半导体器件 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-21 09:34:12半导体器件: 半导体器件是电子器件中的基础元件，主要由半导体材料制成，具有独特的电学性质。它们在现代电子设备中发挥着关键作用，如二极管可用于整流或开关，晶体管则能放大电信号或作为电子开关。半导体器件广泛应用于计算机、通信、消费电子等领域，是实现电路功能的核心部件。通过控制半导体内部的载流子运动，这些器件能够执行各种复杂的电子功能，是现代电子技术和信息技术发展的基石。

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预算98万元华中科技大学采购半导体器件参数分析仪

华中科技大学半导体器件参数分析仪招标项目的潜在投标人应在网络获取招标文件，并于2025年09月12日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。

ABC123 98
2025-08-25
半导体器件参数分析仪
预算150万元复旦大学采购纤维半导体器件成像测试仪

复旦大学纤维半导体器件成像测试仪采购招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统（网址：https://cz.fudan.edu.cn）获取招标文件，并于2025年07月07日 10点00分（

ABC123 71
2025-06-17
纤维半导体器件成像测试仪
预算150万元东南大学集成电路学院采购半导体器件脉冲电压电流测试系统

东南大学集成电路学院半导体器件脉冲电压电流测试系统采购项目招标项目的潜在投标人应在江苏省南京市鼓楼区郑和中路118号D座12楼1203室（https://www.jstcc.cn/）获取招标文件，并

 ABC123 104
2025-08-04
半导体器件脉冲电压电流测试系统
领拓聚焦 | 2025光电子与半导体器件前沿技术研讨会

为了促进我国光电子与半导体领域高速、高质量建设和发展，4月18-20日，2025 光电子与半导体器件前沿技术研讨会在成都顺利召开。

广州领拓贸易有限公司 201
2025-05-07
半导体材料 2025光电子与半导体器件前沿技术研讨会制样设备
领拓聚焦 | 第十七届中国高端SMT学术会议暨半导体器件封装与微电子组装工艺技术论坛

9月13日，第十七届中国高端SMT学术会议暨半导体器件封装与微电子组装工艺技术论坛在成都武侯渝江皇冠假日酒店成功举办。

广州领拓贸易有限公司 114
2024-09-23
金相制样金相磨抛机半导体器件封装与微电子组装

半导体器件文章

半导体器件分析仪 Agilent B1500A 供应

半导体器件分析仪 Agilent B1500A 供应

 东莞市旺贸通仪器仪表有限公司 84
2025-03-05
半导体器件分析仪
功率半导体器件静态参数指标有哪些？

通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。这些测试中最基本的测试就是静态参数测试。静态参数主要是指本身固有的，与其工作条件无关的相关参数。静态参数测试又叫稳态或者DC（直流）状态

 武汉普赛斯仪表有限公司 213
2025-05-19
功率半导体静态测试静态参数测试功率器件静态参数
普赛斯半导体器件特性分析仪测试参数P300B特点

普赛斯（PSS）作为仪器测试领域的知名品牌，其推出的P300B型号半导体器件特性分析仪，在技术参数和功能方面具备诸多优势，适用于多种测试需求。本篇文章将详细介绍P300B的特点、参数配置，以及它如何在实验室和工业应用中提供高效的测试解决方案。

武汉普赛斯仪表有限公司 24
2025-12-11
功率半导体器件IGBT测试难点及常见测试指标有哪些？

IGBT是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱lGBT的测试包括静态参数测试、动态参数测试、功率循环、HTRB可靠性测试等,这些测试中蕞基本的测试就是静态参数测试

 武汉普赛斯仪表有限公司 163
2025-07-04
IGBT测试难点 IGBT测试指标 IGBT静态测试
Moku:Delta开放样机试用！助力加速半导体器件测试验证流程

半导体IC测试与验证的复杂性不断增加。Moku一台设备可完成信号生成、测试分析和控制调节，15+仪器功能，全方位应对复杂的测试需求。Moku支持多DUT并行测试，降低成本，易于维护，加速IC测试验证流程，开放免费样机申请，最新市场活动更新。

