- 2025-01-10 10:53:49XRF测试薄膜
- XRF（X射线荧光光谱分析）测试薄膜是一种利用X射线激发样品中元素产生特征荧光X射线，从而进行元素定性和定量分析的方法。该技术广泛应用于薄膜材料的成分分析，具有非破坏性、快速、准确等优点。通过XRF测试，可以迅速得知薄膜中元素的种类及含量，对于质量控制、材料研发等领域具有重要意义。测试时，需确保样品制备规范，以提高测试结果的准确性和可靠性。
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