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您是否苦于难以从镀层测厚仪中获取可靠有用的数据?

日立分析仪器    2022-03-23       浏览 160 次

据统计,平均 72% 的镀层分析时间浪费在 XRF 仪器设置中。从选择设置和确定样品分析位置,到处理和导出数据以做出决策,XRF 分析过程可能既耗时又令人懊恼。


因此,是时候做出改变了。

4月28日,我们将翻开XRF镀层分析的新篇章,快准备好冲破您和您的数据之间的障碍,把业务驶向快车道。 在这次全 球线上新品发布会中,我们的团队将向您展示:  

  • 如何借助日立的新技术,更快地完成每一次镀层分析

  • 如何将您的分析数据更快付诸实践

  • XRF的未来,还能如何更加智能至简

 


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