供应商：深圳市谱赛斯科技有限公司

牛津仪器行业技术引领者，供应镀层测厚仪、行业老品Pai牛津仪器行业技术引领 者，牛津仪器1959年创建于英国牛津，是英国伦敦证交所的上市公司，生产分析仪器、半导体设备、超导磁体、超低温设备等高技术产品。在五十多年的高速发展过程中，牛津仪器公司凭借自身的科研优势，以超前的技术、出色的管理和独树一帜的产品和服务为的科技发展作出了巨大的贡献。牛津仪器现已成为世界有 名的科学仪器领域的跨国集团公司，拥有遍布的生产基地、销售和服务网络，客户遍及一百多个国家和地区。 迎中秋庆国庆，特此进行镀层测厚仪器优惠促销活动涵盖镀层、电子元器件、半导体、电路板、线路板、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、 装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品等多个行业表面镀层厚度测量及材料分析，低成本 高 2 效率。质谱仪和色谱仪，镀层测厚仪、孔铜测厚仪、 金相切片研磨机、元素分析仪、投影仪、周边耗材、原子吸收等等。 回馈新

供应商：深圳市谱赛斯科技有限公司

在ZG制造业蓬勃发展的背景下，品Pai价值日益成为影响企业在市场上能否获得竞争优势的重要因素。因此，积极推进品Pai战略、提升品Pai价值，无疑是ZG制造业持续发展的关键。行业注重品Pai，品Pai铸就品质。产品精心研发一款X-Strata920镀层测厚仪，仪器行业的领先者专业为电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品等多行业企业解决表面镀层厚度的测量及材料分析等问题。以品Pai规范行业，以质量得以领先，同类行家多，不同企业多，竞争压力大，在面对种种压力下企业应该如何才能树立起自己的品Pai，大家都知道品质是企业的生命，抓品质建品Pai。牛津仪器X-Strata920镀层测厚仪，采用先进50瓦微聚焦X射线管，垂直下照式X射线光学系统，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析...

供应商：深圳市方源仪器有限公司

0-38um牛津仪器膜厚仪CMI243测厚仪 深圳市方源仪器有限公司总代理产品测厚仪CMI系列产品0-38um牛津仪器膜厚仪CMI243测厚仪，0-38um牛津仪器膜厚仪CMI243测厚仪配置的单探头ECP-M可测量铁质底材上几乎所有金属镀层一即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。  0-38um牛津仪器膜厚仪CMI243测厚仪常见的测试参数测量范围：铁上镀层参数        测量镀层范围    铁上镀锌            0-38um/0-1.5mi1铁上镀镉            0-38um/0-1.5mi1铁上镀铬            0-38um/0-1.5mi1铁上镀铜            0-10um/0-1.5mi1 产品型号：CMI243产品品Pai：产品Oxfo...

供应商：深圳市方源仪器有限公司

牛津仪器原装线路板孔铜面铜测厚仪膜厚仪 牛津仪器原装线路板孔铜面铜测厚仪膜厚仪，台式专用铜厚测试仪CMI760有三种不同类型探头，多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。  ETP孔铜探头测试技术参数：可测试Z小孔直径：35 mils (899 μm) 测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定 准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下） 分辨率：0.01 mils (0.1μm)  牛津仪器仪器部（OICM）,提供范围内的支持和服务网络.和我们的所有产品一样，在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。对于完整解决方案、相关配件及耗材现都...

供应商：深圳市方源仪器有限公司

牛津仪器孔铜测厚仪CMI511膜厚仪 牛津仪器孔铜测厚仪CMI511膜厚仪能够完全胜任对双层或多层电路板的测量，甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量。CMI系列独有的温度补偿特性使其能够在电镀过程中进行厚度测量，从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样，CMI511在售前和售后都能够得到牛津仪器优质服务的保证。   规格：测量技术:电涡流Z小孔径:899um(35 mils )可测厚度范围:2-102um（0.08一4.0 mils ）键区:10个数字键，16个功能键显示:1/2"  (12.7 mm)高亮液晶显示屏数据读取:以千分之一寸(英制)或微米(公制)直接读取单位转换:一键即可自动转换分辨率:0.01 mils (.25um)精确度:1 .01 mil (.25um)1 mil (25umm)存储量:2000条读数...

供应商：深圳市方源仪器有限公司

牛津仪器孔内镀铜测厚仪膜厚仪 牛津仪器孔内镀铜测厚仪膜厚仪用于侵蚀工序前、后，测量孔内镀层厚度。独特的设计使CMI511能够完全胜任对双层或多层电路板的测量，甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量,由深圳市方源仪器有限公司总代理！ 牛津仪器产品质量保证：牛津仪器测厚仪器部（OICM）作为牛津仪器分析仪器部的一个组成部分，提供范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样，CM511在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。对于金属镀层测厚的完整解决方案、相关配件及耗材现都可在http://www.szfyyq。。ｃｏｍ上快速获取范围的优质产品与 规格:测量技术:电涡流Z小孔径:35 mils (899um)可测厚度范围:0.08一4.0 mils (2-102um)键区:10个数字键，16个功能键显示:1/2"  (12.7 mm)高亮液晶显示屏数据读取:以千分之一寸(英制)或微米(公制)直接