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半导体产品综合实验系统 产品综合实验仪 型号:HAD-F-LDBP3090808nm半导体激光器特性测量808nm半导体激光器电光特性:绘制电光曲线,确定阈值电流和增益斜率。测量半导体激光光谱随温度变化的关系:改变激光器温度,通过光谱仪测量输出激光波长变化。(选做)LD端面泵浦YAG激光器模式匹配技术:观察泵浦激光光斑与1064nm激光输出功率的关系。波长匹配:改变808nm激光器波长,观察1064nm激光输出功率的改变。YAG激光器输入-输出效率曲线:改变808nm激光输出功率,测量1064nm激光输出功率大小,绘制输入-输出功率曲线,并确定阈值功率。倍频技术激光器横模的观察。532nm激光输出功率与泵浦功率的关系。角度匹配。将KTP晶体放入YAG谐振腔中,旋转KTP晶体,观察532nm激光功率的变化情况,找到KTP晶体的匹配角度。选做内容调Q技术:将调Q材料放入YA...
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