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- 型号: XR-306
- 产地:广东省
- 供应商:科迪仪器苏州有限公司
SEA5100采用Si Li半导体检测器,使之测量分辨率大大提高,弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不足,配备有小型准直器,不仅可以进行元素分析,也可测量镀层厚度,与薄膜FP法配合使用时,可以不使用标准样品,就可以进行元素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面,采用检量线法和FP法,测量数据与Word和Excel链接,自动生成报告和数据处理,2个准直器可自动切换,工作台3维电动,可编程进行自动测量利用微小的X射线束流来进行微小的异物分析虽然从微小的异物得到的信号量不随照射异物的X射线束流大小而改变,但是从底材得到信号随着束流的减小而减小,相对来说,从异物得到的信号跟底材的比增强。于是,微小的X射线束流在进行微小的异物和样品时,发挥着重要的作用。方便简单的多点分析和成像利用多彩的扫描方法,自动的测量样品的表面,简单明
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XR-806 X射线荧光能谱仪
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是否提供加工定制是品Pai惠美仪器 型号XR-806光源详见参数 波长范围详见参数(nm) 焦距详见参数(mm) 外形尺寸550(W)×450(D)×450(H)(mm) 重量60000(g) 适用范围详见参数 一、 XR-806 X产品是集成了当今世界X射线荧光能谱分析领域领先的技术和公司科技人员深厚的理论基础、丰富的实践经验,为应对欧盟 RoHS指令量身定做的一款快速分析仪器,经过实践中的不断完善,性能完全可以满足电子行业检测限用物质的要求。整机结构合理、紧凑,每个部件都经过精心的选择和设计,经久耐用,性能可靠,是电子行业成功应对欧盟RoHS指令和《ZG电子信息产品污染物管理办法》的利器。技术规格² 检测塑胶类样品和轻质金属材料中的Pb、Cd、Hg、总Br和总Cr检出限可以达到5ppm。² 检测Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊锡中的Pb、Cr等成份...
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ARL QUANT'X 美国Thermo Scientific X-射线荧光能谱仪
- 型号: ARL QUANT'X
- 产地:江苏 无锡市
品PaiThermo Scientific型号ARL QUANT'X 类型多元素分析仪器测试范围F-U元素 测量时间10-60秒测量精度1PPM 电源电压220(V\HZ) 适用范围微量元素成份分析 美国Thermo Scientific ARL QUANT'X X-产品: 能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的高级分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件...
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X射线荧光能谱仪
- 型号: ARL QUANT''X
- 产地:瑞士
超大Si(Li) 晶体,具有极高的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒 全数字脉冲处理器技术,死时间达60%, 以及优异的峰背比 高级FP无标样分析软件,进行无标样分析,减少对标样的依赖性 高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行 超大样品室,可容纳300mm400mm的样品 全自动校准,自动监测,自动报警系统,完全计算机控制 镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术ARL QUANT''X 应用 气溶胶颗粒滤膜 应对RoHS & WEEE 指令分析 刑侦以及痕量分析 营养添加剂 磁性磁性介质和半导体
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super2400 X射线荧光能谱仪
- 品牌:天瑞仪器
- 型号: super2400
- 产地:江苏
产品介绍X产品 SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。 技术指标 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率 可对10个样品进行自动切换测试 一次可同时分析多几十种元素 分析检出限可达0.1ppm分析含量一般为0.1ppm到99.9% 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回收程序 温度适应范围为15℃至30℃ 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 性能特点 特殊光路系统 采用特殊的光路系统,可满...
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X射线荧光能谱仪
产品介绍 SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。 技术指标 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率 可对10个样品进行自动切换测试 一次可同时分析多几十种元素 分析检出限可达0.1ppm分析含量一般为0.1ppm到99.9% 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回收程序 温度适应范围为15℃至30℃ 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 性能特点 特殊光路系统 采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量
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微聚焦X射线荧光能谱仪
微聚焦X产品仪器简介: 微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域,以获得的空间分辨率,进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。测定镀层样品厚度及成分 采用X射线荧光技术的M4可以分析薄镀层样品,如印刷电路板、金属或塑料件,包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法,可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品进一步提高定量分析的准确性 RoHS检测 测量一个PCB样品。u安苏的面分布图显示了下列元素的分布情况:Br(绿色)、Cu(红色)、Au(黄色)、Pb(白色)和Sn(粉红色)图像的原始大小:250×75像素测量时间:0.15s/像素 微聚焦X产品主要特点: M4 TORNADO采用...
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美国热电-ARL QUANT'X型X射线荧光能谱仪
ARL QUANT'X型X产品产地:美国热电简介:能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能 出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的高级分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件和全套软件现场、协同方法开发完整的技术应用支持汇集了数百种应用的专业知识 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 无标和半无标分析基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法多层厚度及成分不限元素、不限数量的标样利...
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M4 TORNADO X射线荧光能谱仪M4 TORNADO
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- 型号: M4 TORNADO
仪器简介: 微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首xuan方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域,以获得极jia的空间分辨率,进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。测定镀层样品厚度及成分 采用X射线荧光技术的M4可以分析薄镀层样品,如印刷电路板、金属或塑料件,包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法,可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品进一步提高定量分析的准确性RoHS检测 测量一个PCB样品。u安苏的面分布图显示了下列元素的分布情况:Br(绿色)、Cu(红色)、Au(黄色)、Pb(白色)和Sn(粉红色)图像的原始大小:250×75像素测量时间:0.15s/像素 主要特点: M4 TORNADO采用了全新的技术,为各种用户提供