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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：HAIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器设计

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：HAIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪  型号：LDX-IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的

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  MJLD型吸收率和法向发射率测量装置 产品介绍        MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内*，填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。 产品技术

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1.类型双波段发射率测试仪品Pai恒奥德型号H9892测量范围见资料（MΩ）双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：H9892双波段发射率测试仪、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：SHIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器设

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【简单介绍】双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率【详细说明】双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-HAIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到

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【简单介绍】双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。【详细说明】双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：