2025-01-10 10:53:39TEM/FIB

TEM/FIB分别指的是透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope）和聚焦离子束（Focused Ion Beam）技术的结合。TEM利用高能电子束穿透样品进行成像，具有高分辨率，可观察样品的微观结构。而FIB则通过聚焦的高能离子束对样品进行微纳加工，如切割、雕刻和沉积等。TEM/FIB复合技术结合了两者的优点，既可用于样品的高精度成像分析，又可实现样品的微纳级加工和改性，是材料科学、半导体研究和纳米技术领域的重要分析工具。

资源：121个    浏览：10次展开

TEM/FIB相关内容

• 全部
• 产品

TEM/FIB产品

TEM耗材

国内 上海

面议

上海纳腾仪器有限公司

售全国

我要询价 联系方式

新一代高精度极低温铯离子源FIB系统

国外 美洲

面议

QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司

售全国

我要询价 联系方式

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

国外 亚洲

面议

捷欧路（北京）科贸有限公司

售全国

我要询价 联系方式

金属材料透射电镜（TEM）成套制样设备

国内 辽宁

面议

沈阳科晶自动化设备有限公司

售全国

我要询价 联系方式

高强度合金透射电镜TEM样品制备

国内 辽宁

面议

沈阳科晶自动化设备有限公司

售全国

我要询价 联系方式