上海昊量光电设备有限公司 57
2025-10-10

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半导体器件问答

2023-01-10 13:42:12应用分享丨Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOₓ成分半导体器件: 01前言近几年来，随着国内科技产业的不断升级，对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展，比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等，对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长，这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中，通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理，来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪（XPS）是一种表面分析技术，随着商业化XPS设备的普及，其在微电子器件研究中的应用越来越广泛，逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。本文将通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2，对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试，展示如何通过设备小束斑+成像功能，快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况，来辅助评估表面处理效果及器件质量。02样品情况、测试方案及测试设备样品如下图1所示，为表面喷金形成的金箔，对金箔进行处理，中间形成了窄条形的SnOx成分，尺寸约22um（宽）╳193um（长），需要确定SnOx具体成分及其是否在金箔中有扩散，来辅助评估器件质量及表面处理效果。图1 SnOx成分半导体器件示意图由于形成SnOx成分区域的尺寸较小，测试时采用小束斑XPS测试+SnapMap快照成像解决方案：小束斑XPS测试：采用10um束斑，直接聚焦到窄条形区域，可快速得到样品表面元素及其化学态信息，辅助确定SnOx具体成分。SnapMap快照成像测试：Nexsa G2成像速度快，可快速得到样品表面元素及其化学态在面内分布信息，辅助评估SnOx成分分布及其扩散情况。样品采用赛默飞Nexsa 系列最新表面分析平台Nexsa G2进行测试。Nexsa G2是一款自动化程度高、小束斑性能优异；同时，也可实现多技术联用的高性能、高效率表面分析平台。设备特色的SnapMap快照成像功能，成像测试速度快，可实现高效成像分析。设备如下图2所示。图2 赛默飞Nexsa G2 XPS产品03SnOx成分半导体器件小束斑XPS+SnapMap快照成像测试结果分析3.1SnOx成分半器件小束斑XPS测试结果分析由于形成SnOx成分区域的尺寸较小，为快速分析此区域表面元素及化学态信息，采用小束斑（10μm），直接聚焦到样品窄条形区域进行测试，SnOx成分区域表面XPS测试数据如下图3所示：图3 SnOx成分区域表面小束斑XPS测试谱图及定量结果由上图SnOx成分区域常规XPS数据，可得到如下信息：由O1s谱图，可看到此区域表面氧元素表现出不同化学态，主要为C-O/C=O污染成分和Sn-O成分。比较氧元素中Sn-O成分和氧化态锡元素相对含量，可看到：原子百分比（At%）：Sn(Oxide):O(Sn-O)≈1:2，可判断SnOx成分主要为SnO2。此区域表面含较多Au元素。此区域表面含较多C元素，可判断表面有一定程度污染。3.2SnOx成分半导体器件SnapMap快照成像测试结果分析为分析形成SnOx成分的分布及扩散情况，采用小束斑（10um），选择Sn/Au/O元素进行SnapMap快照成像，成像区域大小：250μm╳250μm。元素成像图如下图4所示（成像图颜色以热图模式显示）。图4 Au/Sn元素成像图及叠加图由上成像图，可快速得到Au/Sn元素在面内分布情况。颜色越亮，表示对应成分含量越多：分析Au/Sn元素成像谱图，可直观看到Au、Sn元素在面内分布区域互补。分析Au/Sn元素成像谱图叠加，可直观看到Au、Sn两元素在面内分布情况；同时，可快速判断形成的SnOx成分没有出现明显扩散情况。此外，对Au/Sn/O元素成像图进行了进一步处理。在成像谱图中，选10um╳10um的小尺寸区域，直接聚焦到Au/Sn元素分布特征区域回溯成谱，将成像图转化成XPS谱图，可快速分析不同区域元素及化学态差异，辅助进一步确认SnOx成分及其扩散情况。Au/Sn/O元素成像图不同区域回溯成谱，如下图5所示。图5 Au/Sn/O元素成像图不同位置回溯成谱由上图，分析Au/Sn/O元素成像图不同位置回溯成的XPS谱图，可直观看到：SnOx成分区域表面检出明显Sn元素信号；同时，此区域也含有一定量Au元素。由Au/Sn/O元素不同化学态含量表格，可看到Sn(Oxide):O(Sn-O)≈1:2，进一步确定SnOx区域成分为SnO2。Au元素区域表面未检出Sn信号，说明SnOx成分在此区域没有出现明显扩散情况。为进一步判断SnOx成分在与Au分布区域交界处是否存在扩散情况，对Sn元素成像图进行线扫描处理，将成像图转化成Sn元素计数率随距离变化图，如下图6所示。图6 Sn元素成像图线扫描由上图Sn元素线扫描图，可直观看到SnOx成分在Au/Sn交界处也没有出现明显扩散情况。说明对Au箔处理后，处理效果好，形成SnOx成分的窄条形区域质量好。04 小结本文通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2对金箔表面处理形成SnOx成分的小条形区域进行小束斑XPS+SnapMap快照成像测试，得到了丰富的样品信息。小束斑XPS测试：Nexsa G2，可实现束斑大小10~400um连续可调，小束斑下也具有极佳测试灵敏度，保证测试谱图质量。对于这类特殊小尺寸样品，直接选择小束斑，聚焦到小尺寸区域，可快速得到样品表面元素及其化学态信息。通过这些信息，可辅助快速判断样品表面处理形成的SnOx成分为SnO2。SnapMap快照成像测试：Nexsa G2特色SnapMap快照成像功能，可实现高效成像测试，快速得到不同元素及化学态在面内分布信息。通过分析Au/Sn/O元素成像图，可进一步确定SnOx成分为SnO2；同时，可确定SnOx成分没有出现扩散情况，说明样品表面处理效果较好，形成SnOx成分的窄条形区域质量好。

