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培训邀请| 全国电镜年会-会前培训开班啦

赛默飞世尔科技分子光谱    2020-11-10       浏览 166 次

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作为科学服务领域的世界ling导者,赛默飞世尓科技感谢每一位用户对我们长期以来的信任与支持,让我们的产品和服务可以有幸助力您的科学实验并取得ZY的科研成果。


为回馈您的一路鼎力相伴,更好地使用赛默飞电子显微镜,协助您的科学研究和技术开发。我们将定于11月21日,“全国电子显微镜学学术年会” 报到当天,在成都举办透射及双束电镜应用免费培训班。我们的应用专家将主导培训和演示,并进行技术指导以及疑难问题的解答。本次培训采取线上线下同步的形式,如果您无法来到现场也无需担心错过培训,线上直播同步进行!


培训安排

时间

2020年11月21日周六

地点

成都新希望高新皇冠假日酒店1楼香樟厅

对象

赛默飞透射或双束电镜用户

费用

本次培训不收培训费,食宿交通需自理

培训日程/内容

11月21日

上午9:30-11:30

原子分辨扫描透射成像及元素分析培训

近年来,扫描透射(STEM)成像技术得到了快速发展。随着高分辨HAADF像的广泛应用,以及iDPC成像技术和原子分辨元素面分析技术等新成像方法的逐渐普及,使得我们可以在原子尺度更全面的分析样品。为了让更多的老师同学们用好这些技术,我们特地举办本次ZT培训。在本次培训中,赛默飞世尔科技的透射电子显微镜ZS应用团队会现场讲解STEM和iDPC成像原理、分享获得高质量HRSTEM图像、原子级EDS Mapping以及iDPC图像的操作要点,同时会在现场进行远程操作演示。并解答常见的问题。

本次培训将使用Talos F200X扫描透射电子显微镜,该型电镜具有同类电镜中领先的 STEM 分辨率,能够获得样品的高质量 STEM 原子分辨像。高灵敏度成像探头,可同时获取质厚衬度像、衍射衬度像以及原子序数像等。Talos F200X还将高分辨率 STEM成像与super-X超级能谱分析结合,在短时间内就能得到样品原子级EDS元素分布图。同时该型电镜配备了独特的iDPC成像技术。该技术实现了轻、重元素原子的高质量同时成像以及低电子剂量下的高质量成像。具有图像易解读,信噪比高的特点。是目前研究轻元素原子掺杂和缺陷、二维材料、分子筛等材料微观结构的热门技术。

下午13:30-15:30

双束电镜制备TEM/in-situ lamella的技术要点、新思路以及自动化

主要内容:  双束电镜的TEM样品制备

双束电镜(DualBeamTM)在样品表征分析领域具有非常广泛的应用,其中的TEM的样品制备一直以来备受关注的。本次的赛默飞电镜(前FEI)会前培训,聚焦双束电镜在TEM样品制备方面的应用,着重讲解样品制备中的一些要点难点。面对越来越多的原位样品制备的需求,一些实用的原位加热、力学等样品制备的方法也会进行讲解。此外,对于一些特殊材料、敏感材料,本报告会介绍一些新的方法与思路以解决相应的难题。几年前,赛默飞在DualBeam上推出的AutoTEM软件帮助用户全自动制备TEM样品,本次报告会介绍AutoTEM软件的设置技巧以及其在自动化方面的ZX进展。

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扫描注册报名

名额有限,现场人数每场限制20人。

赛默飞诚挚地期待各位用户报名参加电镜应用培训班,与我们一同翱翔于电子显微镜的科学天空。



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