2025-01-10 10:53:39TEM/FIB

TEM/FIB分别指的是透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope）和聚焦离子束（Focused Ion Beam）技术的结合。TEM利用高能电子束穿透样品进行成像，具有高分辨率，可观察样品的微观结构。而FIB则通过聚焦的高能离子束对样品进行微纳加工，如切割、雕刻和沉积等。TEM/FIB复合技术结合了两者的优点，既可用于样品的高精度成像分析，又可实现样品的微纳级加工和改性，是材料科学、半导体研究和纳米技术领域的重要分析工具。

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