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- 型号: DT306-HT-648
- 产地:中国大陆
- 供应商:北京百万电子科技有限公司
利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。 利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。利用计算机采集和处理80K—450K温度范围内的霍尔系数和电导率。 利用计算机采集和处理80K—45
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产品 型号:ZH10226 产品简介: 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 www.centrwin.com www.ghitest.com
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LK-HT-648 变温霍尔效应实验仪
- 型号: LK-HT-648
- 产地:北京
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LK-HT-648 变温霍尔效应实验仪
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产品 型号:LK-HT-648霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 主要技术指标1.电磁铁 0-300mT连续可调2. 励磁电源 0-连续可调 可自动换向 稳定性﹤±0.1%3. 数字特斯拉计 0-2000mT 三位半数字显示 分辨率0.0014. 恒流源输出 1mA 稳定性±0.1%5. 数据采集系统霍尔电压测量Z小分辨率1uV6. 温度变化测量范围 80-400K7. 整套仪器由电磁铁系统、电源控制系统机箱、测量系统...
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产品 型号:MLHT-648货号:ZH10226产品简介: 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
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DP-HT-648 变温霍尔效应实验仪
- 型号: DP-HT-648
- 产地:北京
产品 型号:DP-HT-648霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 主要技术指标1.电磁铁 0-300mT连续可调2. 励磁电源 0-连续可调 可自动换向 稳定性﹤±0.1%3. 数字特斯拉计 0-2000mT 三位半数字显示 分辨率0.0014. 恒流源输出 1mA 稳定性±0.1%5. 数据采集系统霍尔电压测量Z小分辨率1uV6. 温度变化测量范围 80-400K7. 整套仪器由电磁铁系统、电源控制系统机箱、测量系统主机、恒温器四部分组成8. 探头样品采用单晶锗片
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- 型号: DP-HT-648
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RHA-LK-HT-648 变温霍尔效应实验仪
- 型号: RHA-LK-HT-648
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仪器简介: 产品用于半导体的霍尔系数与电导率的测量。由安装了样品的变温设备,自动换向磁场,测、控温系统,数据采集、传输和处理系统以及计算机软件组成。技术参数:1、变温范围:77K~400K2、温度测量分辨率:0.5K3、励磁电源电流调节范围:0~6A4、磁场调节范围:0~400mT5、霍尔电压分辨率:1uV6、提供霍尔样品的电流:1mA特 点:1、系统软件能够自动完成霍尔系数和电导率的测量、控制、记录及数据处理全过程2、测量系统线路采用单片机设计,内有WATCHDOG电路,具有高可靠性及高抗干扰性能3、采用低漂移前置放大器和高分辨率高速采集芯片北京西润斯仪器仪表有限公司:::邮箱:2844817949@qq.com网址:www.bjxrs.com.cn