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使用FT160XRF光谱仪控制银镀层厚度

日立分析仪器    2020-04-27    能散型X射线荧光光谱仪    浏览 332 次

       由于银具有惰性、高导热性和导电性以及相对较低的成本,因此其成为许多镀层应用(从装饰餐具到可穿戴YL设备)的理想选择。本文将介绍三种Z常见的应用、厚度控制的重要性,以及FT160 XRF光谱仪可在哪些方面提供帮助。


装饰镀层

       银的高反光性和迷人外观使其成为珠宝、装饰品和餐具的装饰镀层。其中镀层的均匀性至关重要;覆盖基材的镀层须足够厚且足够均匀,但又需足够薄,以控制成本并确保底层材料的特性不会丢失。


       由于XRF能进行完全无损的分析且不会在表面留下痕迹,因此其是检查装饰镀层厚度的wan美之选。也许主要的挑战是零件的形状和尺寸——从小珠宝到大餐具。FT160旨在处理各种尺寸的样品,并配有多个样品舱选择方案,以容纳更大的样品。


YL器械

       除了具有低成本和惰性之外,银还具有很高的生物相容性,因此银与人体接触时不太可能引起反应。其还能自然抵抗微生物和细菌,将其用于体内植入装置有助于减少术后感染。


       XRF可用于确保均匀一致的银层,并验证表面不存在可能有害的污染物。FT160可容纳各种尺寸的YL设备,并具有高精度电动样品台,可自动测量单件样品上的多个位置,这对快速验证整个YL设备镀层的完整性至关重要。

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电子设备

       浸没银是一种用于电镀电子器件的流行镀层。表面处理可防止下方铜的腐蚀,并为焊接、压接和铝线焊接提供理想的表面。已在IPC-4553规范对此种表面处理加以详细讨论,按照IPC J-STD-003的规定,遵守该准则将实现12个月的表面处理保存期。 


       FT160允许您遵守IPC-4553规范标准,并验证浸银镀层的厚度上限和下限。Z重要之处在于,分析仪内的毛细管聚焦光学系统以及高灵敏度的硅漂移探测器可实现对小于50 µm的特性进行超精密镀层分析。


FT160使高批量分析变得容易

FT160旨在应对电镀供应商的挑战,具有多种支持高质量、大批量生产的特性,例如:

       可容纳各种零件的大型样品舱

       先进的技术为小于50 µm的特性提供极高的分辨率和灵敏度

       符合ISO 3497和ASTM B568测试方法标准

       易于使用,足够坚固,适合苛刻的生产环境

       快速的测量时间和电动样品台可提高产量


       FT160是日立分析仪45年来为支持电镀供应商而开发的一系列仪器中的Z新款。


       若需了解关于FT160如何支持您的生产的更多信息,请联系我司。

 

下载我们新款AR增强现实应用程序亲自观察FT160的实际运行情况。(下载地址:https://hha.hitachi-hightech.com/zh/blogs-events/blogs/2020/02/24/using-the-ft160-to-control-silver-coating-thickness/)




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