2020-10-15 11:24:37吉时利源表在半导体器件C-V特性测量的应用: 电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构，C-V 测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。C-V测试方法进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般这类测量中使用的交流信号频率在10KHz 到10MHz 之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描，扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流，从而计算出不同电压下的电容值。C-V测试系统LCR表与待测件连接图MOS电容的C-V测试系统主要由源表、LCR 表、探针台和上位机软件组成。LCR 表支持的测量频率范围在 0.1Hz~30MHz。源表(SMU) 负责提供可调直流电压偏置，通过偏置夹具盒CT8001 加载在待测件上。以PCA1000LCR表和吉时利2450源表组成的C-V 测试系统为例，可以满足精确测量的要求：吉时利2450系统级应用优势吉时利2450型触摸屏数字源表是一款集I—V特性测试、曲线追踪仪和半导体分析仪功能于一体的低成本数字源表。吉时利2450丰富的功能也让它非常适合集成到自动测试系统中：●嵌入式测试脚本处理器 (TSP)：它将完整的测度程序加载到仪器的非易失性存储器，无需依赖外部PC控制器，产能更高。●TSP-Link通信总线：支持测试系统扩展，实现多台2450仪器和其他基于TSP技术仪器的系统拓展，拓展的测试系统最多可连接32台2450，在一台主仪器的TSP控制下进行多点或多通道并行测试。●兼容的2400工作模式：除了2450 SCPI工作模式， 2450还支持2400 SCPI工作模式，并兼容现有的2400 SCPI程序。这保护了用户的软件投资，避免仪器升级换代所带来测试软件的转换工作。●PC连接和自动化：后面板三同轴电缆连接端口、仪器通信接口（GPIB、USB 2.0和LXI/Ethernet）、D型9针数字I/O端口（用于内部/外部触发信号及机械臂控制）、仪器安全互锁装置及TSP-Link连接端口简化多仪器测试系统的集成。安泰测试作为泰克吉时利长期合作伙伴，专业提供设备选型和测试方案的提供，为西安多家企业和院校提供吉时利源表现场演示，并获得客户的高度认可，如果您想了解吉时利源表更多应用方案，欢迎访问安泰测试网。

2020-03-17 09:39:36半导体器件金键合引线的横截面: 本文描述了对半导体器件里金键合引线与电极（铝焊盘）界面结合缺陷的观察和分析。截面抛光仪（CP)对金键合引线界面横截面进行抛光。使用JEOL的横截面抛光仪（简称CP）对样品进行横截面抛光，CP是一种利用氩离子束轰击样品表面的从而得到无应力破坏的平滑横截面的扫描电镜制样设备。可加工各种软硬复合材料与传统机械抛光相比，不会产生加工痕迹和扭曲变形。下图是金线和铝焊盘交界处的背散射电子成分像，可清晰地观察到通道衬度和晶体的晶粒尺寸。 X-Ray谱图显示了金线和电极焊盘交界处元素的空间分布。按照从上而下的顺序, ① 金键合引线的Au层部分，可见通道衬度 ② 金属间化合物(IMC)层Au-Al合金层 ③ Al电极 ④SiO2 层和 ⑤ Si 基板。我们知道IMC层的成型及厚度取决于键合后热处理的温度和时间，热处理的工艺甚至可能会导致界面IMC层出现剥离。通过利用CP和SEM，可直接检测横截面方向IMC层的厚度及浓度，因此可用于半导体器件产品的质量管理和成品率监控。

