
涂/镀层产品来料厚度检验

方法:
截面法(仲裁方法)
X射线荧光膜厚法

依据标准:
截面法:GB/T 6462-2005,ASTM B 487-85(2002), ASTM B748-1990(2010)
X射线荧光膜厚法:ASTM B 568-98,GB/T 16921-2005,ISO 3497

X射线荧光膜厚法的测试结果会存在一定误差,如果追求精确数据,推荐截面法。
23580982640 发布日期:2012-08-13
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
一次可同时分析Z多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,Z薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动
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