供应商：贝士德仪器科技(北京)有限公司

贝士德公司在在国内取得7项磷酸铁锂产品相关,为国内以多项取得09年新标准的北京科技园区高新技术企业资质,是通过ISO9001国际质量体系认证的生产性企业；为动态色谱法比表面仪Z高精度的创造者与保持者；是静态容量法吸附仪先进性和智能化的代表；可用于电池材料比表面积分析,催化剂材料比表面积测试,炭黑总表面积及外表面积测定等,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.我公司自行研发生产的3H-2000系列全自动氮吸附比表面积测试仪，为国内知名品Pai，2000年进入市场，经过多年的不断研发创新，性能达到国内领先，国际先进水平，其中多项性能指标超越进口仪器，是国内高精度比表面仪的典范.我公司多年以来一直承担ZG科学院理化所、化学所、北航、北理工等科研单位的的比表面积测试工作并受到信赖和好评。仪器先进的技术和稳定的性能及良好的售后服务，使得我们产品在客户中享有很高...

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3H-2000BET-A型二氧化硅产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5...

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3H-2000BET-A型三元材料产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5...

供应商：贝士德仪器科技(北京)有限公司

贝士德公司在在国内取得7项煤炭氮吸附比表面测试仪关,为国内以多项取得09年新标准的北京科技园区高新技术企业资质,是通过ISO9001国际质量体系认证的生产性企业；为动态色谱法比表面仪Z高精度的创造者与保持者；是静态容量法吸附仪先进性和智能化的代表；可用于电池材料比表面积分析,催化剂材料比表面积测试,炭黑总表面积及外表面积测定等,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.我公司自行研发生产的3H-2000系列全自动氮吸附比表面积测试仪，为国内知名品Pai，2000年进入市场，经过多年的不断研发创新，性能达到国内领先，国际先进水平，其中多项性能指标超越进口仪器，是国内高精度比表面仪的典范.我公司多年以来一直承担ZG科学院理化所、化学所、北航、北理工等科研单位的的比表面积测试工作并受到信赖和好评。仪器先进的技术和稳定的性能及良好的售后服务，使得我们产品在客户中享有很高的声誉

供应商：贝士德仪器科技(北京)有限公司

3H-2000BET-A型钛酸锂产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5分...

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3H-2000BET-A型碳化硅产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5分...

供应商：贝士德仪器科技(北京)有限公司

钴酸锂材料的干燥过程传统技术采用热风烘干技术，但是其干燥周期长，效率低，干燥均匀性不好等问题，微波干燥技术的出现及时的解决了这个问题，其干燥时间极短，几分钟就可玩完成干燥过程，干燥均匀性好，用电节能环保。详情请见参考资料。 3H-2000BET-A型钴酸锂产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉...

供应商：贝士德仪器科技(北京)有限公司

3H-2000BET-A型石墨产品性能参数:测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法(计算外比表面仪积)、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广,可测定比表面仪积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面仪积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5分钟...

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3H-2000BET-A型锰酸锂产品特点简介：吹扫处理： 具有国内一体式脱气装置(非分体式)，解决了脱气、测试一体化问题，实现了试样原位处理，只需一次安装，与空气零接触，保证了样品预处理的GX性与有效性；风热助脱： 具有国内程控风热助脱装置，保证得到尖锐快速的脱附峰，减少背景误差；定量管程控切换： 具有国内程控六通阀标定系统，动作周期小于10毫秒；并且定量管体积程控切换；检测器零漂YZ： 具有国内检测器恒温系统，使检测器10min的漂移试小于0.1mV,保证测试结果的准确性与稳定性；浓度色谱法检测： 具有国内色谱法氮气分压检测系统，相对流量法精度提高10倍，使氮气浓度控制精度和检测精度均达到万分之一，高稳定性；粒度模型估算： 具有国内粒度模型估算数据处理功能，并给出粒度估算报告；此功能能够根据比表面仪积给出各个模型下的平均粒度，对研究者判断颗粒形态起到指导作用；气体净化冷阱：...

供应商：北京金埃谱科技有限公司

测试方法:BET法比表面(多点及单点)检测,Langmuir比表面检测,炭黑外比表面积检测,平均粒径估算,直接对比法比表面检测,氮吸附连续流动法,样品吸附常数C测定测试功能:F-Sorb智能化测试模式,无人干预全自动测试,消除人为操作误差,提高测试精度测量范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)流量调节:F-Sorb功能,实现不同P/Po点流量软件控制自动调节,无需人工手动调节流量定量标定:F-Sorb型定量气路由软件控制,按需自动切换脱附,无需人工手动操控定量开关,提高定量标定精度控制系统:独有的集中的多功能控制系统,能实现测试过程的完全自动化及智能化,测试期间无需任何人工干预,仪器自动执行测试样品数量:可同时进行4个样品的吸附或脱附测定,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命测试