2019-09-06 13:43:11吉时利半导体器件C-V特性测试方案: C-V测试要求测试设备满足宽频率范围的需求，同时连线简单，系统易于搭建，并具备系统补偿功能，以补偿系统寄生电容引入的误差。在CV特性测试方案中，同时集成了美国吉时利公司源表（SMU）和合作伙伴针对CV测试设计的专用精密LCR分析仪。源表SMU可以输出正负电压，电压输出分辨率高达500nV。同时配备的多款LCR表和 CT8001 直流偏置夹具，可以覆盖 100Hz~ 1MHz 频率和正负200V电压范围内的测试范围。★包含C-V（电容-电压），C-T（电容-时间），C-F （电容-频率）等多项测试测试功能，C-V测试可同时支持测试四条不同频率下的曲线★提供外置直流偏压盒，偏压支持到正负200V，频率范围 100Hz - 1MHz。测试功能：频率-电容扫描测试MOS器件二氧化硅层厚度、衬底掺杂浓度等参数的计算MOS电容的 C-V 特性测试方案系统主要由源表、LCR 表、探针台和上位机软件组成。 LCR 表支持的测量频率范围在0.1Hz~ 30MHz。源表 (SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过偏置夹具盒 CT8001加载在待测件上。下表中参数以 PCA1000 LCR 表和 2450 源表组成的 C-V测试系统为例：

2025-04-21 12:45:20氦质谱检漏仪在半导体设备的运用主要是什么？: 随着半导体制造工艺向更精密化、集成化方向发展，设备气密性检测已成为保障芯片良率与可靠性的核心环节。氦质谱检漏仪凭借其超高灵敏度和精准定位能力，正成为半导体行业不可或缺的质量守护者。本文将从技术原理、应用场景、经济效益等维度，深度解析该技术在半导体领域的革新价值。一、技术原理：磁场中的离子轨迹解码微观泄漏氦质谱检漏仪基于质谱学原理，通过电离室将氦气分子电离为带正电的氦离子，利用磁场中不同质荷比离子的偏转半径差异实现精准分离。当加速电压与磁场强度固定时，特定质量的氦离子将沿预定轨道抵达接收极，形成可量化信号。采用逆扩散检漏技术时，氦气分子可逆着分子泵气流方向进入质谱室，在避免电离室污染的同时实现10-12 Pa·m³/s量级的极限检测灵敏度。相较于传统水检法或压差法，该技术检测精度提升百万倍，且具备无损检测特性。二、半导体设备的极致密封要求半导体制造装备对气密性的要求近乎苛刻：内衬部件需承受1.33×10-8 Pa的超高真空，加热器在200℃高温下的氦测漏率需低于5×10-6 mbar·L/s，而晶圆反应腔体的静态泄漏率必须控制在0.001 ml/min以下。任何微米级泄漏都将导致真空失效、工艺气体污染或晶圆特性劣化。例如，极紫外光刻机的光学系统若存在10-9 Pa·m³/s的泄漏，就会造成镜面污染和光路散射，直接导致芯片良率下降30%以上。三、全产业链渗透：从晶圆制造到封装测试在晶圆制造环节，该技术应用于磁控溅射设备、等离子刻蚀机（ICP/PECVD）等关键设备。某12英寸晶圆厂的离子注入机采用ASM 390检漏仪后，将真空腔体泄漏排查时间从72小时缩短至4小时，设备稼动率提升15%。在封装测试阶段，TO封装器件的氦检漏率需低于1×10-8 Pa·m³/s，通过真空箱法可实现每小时3000颗芯片的全自动检测。典型案例显示，某头部封测企业引入ZQJ-2300系统后，封装不良率从500ppm降至50ppm，年节约返修成本超2000万元。四、经济效益与行业变革据QYResearch数据，中国半导体用氦质谱检漏仪市场规模在2023年突破8.7亿元，年复合增长率达19.3%。设备制造商通过精准检漏可将工艺气体损耗降低40%，同时避免因泄漏导致的设备宕机损失。以5纳米制程产线为例，单台光刻机年度检漏维护成本约120万元，但泄漏事故导致的停产损失高达5000万元/日。行业测算表明，每投入1元检漏设备成本，可产生8.3元的综合效益。五、技术演进：智能化与系统集成新一代设备正融合AI算法与物联网技术，如皖仪科技的iLeak云平台可实现多台检漏仪数据联动分析，泄漏定位精度提升至0.1mm级。Pfeiffer推出的ASM 560系列集成机器学习模块，可自动识别虚警信号，使误报率从5%降至0.3%。行业专家预测，2026年后具备自诊断功能的智能检漏系统将覆盖80%的12英寸晶圆产线。随着3D封装、碳化硅功率器件等新技术普及，氦质谱检漏技术将持续突破物理极限。国内外厂商竞相研发基于量子传感器的第三代检漏仪，目标在2030年前实现10-15 Pa·m³/s的分子级泄漏检测，为半导体制造构筑更坚固的质量防线。

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