供应商：笃挚仪器（上海）有限公司

产品CMI153 CMI153小型紧凑、坚固耐用、用途广泛，可单手操作并配有皮带夹，该CMI153?设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用。无需对操作人员进行培训即可操作，因为CMI153具有一键操作功能，无需校准，也不用重设即可进行下一次测量。 仪器出厂前已校准完毕，只需进行快捷的基体校正归零即可测量不同金属基板。CMI153不仅产品优质，而且经济实惠。 ※双功能技术特色：基于磁感应和电涡流测量技术的自动选择钢铁及有色金属底材上的涂层厚度※CMI153以大获成功的CMI150架构为基础，通过增强操作性能及出色的底材灵敏度，改进了测量探头。※CMI153适用于多种配置，可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的非磁性涂层。  为以下行业提供理想的解决方案：油漆和粉末涂料制造商、涂层检测机构、电镀厂、涂料销售商、汽车及航空制造业产品应用： ※自动检测钢铁或有色金属底材，以及自动选...

供应商：深圳谱赛斯科技有限公司

大型产品Maxxi5外形尺寸达到长×宽×高  700×770×700mm；可满足非常大型的产品测量要求，大型产品Maxxi5仪器特点为：测量元素范围：钛Ti22--铀U92，镀层：Z多同时测定5层（4层镀层+基体材料）成分：Z多同时测定20种元素，测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin，可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析，进行贵金属检测，如Au karat评价，材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析，强大数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、Z大值、Z小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图大型产品Maxxi5可选配半导体探测器，元素分析更加JZ25mm2半导体（Si-Pin）探测器、Peltier电制冷能量分辨率270 eV单准直器Ф0.3、Ф0.4、Ф0.5、0...

供应商：深圳谱赛斯科技有限公司

产品Maxxi5外形尺寸达到长×宽×高  700×770×700mm；可满足非常大型的产品测量要求，产品Maxxi5仪器特点为：测量元素范围：钛Ti22--铀U92，镀层：Z多同时测定5层（4层镀层+基体材料）成分：Z多同时测定20种元素，测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin，可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析，进行贵金属检测，如Au karat评价，材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析，强大数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、Z大值、Z小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图产品Maxxi5可选配半导体探测器，元素分析更加JZ25mm2半导体（Si-Pin）探测器、Peltier电制冷能量分辨率270 eV单准直器Ф0.3、Ф0.4、Ф0.5、0.2×0.5...

供应商：深圳谱赛斯科技有限公司

 产品厂家经典款膜厚仪CMI900射线源参数介绍：空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器系统单准直器组件多准直器自动控制组件：Z多可同时装配6种规格的准直器经典款膜厚仪CMI900多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，Z小测量斑点尺寸为：0.078...

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产品价格 经典款膜厚仪CMI900射线源参数介绍：空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器系统单准直器组件多准直器自动控制组件：Z多可同时装配6种规格的准直器经典款膜厚仪CMI900多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，Z小测量斑点尺寸为：0.078...

供应商：深圳谱赛斯科技有限公司

 经典款膜厚仪CMI900射线源参数介绍：产品空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器系统  产品单准直器组件多准直器自动控制组件：Z多可同时装配6种规格的准直器经典款膜厚仪CMI900多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，Z小测量斑点尺寸为：...

供应商：深圳市维创兴电子科技有限公司

产品CMI900维修，PCB膜厚仪维修，膜厚仪镀层标准片，镀层厚度标准片 凡事积之十年，则可成一学者。这话用在深圳市维创兴电子科技有限公司的工程师身上，并不为过。自进入线路板检测设备领域算起，深圳维创兴科技工程师团队已拥有10余年牛津镀层测厚仪CMI900镀层测厚仪以及CMI仪器、配件维修及销售经验，为国内数十家客户提供产品CMI900维修，PCB镀层厚度测试仪的校正，更换配件及维修服务。公司有多名CMI900维修维护及CMI仪器的服务工程师，可以在24小时内响应客户的仪器维修维护难题。 产品CMI900维修，PCB镀层厚度测试仪，CMI900校正维修，更换光管，购置镀层标准片，膜厚仪标准片当然选深圳维创兴科技！实力不俗，价格合理！ X荧光镀层测厚仪CMI900 /X-Strata 920 利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。 CMI9...

供应商：深圳市鼎极天电子有限公司

   大型英国产品是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度，同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。大型英国产品代理商现货供应运用领域：   广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 。大型英国产品代理商现货供应产品特性：--测厚仪精度高、稳定性好--强大的数据统计、处理功能--232接口，可连接打印机或电脑--可选配90度直角探头--带有扫描测量模式--测量范围宽--NIST认证的标准片大型英国产品代理商现货供应技术参数:适用标准：磁感应遵守astm b499 & b530；din 50981；iso 2...

供应商：深圳市鼎极天电子有限公司

二手产品应用行业：PCB、FPC、LED支架和封装、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。 二手产品特点：测量范围广，测量元素为钛Ti22--铀U92间各元素；同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；进行非接触、非破坏弟量散X射线荧光（EDXRF）分析，进行无损测量；测量时间短，测量时间约10秒，快速得出测量结果；测量精度高，结果精确到微英寸；测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档；测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、；二手产品结果输出:测量数据报告可直接打印、导出到PDF文件、Excel文件，为质量管理保留宝贵的原始资料测量数据报告可包含：测量数据、测量点图像、统计分析图表、客户公司标志和相关信息、自定义的报告模板（系统预置模板、含用...

供应商：深圳市鼎极天电子有限公司

英国产品应用行业：PCB、FPC、LED支架和封装、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。本公司英国产品价格优惠，欢迎广大新老客户前来咨询选购！英国产品特点：测量范围广，测量元素为钛Ti22--铀U92间各元素；同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；进行非接触、非破坏弟量散X射线荧光（EDXRF）分析，进行无损测量；测量时间短，测量时间约10秒，快速得出测量结果；测量精度高，结果精确到微英寸；测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档；测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、；英国产品测量技术：  一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的”升离效应“导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都...