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- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NANOMAP 500LS
- 供应商:北京亿诚恒达科技有限公司
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology
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ST400型产品是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显微镜模块,光学显微镜,特征区域定位等多种功能模块。产品特性采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单,样品无需特殊处理Z方向,测量范围大:为27mm主要技术参数扫描范围:150mm×150mm(可选600mm*600mm)扫描步...
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ST400型三维表面形貌仪
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PS50型三维表面形貌仪
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FP-profilier 三维表面形貌仪
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这款产品是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。产品根据国际标准计算2D和3D参数,使用Z新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠Z新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力。产品创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm...
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三维表面形貌仪
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产品是一款便携式表面形貌测量仪,采用国际ling先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器的测量探头可以任意旋转,适合精密测量 不可移动样品表面形貌,同时适合进行野外测试。产品产品特性: 1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…); 4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5,不受样品反射率的影响 6,不受环境光的影响 7,测量简单,样品无需特殊处理 8,Z方向,测量范围大:为27mm技术参数: 1,扫描范围:25×25(mm...
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产品简介: PS50型产品是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性:1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5,不受样品反射率的影响6,不受环境光的影响7,测量简单,样品无需特殊处理8,Z方向,测量范围大:为27mm主要技术参数:1,扫描范围:50×50(mm)2, 扫描步长:0.1μm3,扫描速度:20mm/s4, Z方向测量范...
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Talysurf CLI 2000 三维表面形貌仪(Talysurf CLI 2000)
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