大面源黑体辐射源 - 产品信息 - 相关知识

2025-02-07 15:53:37大面源黑体辐射源: 大面源黑体辐射源是一种用于产生和模拟黑体辐射的仪器。它具备大面积辐射面，能够发出接近理想黑体的辐射，广泛应用于温度测量、红外探测、热成像系统校准等领域。该辐射源能够提供稳定、均匀的辐射温度，确保测试或校准的准确性和可靠性。其设计精密，能有效模拟真实环境中的热辐射情况，帮助提升相关设备的测量精度和性能。

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大面源黑体辐射源问答

2021-05-11 17:40:33黑体炉黑体辐射源低温黑体中温黑体小面源黑体热成像黑体炉

2021-05-11 17:39:30黑体炉黑体辐射源腔式高温黑体中温黑体高温黑体标准黑体炉

2023-08-30 09:13:57为何称呼为源表？源表是如何四象限工作的？: 为何称呼为源表？“源”为电压源和电流源，“表”为测量表；“源表”即指一种可作为四象限的电压源或电流源提供精确的电压或电流，同时可同步测量电流值或电压值的测量仪表。（恒流源时测电压，恒压源时测电流）数字源表功能：①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。②四象限工作，可作为源或负载四象限工作，可以作为源或负载电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。第一、三象限即电压电流同向，源表对其它设备供电，称为源模式；第二、四象限即电压电流反向，其它设备对源表放电，源表被动吸收流入的电流，且可为电流提供返回路径，称为阱模式。在选择源表时，需要先确认待测DUT的电流电压Z大范围，以此为参照来选择源的输出范围,这个输出范围是指源表对外输出恒定电压电流的功能范围，这里需要注意，由于源表有总功率的限制，其输出不能同时达到电流输出和电压输出的Z大值。源表采用四象限工作模式，当电压、电流均为正时，工作在第一象限;当电压为负、电流为正时，工作在第二象限;当电压、电流均为负时，工作在第三象限;当电压为正、电流为负时，工作在第四象限。以SiC、GaN为代表的第三代半导体材料，具备高禁带宽度、高热导率、高击穿场强、高电子饱和漂移速率等特点，在没有自热效应的情况下测量半导体器件的真实状态至关重要。脉冲表征是自热效应的有效解决方案，通过短时间通电(脉冲)来降低温升对半导体性能的影响，进而得到更真实的数据，实现更快速和更晶准的测量。对于高速数字化或波形采集的应用场景，脉冲测试具有更高的分辨率,可以做到更优的采样性能,在同等带宽下可获得更精确的瞬态特性,是波形捕获和瞬态特性应用的理想选择。功率器件测试HCPL100型高电流脉冲电源

2025-02-27 13:30:14胀破测试仪要接气源吗: 胀破测试仪要接气源吗？在进行胀破测试时，许多用户可能会遇到一个疑问：胀破测试仪是否需要接气源？这个问题直接关系到测试仪器的使用方法及其性能表现，本文将围绕这一问题展开探讨，帮助用户更清楚地了解胀破测试仪的工作原理及其对气源的需求，确保在实际操作中能够获得准确的测试结果。通过本篇文章的解读，您将更好地理解胀破测试仪在不同测试环境中的操作要求，并且确保在使用时不因气源问题影响测试效果。胀破测试仪的基本工作原理胀破测试仪是一种用于测试材料或管道在承受内部压力时，终破裂前的极限压力值的仪器。这类仪器常用于金属管材、塑料管材、橡胶等材料的质量控制和技术检验。其主要作用是评估材料的耐压性能和使用寿命。因此，测试仪的精确性和稳定性至关重要。是否需要接气源？关于是否需要接气源，答案取决于具体的胀破测试仪类型。在传统的胀破测试中，许多测试仪器都需要外部气源作为施加压力的来源。通常，气源通过气泵或压缩空气供应系统连接到测试仪器的气路系统，气体被注入到被测材料内部，通过逐步增加压力直到材料破裂，从而测量破裂所需的大压力值。气源的作用和选择气源的选择对胀破测试仪的测试精度和操作便捷性有着重要影响。大多数现代胀破测试仪可以通过工业气体（如压缩空气）进行操作，部分测试仪器也能够通过氮气等惰性气体进行压力施加，避免与测试物质反应或产生安全隐患。在选择气源时，需要考虑气体的干燥度和洁净度，以避免气源中的水分或杂质对测试结果产生影响。还要确保气源的稳定性和压力范围符合设备要求，以便在测试过程中维持均匀的压力提升。总结大多数胀破测试仪确实需要接入气源来提供施加压力的动力。不过，气源的选择、接入方式以及管理维护都会直接影响测试的准确性和设备的使用寿命。在操作过程中，用户应确保气源充足且符合设备要求，以确保测试的顺利进行并获得精确的结果。因此，了解胀破测试仪是否需要气源以及气源的使用规范，对于测试效果至关重要。

