[报告简介]
轻敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技术(也称为PiFM, PTE and PTIR)新检测模式,该技术通过探测AFM微悬臂对样品光-热膨胀的响应信号,实现样品局域红外吸收信号的测量。
我们将现场演示:在10 nm空间分辨率下,对聚合物复合材料的化学组分进行纳米尺度红外成像,以及红外光谱和高光谱测量。
您将了解到neaspec如何实现:
☛ 无机械外力干扰下和无伪影信号的红外吸收谱测量
☛ 样品无损条件下,得到的ZJ数据
☛ 无需实操经验下即可获取高质量信号
[主讲人]
Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士
[报告时间]
2020年10月15日(星期二) 11:00 PM-12:00 PM (CST)
[注册链接]
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