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JEOL FE-SEM 采用Z佳光阑角控制镜

捷欧路(北京)科贸有限公司    2020-01-19    扫描电子显微镜    浏览 235 次

       Z新型的场发射扫描电镜JEOL FE-SEM采用了Z佳光阑角控制镜,因此,即使在很大的探针电流下也能获得很小的电子束斑。此外,使用低加速电压进行元素分析,可以减小电子束在样品中的扩展区域,能进行高空间分辨率的微区分析。

image.png

探针电流增大时,通过光阑角控制镜 能获得小的探针直径。

探针电流增大时, 探针直径也变大。

20200119-1221060266.png

低加速电压下减少电子束在样品中的扩展,同时利用大探针电流进行快速分析。

能够在微区进行高空间分辨率的分析

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