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邀请函丨赛默飞Ignite Surface Analysis网络研讨会

赛默飞世尔科技分子光谱    2020-10-13    X射线光电子能谱仪    浏览 331 次

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欢迎来自世界各地的表面分析用户加入我们于10月15日16:00举办的Ignite Surface Analysis网络研讨会,本次研讨会将邀请到多位顶 尖表面分析专家,与您分享他们的ZX想法和研究成果,以帮助您控制产品质量、改进失效分析方法,以及实现科研的突破。


随着人们对高性能材料需求的增加,表面分析技术的重要性也随之增加。材料表面是样品和环境发生相互作用的位置,因此,只有了解材料表面或界面处发生的物理和化学相互作用,才能解决与现代材料相关的许多问题,诸如腐蚀速率、催化活性、粘合性能、润湿性、接触电势和失效机理等。表面改性技术可用于改变或改善这些特性,因此,表面分析技术对于了解材料的表面化学性质以及研究表面改性,材料失效机理或开发新器件非常重要。


快来加入我们与专家一起:


1 加深您对表面分析的了解

2 突破生产力和创新的界限

3 学习可靠的实验工具和可复制的解决方案,以简化和加速您的工作流程


此次研讨会还特设“Ask the applications team”圆桌讨论环节。您对如何进行表面分析实验或如何处理数据有疑问吗?您想知道如何为一个复杂的样本建立实验流程吗?千万不要错过向我们的科学家寻求帮助的机会!从XPS分析的基础知识到PCA分析等高级处理,包括ISS、REELS和UPS等相关技术,我们的专家将在研讨会上提供答案!

研讨会日程:北京时间 10月15日

时间
内容报告人
16:00-17:00

Surface Analysis: The Basics 

& Beyond

表面分析技术的基础与进阶

•Tim Nunney,Thermo Fisher Scientific

•Raheleh Azmi,KIT

•Dr Vinod C.Prabhakaran,NCL

17:00-18:00

Multi-technique and Complementary Analysis

多技术联用分析

•Roland Barbosa,Covalent Metrology

•Paul Mack,Thermo Fisher Scientific

•Herman Lemmens,Thermo Fisher Scientific

18:00-19:00

Analysis of Materials for

Advanced Applications

先进应用材料分析

•Damien Aureau,UVSQ

•Robert Palgrave,UCL

•Albert Ge,Thermo Fisher Scientific

19:00-20:00

Applications Q&A/Panel discussion

圆桌讨论环节

Tim Nunney,Paul Mack,Robin Simpson,Hsiang-Han Tseng,Stuart Blackburn,from Thermo Fisher Scientific

报名方式

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报名后请关注邮件通知,系统将自动发送观看方式。

赛默飞XPS系列产品

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现在就注册,在线参与我们的网络研讨会吧!

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