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半导体导电型号鉴别仪 型号：DP-STZ-8DP-STZ—8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型 “P”和 “N”的测量仪器,是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器,测量范围广硅材料电阻率从10-4~103Ω•cm,仪器采用高灵敏度放大电路和判别电路，将材料上的微弱信号放大，并用 “P” “N”数码直接显示，仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。用作太阳能多晶材料分选时,采用整流法,对Ω-cm的材料具有声光报警功能,广泛应用于太阳能电池生产的原材料筛选环节,快速GX。主要技术指标：1．  测量范围：硅单晶材料电阻率10-4~103Ω•cm   温差法：10-4~10Ω•cm   整流法：10~103Ω•cm，并对Ω•cm的材料具有声光报警功能。2．  可测量材料：半导体硅棒和硅片，

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。 对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2使用方法：1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。导电型号检测仪 型号：KDK-STY-24、测量电阻率较高的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。 对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。使用方法：1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。4、测量电阻率较高的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提高仪器的测量灵敏度。5、在P型、N型显示不稳定时，...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-1KDK-STY—1型产品是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω·cm高阻单晶到10-4Ω·cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。二、技术性能1、可判别锗、硅材料的电阻率范围：   锗：非本征锗～10-4Ω·cm   硅：104～10-4Ω·cm   实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。2、热电流测量范围：0～±1μA   分六个量程：±3nA、±10nA、±...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。 对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。使用方法：1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。4、测量电阻率较高的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提高仪器的测量灵敏度。5、在P型、N型显示不稳定时，...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-3KDK-STY—3型产品是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计指示型号方向。仪器灵敏度分高、低两档，可判别大部分非本征半导体材料型号（从高阻单晶到重掺单晶）。二、技术性能1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：锗：非本征锗103～10?4Ω·cm硅：10+4～10-4Ω·cm经国内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制3、显示方式：...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。 对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。使用方法：1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。4、测量电阻率较高的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提高仪器的测量灵敏度。5、在P型、N型显示不稳定时，...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-3KDK-STY—3型产品是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计指示型号方向。仪器灵敏度分高、低两档，可判别大部分非本征半导体材料型号（从高阻单晶到重掺单晶）。二、技术性能1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：锗：非本征锗103～10?4Ω·cm硅：10+4～10-4Ω·cm经国内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制3、显示方式：...

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产品 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-1KDK-STY—1型产品是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω·cm高阻单晶到10-4Ω·cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。二、技术性能1、可判别锗、硅材料的电阻率范围：   锗：非本征锗～10-4Ω·cm   硅：104～10-4Ω·cm   实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。2、热电流测量范围：0～±1μA   分六个量程：±3nA、±10nA、±...

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【简单介绍】本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。【详细说明】产品 导电型号检测仪 型号：DP-STY-2本仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。使用方法：1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P...