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- 型号: UX-720镀层测厚仪
- 产地:深圳市南山区科技园高新北区意中利科技园2栋
- 供应商:深圳市华唯计量技术开发有限公司
镀层测厚仪产品指标:测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层镀层测厚仪测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷 探测器分辨率:145eV高压范围:0-50Kv,50WX光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用3种自动切换;CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:0.5mm?1mm,?2mm,?4mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义样品腔:330×360×100mm国产镀层测厚仪厂家直销胡
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产品说明:ET-1型微电脑多功能电解测厚仪是一代的金属镀层电解测厚仪,该仪器是根据电化学中的库仑定理(Q=nF)与现代微电脑技术结合的产物,具有结构先进,性能稳定可靠,功能齐全的特点。对多数非合金型金属镀层厚度的测定适用,是国际标准中首推的一种镀层测厚方法一库仑法类仪器。使用本仪器可以保障用户单位的产品质量,防止原材料的能源的浪费。利用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的电镀工艺,是有关成品厂及电镀厂必备的仪器。技术参数(一)测量品种范围:镍(0);铬(1);铜(2);锌(3);镉(4);锡(5);银(6);金(7)。其它镀层可定制。(二)测量厚度范围:0.03~999μm(三)准确度:±8% +1个字(四)复现精度: