简介
为了Z大限度地减少因产品缺陷造成的损失,必须在早期阶段查明原因,采取措施防止问题再次发生。X射线荧光分析仪( ED-XRF)对任何状态的样品,不管是固体、液体还是粉末,都能提供快速、无损的元素分析,可以作为早期查明原因的筛选仪器使用。
ED-XRF
下图是因开裂发生漏水的黄铜管(用于冷却水系统)管路配件,我们利用ED-XRF对裂纹处进行了元素分析。
根据元素分析结果发现Sn、Pb的含量是有差异的。由于裂纹部分的元素分布状态不同于正常部位,就利用EPMA进行了精密分析。
EPMA
EPMA能确认元素的分布状态及组织结构的大小。
利用EPMA进行元素面分布,发现主要成分Cu和Zn的组织结构大小不同
总结
ED-XRF能简便、快速地获得所含元素的信息。此外,根据这些元素信息还可以在早期阶段确定后续的精密分析方法。EPMA的元素面分布,能获得有关元素的分布状态及成份信息,有助于查明故障发生的原因。
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原则上都可以。 ----------- 对轻原子像 C, B 等,更方便的是用俄歇谱。