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KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个。
※适合新老客户了解学习膜厚仪的使用；加深对产品的理解。
FILMETRICS
同时测量光谱反射和透射对分析光学薄膜来讲是非常重要的。欢迎来到F10-RT独特的境界里。显然这会限制我们只能用透明基底材料， 但这会让我们更准确地测量光学系数 （特别是消光系数）。除五彩缤纷的介电薄膜外我们还会讨论上百纳米厚的金属薄膜。
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Michelle Shi
应用工程师 @KLA Instruments
Michelle Shi 是KLA Instrument Group Filmetrics 光学轮廓仪以及薄膜测量仪的应用工程师。Michelle 于2019年5月加入KLA公司, 担任Filmetrics薄膜测量以及光学轮廓产品的应用，客户支持以及业务开发，主要支持Profilm3D光学轮廓仪以及Filmetrics全系列薄膜测量产品。在加入KLA之前，Michelle在美国俄亥俄大学获得物理学硕士学位并在NASA Ames硅谷研究ZX进行科学研究，以及在高新科技初创企业kaiaTech担任高级工艺工程师负责半导体薄膜材料的研发及新应用。
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如题，超声波探头有一个ZX频率，那这是不是相当于超声波探头等效于一个带通滤波器呢？还有，如果是这样的话，那
老师说电压表并在一个通路中，相当于一个断开的开关，并在断路时，相当于一个大阻值用电器，是真的吗，为什么？
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在淘宝买了一个镜头，产品的标题是F1.2 固定 1/3 4MM 收到货后，镜头上有个标签写着1：1.4 1
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