2024-04-17 15:13:45如何用源表精确测量apd管的暗电流？: APD雪崩光电二极管是一种高性能光电探测器，它是一种PN结型光电二极管，具有高增益、高灵敏度和快速响应等特点。广泛应用于光电检测、传感、安检等各个领域。APD雪崩光电二极管的工作原理是基于光电效应和雪崩效应，当光子被吸收时，会产生电子空穴对，空穴向P区移动，电子向N区移动，由于电场的作用，电子与空穴相遇时会产生二次电子，形成雪崩效应，从而使电荷载流子数目增加，电流增大，实现光电转换。在APD的光电特性中，暗电流是一个重要的参数。暗电流是指在没有光照射的情况下，APD中由于热激发等原因导致的电子漂移和电子-空穴对产生而产生的电流，暗电流测试的准确性对于评估APD的性能和稳定性非常重要。在进行APD暗电流测试时，通常面临如下挑战：测试环境影响在进行暗电流测试时，需要确保测试环境中没有光照射，光照会激发APD中的载流子，导致暗电流的增加，从而影响测试结果的准确性。连接电路影响暗电流的测试通常需要提供一个反向偏压，纵观目前的电流表和电流计，都不具备提供偏压的功能，因此必须在电流表的回路中加入电压源。但这样会使测试系统变得复杂，引入更多干扰条件，导致暗电流的测试精度无法保证。目前暗电流测试的最佳工具之一是数字源表（SMU），数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。采用数字源表进行暗电流测试时，需要注意以下事项：三同轴线缆连接APD暗电流测试连接线通常会选择使用低噪声、低电阻的导线，三同轴线缆具有良好的导电性能和抗干扰能力，适合用于传输微弱信号，可以减少测试过程中的干扰和误差。如下图三同轴线缆的半剖图，多层绝缘屏蔽具有良好的抗干扰能力。 (1导体;2绝缘;3内屏蔽层;4中间层;5外屏蔽层;6外护套)屏蔽外部电磁信号干扰测试系统架构图如下图所示，数字源表（SMU）连接到光电二极管上，该光电二极管安放在一个电屏蔽的暗箱中，为了对敏感的电流测量进行屏蔽使其不受外部干扰的影响，通过将屏蔽箱与数字源表（SMU）的低端相连，可以形成一个封闭的金属屏蔽环境，有效地阻止外部电磁干扰信号的进入，保护测试信号的准确性和稳定性。预留充足的测量时间在进行暗电流测试时，需要考虑测试时间的长短。通常情况下，这种现象可能是由于APD内部的一些因素导致的，例如载流子的生成和收集过程。随着测试时间的推移，由于暗电流源的累积或者其他因素的影响，暗电流会逐渐增加至一个稳定的数值。此外，对于测量得到的暗电流数据，需要进行适当的处理和分析，以确保测试结果的准确可靠。下图为普赛斯数字源表（SMU）测试完成后，上位机软件通过数据处理给出的测试结果以及测试曲线。测试结果测试曲线