供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

产品/少子寿命测试仪　型号：DP-100ADP-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。      寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。      读数方式：数字直读。

供应商：北京润恒奥仪器仪表设备有限公司

产品/少子寿命测试仪　型号：RHA-100ARHA-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。 寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式：数字直读。北京润恒奥仪器仪表设备有限公司：：： ：周经理QQ: 102919149网址：www.bjrunhengao. www.rha51296004 ,com

供应商：北京西润斯仪器仪表有限公司

新款产品/少子寿命测试仪　型号：XRS-100AXRS-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式：数字直读。北京西润斯仪器仪表有限公司：：：邮箱：2844817949@qq.com网址：www.bjxrs.com.cn

供应商：北京奥德盛世科技有限公司

产品/少子寿命测试仪的　型号：SS-100ASS-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。 寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式：数字直读。北京奥德盛世科技有限公司： ：：：周先生邮箱：2119087137@qq.comQ Q: 2119087137网址：http://aodeshengshi. www.51294569...

供应商：北京亚欧德鹏科技发展有限公司

产品/少子寿命测试仪 型号：DP-100BDP-100B型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于硅块少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式：数字直读。

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

产品/少子寿命测试仪 型号：DP-100BDP-100B型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于硅块少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式：数字直读。

供应商：北京奥德盛世科技有限公司

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供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

产品/少子寿命测试仪　型号：DP-100ADP-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。      寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。      读数方式：数字直读。

供应商：北京恒奥德科技有限公司

产品/少子寿命测试仪 厂家 型号：HAD-100AHAD-100A型产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。      寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。      读数方式：数字直读。  北京恒奥德科技有限公司  电  话：/51666869/                                                         ...

供应商：北京百万电子科技有限公司

 产品介绍：本仪器配置特殊数字存储示波器，软件依照寿命测量基本原理编写，采用了国际标准（MF28 及MF1535）中推荐的几种读数方法。数字示波器具有存储功能，应用平均采样方式，平均次数可选4、16、32、64、128、256 次，随平均次数的增加随机噪声被减小，波形更稳定、清晰。产品是参照半导体设备和材料国际组织SEMI 标准MF1535-0707 及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm 以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。技术指标：寿命测量范围：0.25μs～10ms；电阻率下限：≥0.5Ω·cm，尚未发现电阻率测量上...